光脉冲检测电路制造技术

本发明专利技术涉及一种旨在连接到光电二极管(2)的用于检测光脉冲的电路，该检测电路包括积分电容器(Cint)、放电装置(13)和适于将积分电容器的端子处的积分电压(Vint)与参考阈值电压(Vseuil)进行比较以产生用于检测光脉冲的信号的比较器装置(12)。参考电压阈值(Vseuil)是取决于光背景噪声水平的自适应阈值。本发明专利技术还涉及一种包括光电二极管和这种检测电路的检测设备。本发明专利技术还涉及一种包括多个这种检测设备的检测矩阵。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】光脉冲检测电路本专利技术涉及用于检测诸如激光脉冲之类的光脉冲的电路的领域。
技术介绍
激光检测矩阵包括多个检测设备，每个检测设备都包括光电二极管和检测电路。检测设备以行和列布置，以形成激光检测矩阵的像素。每个光电二极管将入射光线转换成光电流。每个检测电路通常包括积分电容器，该积分电容器对光电流进行积分达预定的积分周期。跨积分电容器的端子的电压(其与积分周期结束时的光电流成比例)然后被使用以便检测入射光辐射中光脉冲的存在。然而，除了激光脉冲之外，到达每个光电二极管的入射光辐射包括取决于光电二极管的光环境的一定水平的光背景噪声。检测激光脉冲的主要困难之一在于有效地从入射光辐射中提取激光脉冲，即，使由于检测到光背景噪声中包含的干扰信号而导致的误报率最小化而不影响检测激光脉冲的概率。专利技术目的本专利技术的目的是借助于检测电路改进对诸如激光脉冲之类的光脉冲的检测。
技术实现思路
为了实现该目的，提供了一种连接到光电二极管的光脉冲检测电路，该检测电路包括适配成对由光电二极管产生的光电流进行积分的积分电容器，用于使积分电容器放电的放电装置，以及适配成将跨积分电容器的端子的积分电压与参考电压阈值进行比较以产本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种连接到光电二极管(2)的光脉冲检测电路，所述检测电路包括适配成对由所述光电二极管产生的光电流(Ip)进行积分的积分电容器(Cint)，用于使所述积分电容器放电的放电装置(13)，以及适配成将跨所述积分电容器的端子的积分电压(Vint)与参考电压阈值(Vthresh)进行比较以产生光脉冲检测信号的比较器装置(12)，所述电路的特征在于，所述参考电压阈值(Vthresh)是取决于光背景噪声的水平的自适应阈值。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2016.02.18 FR 16002691.一种连接到光电二极管(2)的光脉冲检测电路，所述检测电路包括适配成对由所述光电二极管产生的光电流(Ip)进行积分的积分电容器(Cint)，用于使所述积分电容器放电的放电装置(13)，以及适配成将跨所述积分电容器的端子的积分电压(Vint)与参考电压阈值(Vthresh)进行比较以产生光脉冲检测信号的比较器装置(12)，所述电路的特征在于，所述参考电压阈值(Vthresh)是取决于光背景噪声的水平的自适应阈值。2.如权利要求1所述的检测电路，其特征在于，所述比较器装置包括比较器(17)、用于对所述积分电压进行滤波以获得经滤波的积分电压(Vintf)的连接到所述积分电容器(Cint)的检测低通滤波器(19)、用于将可调电压阈值(Vr)加到所述经滤波的积分电压上以获得所述参考电压阈值的求和电路(18)，所述参考电压阈值被施加到所述比较器(17)的反相输入端并且所述积分电压被施加到所述比较器...

【专利技术属性】
技术研发人员：A·马丁内兹，
申请(专利权)人：赛峰电子与防务公司，
类型：发明
国别省市：法国,FR