一种锻件测量装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及锻造设备技术领域，具体公开了一种锻件测量装置，其包括套筒，还包括：下检测头，其下端面用于抵接待检测的锻件的第一平面；上检测组件，包括上检测头，上检测头的下端面用于抵接锻件的第二平面；上检测头能够沿套筒的轴向运动以靠近或远离下检测头；长度测量仪，当下检测头的下端面与上检测头的下端面沿套筒的轴向的距离为第一预设值时，上检测组件能够触发长度测量仪，长度测量仪用于测量上检测头触发长度测量仪后发生的位移；下检测头、上检测组件及长度测量仪均设置于套筒上。本发明专利技术提供的锻件测量装置只需经过一次测量就可以确定锻件两个平面的间距，测量方法简单，测量效率高。

【技术实现步骤摘要】
一种锻件测量装置
本专利技术涉及锻造设备
，尤其涉及一种锻件测量装置。
技术介绍
为了适时将温锻模锻压出来的锻件取出及进行尺寸测量，需要配备专门的夹取和测量装置。如图1所示的锻件1＇法兰盘的端面为第一平面21＇，盲孔的底壁为第二平面22＇，锻件1＇在锻造前盲孔的底壁与法兰盘的端面的距离为L，即第一平面21＇与第二平面22＇的距离为L，在锻造完成后需要保证该距离L仍然在允许的误差范围内，现有技术中，为了测量距离L是否在允许的误差范围内，首先将锻件1＇取出，然后先测量锻件1＇的端面与第一平面21＇的距离L1，然后再测量盲孔的深度L2，距离L1与深度L2的差值即为距离L。现有技术的缺陷在于，由于距离L的得出需要经过两次测量，两次测量均会产生一定的误差，从而增大了距离L的误差，且测量过程耗时长。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种，以提高测量效率和测量值的准确性。为达此目的，本专利技术采用以下技术方案：一种锻件测量装置，包括套筒，还包括：下检测头，其下端面用于抵接待检测的锻件的第一平面；上检测组件，包括上检测头，所述上检测头的下端面用于抵接所述锻件的第二平面；所述上检测头能够沿所述本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种锻件测量装置，包括套筒(5)，其特征在于，还包括：下检测头(2)，其下端面用于抵接待检测的锻件(1)的第一平面；上检测组件，包括上检测头(31)，所述上检测头(31)的下端面用于抵接所述锻件(1)的第二平面；所述上检测头(31)能够沿所述套筒(5)的轴向运动以靠近或远离所述下检测头(2)；长度测量仪，当所述下检测头(2)的下端面与所述上检测头(31)的下端面沿所述套筒(5)的轴向的距离为第一预设值时，所述上检测组件能够触发所述长度测量仪，所述长度测量仪用于测量所述上检测头(31)触发所述长度测量仪后发生的位移；所述下检测头(2)、所述上检测组件及所述长度测量仪均设置于所述套筒(5)上。

【技术特征摘要】
1.一种锻件测量装置，包括套筒(5)，其特征在于，还包括：下检测头(2)，其下端面用于抵接待检测的锻件(1)的第一平面；上检测组件，包括上检测头(31)，所述上检测头(31)的下端面用于抵接所述锻件(1)的第二平面；所述上检测头(31)能够沿所述套筒(5)的轴向运动以靠近或远离所述下检测头(2)；长度测量仪，当所述下检测头(2)的下端面与所述上检测头(31)的下端面沿所述套筒(5)的轴向的距离为第一预设值时，所述上检测组件能够触发所述长度测量仪，所述长度测量仪用于测量所述上检测头(31)触发所述长度测量仪后发生的位移；所述下检测头(2)、所述上检测组件及所述长度测量仪均设置于所述套筒(5)上。2.根据权利要求1所述的锻件测量装置，其特征在于，所述下检测头(2)的下端开设第一凹槽(21)，所述第一凹槽(21)的槽壁的下端面用于抵接所述第一平面，所述下检测头(2)设置于所述第一凹槽(21)内。3.根据权利要求1所述的锻件测量装置，其特征在于，所述上检测组件还包括用于触发所述长度测量仪的压表块(33)、和沿所述套筒(5)的轴向设置的检测杆(32)，所述上检测头(31)和所述压表块(33)分别设置于所述检测杆(32)的两端。4.根据权利要求1所述的锻件测量装置，其特征在于，所述长度测量仪包括设置于所述套筒(5)的百分表(4)。5.根据权利要求1-4任意一项所述的锻件测量装置，其特征在于，所述锻件测量装置还包括设置于套筒(5)上的夹取组件。6.根据权利要求5所述的锻件测量装置，其特...

【专利技术属性】
技术研发人员：洪其群，高云，侯宝臣，魏杰，汪伟，
申请(专利权)人：上海精智实业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：上海,31