一种XL系列升压芯片检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种XL系列升压芯片检测装置，属于芯片检测技术领域。本实用新型专利技术包括升压型LED恒流驱动电路、升压型恒压电路、双限比较电路、方波发生器和故障提示电路；所述升压型LED驱动电路、升压型恒压电路分别输出电压信号给双限比较电路，双限比较电路、方波发生器均与故障提示电路相连。本实用新型专利技术通过对XL系列升压芯片的管脚电压进行实时监测来判断芯片的故障，能够快速的检测XL系列升压芯片的故障。同时，结构简单，容易操作，使用方便。

A XL series boost chip detection device

The utility model relates to a XL series boosting chip detection device, which belongs to the chip detection technology field. The utility model comprises a boost-type LED constant current drive circuit, a boost-type constant voltage circuit, a double-limit comparison circuit, a square wave generator and a fault prompting circuit; the boost-type LED drive circuit and a boost-type constant voltage circuit output voltage signals to the double-limit comparison circuit respectively, and the double-limit comparison circuit and the square wave generator both have fault prompting electricity. The road is connected. The utility model judges the fault of the XL series boost chip by real-time monitoring the pin voltage of the XL series boost chip, and can quickly detect the fault of the XL series boost chip. At the same time, the structure is simple, easy to operate and convenient to use.

