一种3DTEM与3DAP跨尺度表征通用样品台制造技术

本发明专利技术属于纳米材料技术领域，公开了一种3DTEM与3DAP跨尺度表征通用样品台设置有：样品台底座；样品台底座尾端呈矩形，前端呈燕尾形，与后端呈直角，样品台底座尾端开设有圆孔，样品台底座前端焊接有外铜管，外铜管前端套设有内铜管，外铜管和内铜管之间通过摩擦力固定，内铜管前端卡接有三维原子探针针状试样。本发明专利技术设计巧妙，容易拆卸，操作方便，成本较低，样品台可以重复利用，该样品台容易与两种三维原子探针针状样品的制备方法结合起来，制样和电子显微分析有效率地联系了起来，将三维原子探针的化学成分信息与三维透射电子显微镜的微观组织信息充分结合，具有较好的适用性，能够得到更为普遍的应用。

A universal sample table for 3DTEM and 3DAP cross scale characterization

The invention belongs to the field of nanometer material technology, and discloses a universal sample table for cross-scale characterization of 3DTEM and 3DAP, which comprises a sample table base, a rectangular tail end of the sample table, a swallow tail front end and a right angle back end, a circular hole at the tail end of the sample table base, an outer copper tube welded at the front end of the sample table base and a front of the outer copper tube. The end sleeve is provided with an inner copper tube, which is fixed by friction between the outer copper tube and the inner copper tube, and the front end of the inner copper tube is clamped with a three-dimensional atomic probe needle sample. The invention has the advantages of ingenious design, easy disassembly, convenient operation, low cost and reusable sample table. The sample table is easy to be combined with the preparation methods of two kinds of three-dimensional atomic probe needle-like samples, and the sample preparation and electron microscopy analysis are effectively linked. The chemical composition information of the three-dimensional atomic probe is combined with the three-dimensional penetration. The information of the microstructure of the electron microscope is fully combined, which has a good applicability and can be widely used.

【技术实现步骤摘要】
一种3DTEM与3DAP跨尺度表征通用样品台
本专利技术属于纳米材料
，尤其涉及一种3DTEM与3DAP跨尺度表征通用样品台。
技术介绍
目前，业内常用的现有技术是这样的：作为一种较为普遍的电子显微表征手段，透射电子显微镜已在材料科学等领域得到了广泛的应用，当前透射电子显微镜领域主要专注于“原位、三维、高分辨”三个方向上的发展，虽然透射电子显微镜下的三维重构技术可获得材料内缺陷和晶体学取向等信息，但是缺乏元素成分信息，三维原子探针是一种离子三维重构技术，该技术已经在表征材料中元素的偏聚情况方面得到了成功应用，通过软件重构可还原材料的三维原子分布信息，但无法获得样品内的缺陷与晶体学信息。将透射电子显微镜下的三维重构数据与材料中三维尺度下的化学成分信息进行对应，是材料表征的一个新挑战，若能在三维条件下同时获得样品的显微组织与化学成分，可以推动人们对材料的进一步认识。综上所述，现有技术存在的问题是：透射电子显微镜下的材料表征，缺乏三维尺度下精确的元素成分以及分布信息，由于X射线在材料中的扩展影响，普通透射电子显微镜中附带的X射线能量分散谱仪无法提供三维条件下原子尺度的成分信息；另一方本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种3DTEM与3DAP跨尺度表征通用样品台，其特征在于，所述3DTEM与3DAP跨尺度表征通用样品台设置有：样品台底座；样品台底座尾端呈矩形，前端呈燕尾形，与后端呈直角，样品台底座尾端开设有圆孔，样品台底座前端焊接有外铜管，外铜管前端套设有内铜管，外铜管和内铜管之间通过摩擦力固定，内铜管前端卡接有三维原子探针针状试样。

【技术特征摘要】
1.一种3DTEM与3DAP跨尺度表征通用样品台，其特征在于，所述3DTEM与3DAP跨尺度表征通用样品台设置有：样品台底座；样品台底座尾端呈矩形，前端呈燕尾形，与后端呈直角，样品台底座尾端开设有圆孔，样品台底座前端焊接有外铜管，外铜管前端套设有内铜管，外铜管和内铜管之间通过摩擦力固定，内铜管前端卡接有三维原子探针针状试样。2.如权利要求1所述3DTEM与3DAP跨尺度表征通用样品台，其特征在于，外铜管采用氩弧焊与样品台底座焊接在一起，连接处焊接有倒角。3.如权利要求1所述3DTEM与3DAP跨...

【专利技术属性】
技术研发人员：贺琼瑶，朱万全，张玲，黄天林，吴桂林，黄晓旭，
申请(专利权)人：重庆大学，
类型：发明
国别省市：重庆,50