The utility model relates to an infrared perspective microscope, which comprises a base, a supporting rod, an infrared light source arranged in the base and a voltage reducing power module; a step through hole is arranged on the upper surface of the base, and a refracting plate is arranged on the step through hole; the infrared light source is located directly below the refracting plate; and the infrared light emitted by the infrared light source is of a wavelength greater than 960 nm. Infrared light, the base is equipped with the intensity adjustment button of infrared light source, the front end of the support rod is provided with a groove, the groove is built with a lifting slider which can be lifted up and down, the lifting slider is controlled within a certain range by adjusting the control handwheel, and the front side of the lifting slider is equipped with a microscope support for supporting the microscope lens and CCD. The lens of the microscope is threaded to a CCD. The lens center is located on the same vertical line with the center of the infrared light source and the center of the refraction plate. The CCD is equipped with a data line interface. The utility model can penetrate the interior of opaque semiconductor devices, has the advantages of light-weight equipment, convenient carrying, energy-saving and environmental protection of light source, and is harmless to human body.
【技术实现步骤摘要】
红外透视显微镜
本技术属于半导体
,特别是涉及一种红外透视显微镜。
技术介绍
随着不断发展的电子设备小型化、超薄化的需求,构成电路的器件必须更密集地放置,以适应芯片上可用的有限空间,半导体器件的封装技术也高速进化。在半导体器件的大规模生产中,通过对半导体器件进行可靠性检测,可以发现缺陷,以提高半导体产品的合格率。因此,半导体器件的可靠性检测对于提高良品率、改善工艺技术的可靠性和稳定性非常重要。目前,对于不透明半导体器件,不能观察产品内部结构,对无法看到的领域进行无损检测和分析,通常采用X射线照射半导体产品,通过X射线成像对产品内部缺陷进行检测分析,藉由成像结果判断缺陷的位置及大小。但由于采用X射线检测时操作不方便、检测速度较慢,且X射线对人体有害,进行检测时需要密闭空间,各种作业条件的限制导致检测成本非常高。现有的显微镜无法看清不透明半导体器件内部,不能观察产品内部结构,如异物、气泡、断线、裂纹等,对于未检测出缺陷的产品混入合格的产品内,将导致无法及时对产品缺陷进行补救,造成产品的合格率下降,大大浪费人力物力;此外,现有的显微镜体积大、重量重,携带不方便。
技术实现思路
本技术为解决公知技术中存在的技术问题而提供一种红外透视显微镜,该显微镜的红外光可以透过不透明半导体器件内部,装备轻巧,携带方便,光源节能环保且对人体无害。本技术为解决公知技术中存在的技术问题所采取的技术方案是:一种红外透视显微镜,包括底座,与所述底座一侧通过螺钉连接固定的支撑杆,其特征在于:还包括设置在底座内的红外光源和降压电源模块,所述底座的上表面设有一阶梯通孔,所述阶梯通孔上设有用于 ...
【技术保护点】
1.一种红外透视显微镜,包括底座,与所述底座一侧通过螺钉连接固定的支撑杆,其特征在于:还包括设置在底座内的红外光源和降压电源模块,所述底座的上表面设有一阶梯通孔,所述阶梯通孔上设有用于将红外光充分散射的折射板,所述红外光源位于折射板正下方,所述红外光源发出的红外光为波长大于960nm的红外光,所述红外光源和降压电源模块电连接,所述降压电源模块电连接220V电源,所述底座上设有红外光源强度调节钮,所述红外光源强度调节钮与红外光源电连接,所述支撑杆的前端面上设置有凹槽,所述凹槽内置放有可以上下升降的升降滑块,所述升降滑块通过控制手轮调整控制在一定范围内升降,所述升降滑块的前侧设有用于支撑显微镜镜头和CCD的显微镜支架,所述显微镜镜头螺纹连接CCD,所述显微镜镜头的中心与红外光源的中心、折射板的中心位于同一垂直线上,所述CCD上设有数据线接口。
【技术特征摘要】
1.一种红外透视显微镜,包括底座,与所述底座一侧通过螺钉连接固定的支撑杆,其特征在于:还包括设置在底座内的红外光源和降压电源模块,所述底座的上表面设有一阶梯通孔,所述阶梯通孔上设有用于将红外光充分散射的折射板,所述红外光源位于折射板正下方,所述红外光源发出的红外光为波长大于960nm的红外光,所述红外光源和降压电源模块电连接,所述降压电源模块电连接220V电源,所述底座上设有红外光源强度调节钮,所述红外光源强度调节钮与红外光源电连接,所述支撑杆的前端面上设置有凹槽,所述凹槽内置放有可以上下升降的升降滑块,所述升降滑块通过控制手轮调整控制在一定范围内升降,所述升降滑块的前侧设有用于支撑显微镜镜头和CCD的显微镜支架,所述显微镜镜头螺纹连接CCD,所述显微镜镜头的中心与红外光源的中心、折射板的中心位于同一垂直线上,所述CCD上设有数据线接口。2.根据权利要求1所述的红外透视显微镜,其特征在于:所述降压电源模块的电压为3-5V。3.根据权利要求1所述的红外透视显微镜,其特征在于:所述CCD的外部罩...
【专利技术属性】
技术研发人员:辛言,赵钢,刘菲,许俊杰,
申请(专利权)人:阿米巴科技天津有限公司,
类型:新型
国别省市:天津,12
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