【技术实现步骤摘要】
一种XL系列升压芯片检测装置
本技术涉及一种XL系列升压芯片检测装置，属于芯片检测

技术介绍
目前，大部分XL系列升压芯片分为恒压型和恒流型两种类型，而XL系列每一种类型的升压芯片又有8脚和5脚两种封装，人们在使用XL系列的升压芯片遇到故障时，一般使用万用表的电压档对芯片的每一管脚电压进行一一测量来判断该芯片的好坏，这种检测方法耗时耗力，且由于人们检测时将电压表表笔接错而导致芯片损坏的事故经常发生。
技术实现思路
本技术要解决的技术问题是：本技术提供一种XL系列升压芯片检测装置，用于解决XL系列升压芯片遇到故障时，利用万用表检测耗时耗力且检测速度慢容易发生损坏芯片的问题；本技术分别将恒流型和恒压型芯片分通过升压型LED恒流驱动电路、升压型恒压电路进行检测，并通过对XL系列升压芯片的管脚电压进行实时监测来判断芯片的故障，能够快速的检测XL系列升压芯片的故障。本技术技术方案是：一种XL系列升压芯片检测装置，包括升压型LED恒流驱动电路1、升压型恒压电路2、双限比较电路3、方波发生器4和故障提示电路5；所述升压型LED驱动电路1、升压型恒压电路2分别输出电压信号给双限比较电路3，双限比较电路3、方波发生器4均与故障提示电路5相连；所述双限比较电路3包括集成运算放大器A1、A2、电阻R5、R6、R7、R8、二极管D1、D2；所述+5V电源通过电阻R5与集成运算放大器A1的反相端连接，集成运算放大器A1的反相端通过电阻R6与集成运算放大器A2的同相端连接，集成运算放大器A2的同相端通过电阻R7接地，集成运算放大器A2的反相端与集成运算放大器A1的同相端连接后与8脚IC座9连接；集成运算放大器A1、A2的输出端分别连接着二极管D1、D2的阳极，二极管D1、D2的阴极连接后通过电阻R8连接着故障提示电路5的与门M的一端；所述方波发生器4包括集成运算放大器A3、A4、电阻R11、R12、R13、R14、R15、R16、R17、电容C6、C7、二极管D3、D4；所述集成运算放大器A3的反相端和同相端分别通过电阻R14、R15接地，电阻R15的两端并联着电容C6，集成运算放大器A3的同相端依次通过电阻R16、电容C7与其输出端连接，集成运算放大器A3的反相端依次通过串联电阻R11、R12、R13后与其输出端连接，二极管D3、D4反向并联后再与电阻R13并联；集成运算放大器A3的输出端通过电阻R17与集成运算放大器A4的反相端连接，集成运算放大器A4的同相端通过电阻R18接地，集成运算放大器A4的输出端连接着故障提示电路5的与门M的一端；所述故障提示电路5包括蜂鸣器、与门M、电阻R9、R10、三极管T；所述与门M的输出端通过电阻R9与三极管T的基极连接，三极管T的发射极接地，三极管T的集电极通过电阻R10与蜂鸣器的一端连接，蜂鸣器的另一端与+5V电源端连接。所述升压型LED恒流驱动电路1包括5脚IC座6、8脚IC座7、电阻R1、电容C1、C2、C3、电感L1、肖特基二极管V1、LED1指示灯；所述+5V电源与地间依次通过并联电容C1、C2滤波后分别与5脚IC座6的4脚和1脚连接；5脚IC座6的1脚通过电阻R1与其5脚连接；5脚IC座6的1脚、2脚、3脚、4脚、5脚分别与8脚IC座7的7脚和8脚、1脚、5脚和6脚、2脚、3脚连接，8脚IC座7的5脚和6脚连接后同时连接着肖特基二极管V1的阳极和电感L1的一端，电感L1的另一端与8脚IC座7的2脚连接，肖特基二极管V1的阴极同时连接着电容C3的正极和LED1指示灯的阳极，电容C3的负极接地，LED1指示灯的阴极与8脚IC座7的3脚连接；所述升压型恒压电路2包括5脚IC座8、8脚IC座9、电阻R2、R3、电容C4、C5、电感L2、肖特基二极管V2；所述5脚IC座8的4脚与5脚IC座6的4脚连接，5脚IC座8的1脚通过电阻R2与其5脚连接；5脚IC座8的1脚、2脚、3脚、4脚、5脚分别与8脚IC座9的7脚和8脚、1脚、5脚和6脚、2脚、3脚连接，8脚IC座9的7脚和8脚连接后接地，8脚IC座9的5脚和6脚连接后同时连接着肖特基二极管V2的阳极和电感L2的一端，电感L2的另一端与8脚IC座9的2脚连接，肖特基二极管V2的阴极通过电阻R3与8脚IC座9的3脚连接，肖特基二极管V2的阴极与地间依次并联着电容C4、C5滤波；所述8脚IC座7的1脚和8脚IC座9的1脚通过电阻R4与LED2指示灯的阳极连接，LED2指示灯的阴极接地。