The invention relates to a neutron single event effect test control method for SRAM type FPGA, which comprises: S1: setting and calculating multiple control parameters of the device; S2: controlling the device under the constraint condition of completing the combination of multiple control parameters of setting and calculating. The invention clearly specifies the parameter conditions to be controlled in the test and the control methods to constrain the parameters, optimizes and puts forward a complete test process control theory and method, guarantees the correctness of the test results, and lays a foundation for guaranteeing the reliability of the aerospace system in the space environment. The invention also discloses a SRAM type FPGA neutron single event effect test control device.
【技术实现步骤摘要】
SRAM型FPGA中子单粒子效应试验控制方法与装置
本专利技术涉及自动控制
,尤其涉及SRAM型FPGA中子单粒子效应试验控制方法与装置。
技术介绍
目前,为了研究SRAM型FPGA的敏感特性,国内目前用14MeV能量的中子来代替实际空间环境中的中子对SRAM型FPGA进行辐照试验。在试验过程中,如何控制试验参数、约束试验条件,保证试验结果精确性成为进行有效研究的重要前提。目前国内单粒子效应的研究尚属初步阶段,更没有建立完整的试验结果精确性控制体系。因此,从试验参数的确定于控制方法入手,制定了一套试验过程控制理论,可以保证试验结果的正确性,进而为保证航空/航天系统在空间环境中的系统可靠性打下坚实基础。具体地,SRAM型FPGA是机载电子设备的关键核心器件,其工作状态将直接影响所在设备的功能。然而在3km-20km的飞行高度中,在大气中子的作用下,SRAM型FPGA的敏感功能块将会产生单粒子效应,造成软件错误与硬件故障。进一步地,SRAM型FPGA的敏感位有配置位和块存储器灯,在实际的空间环境中,每种敏感功能块都有可能发生单粒子翻转、功能终止等效应。然而在现阶段的模拟实验中,我们只针对设备上的某一个或者某几个的敏感器件上的部分敏感功能块进行辐照试验,并没有全面考虑所有的敏感功能块所能造成的危害;另一方面,在进行辐照试验时,没有对器件总位数B进行严格讨论,没有给出错误数N,累计注量F的控制方法,也没有对试验截止条件Nend,Fend进行理论分析,这些都将导致试验程序的规范性不足,进而影响试验结果的准确性。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是如何从试 ...
【技术保护点】
1.SRAM型FPGA中子单粒子效应试验控制方法,其特征在于,包括具体以下步骤:S1:对器件的多个控制参数进行设置与计算;S2:在完成设置与计算的多个控制参数组合的约束条件下对器件进行控制;其中,所述多个控制参数包括:错误数观测值N、未防护位B、注量率F、器件敏感功能块数i、错误类型数j、试验截止检测错误数Nend以及截止注量Fend;所述错误数观测值N由公式计算获得,所述公式为:N=N0*[错误传递率/(软件用例覆盖率*软件用例测试覆盖率)],其中,N0为初始错误数观测值,所述错误传递率、软件用例覆盖率以及软件用例测试覆盖率均为试验联调联试时的获取值;所述未防护位B由公式计算获得,所述公式为:B=B0*资源利用率*未防护率,其中,B0为真实的配置工作位数,所述资源利用率以及未防护率均为试验联调联试时的获取值;所述注量率F由公式计算获得,所述公式为:
【技术特征摘要】
1.SRAM型FPGA中子单粒子效应试验控制方法,其特征在于,包括具体以下步骤:S1:对器件的多个控制参数进行设置与计算;S2:在完成设置与计算的多个控制参数组合的约束条件下对器件进行控制;其中,所述多个控制参数包括:错误数观测值N、未防护位B、注量率F、器件敏感功能块数i、错误类型数j、试验截止检测错误数Nend以及截止注量Fend;所述错误数观测值N由公式计算获得,所述公式为:N=N0*[错误传递率/(软件用例覆盖率*软件用例测试覆盖率)],其中,N0为初始错误数观测值,所述错误传递率、软件用例覆盖率以及软件用例测试覆盖率均为试验联调联试时的获取值;所述未防护位B由公式计算获得,所述公式为:B=B0*资源利用率*未防护率,其中,B0为真实的配置工作位数,所述资源利用率以及未防护率均为试验联调联试时的获取值;所述注量率F由公式计算获得,所述公式为:其中,F为试验器件接收到的中子累积注量,单位为n/cm2;Netarea为监测到的靶源产生的α粒子数;R为试验器件到靶源的距离,单位为cm;所述试验截止检测错误数Nend以及截止注量Fend的获取具体为:首先,在器件不可重复抽样的情况下,显著水平α=0.05,置信度CL=1-α时,根据置信区间的定义,建立计算模型:再次,将及代入建立计算模型进行整理,得到公式:最终,根据预设表中不同精度的对应值获取所述截止检测错误数Nend以及截止注量Fend。...
【专利技术属性】
技术研发人员:王群勇,梁力,陈冬梅,陈宇,
申请(专利权)人:北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司,
类型:发明
国别省市:北京,11
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。