短支热电偶温度校验炉及短支热电偶的校准方法技术

本发明专利技术涉及短支热电偶，属于短支热电偶检测领域。一种短支热电偶温度校验炉，其特征在于：包括中间设置有凹槽的固体的均温块，固体的均温块的中间凹槽为插入待测短支热电偶的检测区，用于测量均温块温度的控温传感器和温度显示器，所述均温块设置在校验炉的炉膛中心，炉膛四壁周围均匀环绕着加热器，使均温块受热均匀，所述加热器分为上下两段，控温传感器也包括两个，分别设置在接近均温块顶端和接近均温块底部，对底部及炉口温度分别进行监测和控制，两个控温传感器均与温度控制器相连，通过温度控制器和驱动电路分别连接上下两段加热器，温度控制器采用双段温度控制为待测短支热电偶提供均匀有效温场。

【技术实现步骤摘要】
短支热电偶温度校验炉及短支热电偶的校准方法
本专利技术涉及热电偶温度校验炉，尤其涉及短支热电偶的温度校验炉及短支热电偶的校准方法。
技术介绍
在许多行业中需要对温度进行检测与控制。常用的温度计为铂电阻、热电偶温度计,检定/校准时通常使用水浴或油浴等恒温槽作为恒温场，这类恒温槽的温度均匀性较好稳定度高,受外界温度影响小，但这类恒温槽的体积都较庞大,温度稳定时间较长，无法满足现场快速检定或校准的需要。温度校验炉(又称干体炉)产生于船舶行业中温度计的测量和校准,其主要特点是检定设备小，便于携带，升降温速度快，操作简单，具有一定精度的热源，可用于现场温度计和温度系统的校准。由于温度检验炉本身的结构特点，使用温度校验炉校准温度传感器时，校准结果容易受到被校温度计的数量、形状尺寸、测温孔的选配、校准环境以及温度校验炉自身温度特性等因素的影响。在使用温度校验炉校准温度传感器时，校准结果的使用上要考虑上述因素的影响。温度校验炉为了给温度传感器提供较为稳定、均匀的温度测量区，测量区应该具有至少40mm长的均匀温区。当前的温度量值可以通过其温度显示器显示。温度校验炉显示的温度值通常为控温传感器测量的温度本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种短支热电偶温度校验炉，其特征在于：包括中间设置有凹槽的固体的均温块，固体的均温块的中间凹槽为插入待测短支热电偶的检测区，用于测量均温块温度的控温传感器和温度显示器，所述均温块设置在校验炉的炉膛中心，炉膛四壁周围均匀环绕着加热器，使均温块受热均匀，所述加热器分为上下两段，控温传感器也包括两个，分别设置在接近均温块顶端和接近均温块底部，对底部及炉口温度分别进行监测和控制，两个控温传感器均与温度控制器相连，通过温度控制器和驱动电路分别连接上下两段加热器，温度控制器采用双段温度控制为待测短支热电偶提供均匀有效温场。

【技术特征摘要】
1.一种短支热电偶温度校验炉，其特征在于：包括中间设置有凹槽的固体的均温块，固体的均温块的中间凹槽为插入待测短支热电偶的检测区，用于测量均温块温度的控温传感器和温度显示器，所述均温块设置在校验炉的炉膛中心，炉膛四壁周围均匀环绕着加热器，使均温块受热均匀，所述加热器分为上下两段，控温传感器也包括两个，分别设置在接近均温块顶端和接近均温块底部，对底部及炉口温度分别进行监测和控制，两个控温传感器均与温度控制器相连，通过温度控制器和驱动电路分别连接上下两段加热器，温度控制器采用双段温度控制为待测短支热电偶提供均匀有效温场。2.如权利要求1所述的短支热电偶温度校验炉，其特征在于：所述待测短支热电偶在检测区的插入深度大于等于75mm，所述控温传感器采用控温热电偶，上下两个控温传感器之间距离40mm。3.如权利要求1所述的短支热电偶温度校验炉，其特征在于：在所述均温块上部和底部还设置有上部隔热块和底部隔热块。4.如权利要求1或3所述的短支热电偶温度校验炉，其特征在于：所述均温块采用导热系数高的紫铜为材料，均温块上方用炉芯压条固定。5.如权利要求1所述的短支热电偶温度校验炉，其特征在于：在所述均温块和控温传感器外采用刚玉管固定加热器，环绕所述加热器还设置有用于均匀温场的均匀保温部，采用陶瓷纤维包裹环绕加热器。6.如权利要求1所述的短支热电偶温度校验炉，其特征在于：所述均温块中间的插入待测短支热电偶的检测区设置有与待测短支热电偶外径相当的不同孔径的插孔。7.如权利要求1所述的短支热电偶温度校验炉，其特征在于：在炉体底部区域还均匀的布置有加热丝，以控制炉体内均温块的孔...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱晨彬，朱欣赟，钟一峰，姚丽芳，朱毅晨，
申请(专利权)人：上海市计量测试技术研究院，
类型：发明
国别省市：上海,31