本技术的工作过程为：A、先判断被检测的XL系列升压芯片属于恒压型还是恒流型升压芯片；B、若被检测的XL系列升压芯片属于恒流型5脚升压芯片，则把该芯片按照正确的管脚顺序插入升压型LED恒流驱动电路1中的5脚IC座6，若被检测的XL系列升压芯片属于恒流型8脚升压芯片，则把该芯片按照正确的管脚顺序插入升压型LED恒流驱动电路1中的8脚IC座7；若被检测的XL系列升压芯片属于恒压型5脚升压芯片，则把该芯片按照正确的管脚顺序插入升压型恒压电路2中的5脚IC座8，若被检测的XL系列升压芯片属于恒压型8脚升压芯片，则把该芯片按照正确的管脚顺序插入升压型恒压电路2中的8脚IC座9；C、打开电源，XL系列升压芯片装置开始工作；D、若升压型LED恒流驱动电路1中的5脚IC座6或8脚IC座7接入无故障的升压型恒流芯片，则升压型LED恒流驱动电路1中的LED1指示灯发光，5脚IC座6的2脚或8脚IC座7的1脚输出高电平信号控制LED2指示灯发光；若升压型恒压电路2中的5脚IC座8或8脚IC座9接入无故障的升压型恒压芯片，则升压型恒压电路2中的5脚IC座8的2脚或8脚IC座9的1脚输出高电平信号控制LED2指示灯发光；E、升压型LED恒流驱动电路1中的5脚IC座6或8脚IC座7接入升压型恒流芯片；若升压型LED恒流驱动电路1中的LED1指示灯不发光，则被检测的升压型恒流芯片存在故障；若LED2指示灯不发光，且蜂鸣器发出提示音，说明该芯片的开关脚发生故障；若LED2指示灯发光，蜂鸣器发出提示音，说明被检测芯片的反馈脚发生故障；升压型恒压电路2中的5脚IC座8或8脚IC座9接入升压型恒压芯片，且LED2指示灯不发光，且蜂鸣器发出提示音，说明该芯片的开关脚发生故障；若LED2指示灯发光，蜂鸣器发出提示音，说明被检测芯片的反馈脚发生故障；F、检测完毕，关闭电源，取出被检测芯片。本技术的有益效果是：本技术提供一种XL系列升压芯片检测装置，通过对XL系列升压芯片的管脚电压进行实时监测来判断芯片的故障，能够快速的检测XL系列升压芯片的故障。同时，结构简单，容易操作，使用方便。附图说明图1是本技术电路原理图。图1中各标号：1-升压型LED恒流驱动电路、2-升压型恒压电路、3-双限比较电路、4-方波发生器、5-故障提示电路、6-5脚IC座、7-8脚IC座、8-5脚IC座、9-8脚IC座、10-蜂鸣器、V1～V2-肖特基二极管、R1～R18-电阻、D1～D4-二极管、M-与门、T-三极管、LED1～LED2-指示灯、A1～A4-集成运算放大器、C1～C7-电容。具体实施方式下面结合附图和具体实施例，对本技术作进一步说明。实施例1：如图1所示，一种XL本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种XL系列升压芯片检测装置，其特征在于：包括升压型LED恒流驱动电路（1）、升压型恒压电路（2）、双限比较电路（3）、方波发生器（4）和故障提示电路（5）；所述升压型LED驱动电路（1）、升压型恒压电路（2）分别输出电压信号给双限比较电路（3），双限比较电路（3）、方波发生器（4）均与故障提示电路（5）相连；所述双限比较电路（3）包括集成运算放大器A1、A2、电阻R5、R6、R7、R8、二极管D1、D2；+5V电源通过电阻R5与集成运算放大器A1的反相端连接，集成运算放大器A1的反相端通过电阻R6与集成运算放大器A2的同相端连接，集成运算放大器A2的同相端通过电阻R7接地，集成运算放大器A2的反相端与集成运算放大器A1的同相端连接后与8脚IC座（9）连接；集成运算放大器A1、A2的输出端分别连接着二极管D1、D2的阳极，二极管D1、D2的阴极连接后通过电阻R8连接着故障提示电路（5）的与门M的一端；所述方波发生器（4）包括集成运算放大器A3、A4、电阻R11、R12、R13、R14、R15、R16、R17、电容C6、C7、二极管D3、D4；所述集成运算放大器A3的反相端和同相端分别通过电阻R14、R15接地，电阻R15的两端并联着电容C6，集成运算放大器A3的同相端依次通过电阻R16、电容C7与其输出端连接，集成运算放大器A3的反相端依次通过串联电阻R11、R12、R13后与其输出端连接，二极管D3、D4反向并联后再与电阻R13并联；集成运算放大器A3的输出端通过电阻R17与集成运算放大器A4的反相端连接，集成运算放大器A4的同相端通过电阻R18接地，集成运算放大器A4的输出端连接着故障提示电路（5）的与门M的一端；所述故障提示电路（5）包括蜂鸣器、与门M、电阻R9、R10、三极管T；所述与门M的输出端通过电阻R9与三极管T的基极连接，三极管T的发射极接地，三极管T的集电极通过电阻R10与蜂鸣器的一端连接，蜂鸣器的另一端与+5V电源端连接。...

【技术特征摘要】
1.一种XL系列升压芯片检测装置，其特征在于：包括升压型LED恒流驱动电路（1）、升压型恒压电路（2）、双限比较电路（3）、方波发生器（4）和故障提示电路（5）；所述升压型LED驱动电路（1）、升压型恒压电路（2）分别输出电压信号给双限比较电路（3），双限比较电路（3）、方波发生器（4）均与故障提示电路（5）相连；所述双限比较电路（3）包括集成运算放大器A1、A2、电阻R5、R6、R7、R8、二极管D1、D2；+5V电源通过电阻R5与集成运算放大器A1的反相端连接，集成运算放大器A1的反相端通过电阻R6与集成运算放大器A2的同相端连接，集成运算放大器A2的同相端通过电阻R7接地，集成运算放大器A2的反相端与集成运算放大器A1的同相端连接后与8脚IC座（9）连接；集成运算放大器A1、A2的输出端分别连接着二极管D1、D2的阳极，二极管D1、D2的阴极连接后通过电阻R8连接着故障提示电路（5）的与门M的一端；所述方波发生器（4）包括集成运算放大器A3、A4、电阻R11、R12、R13、R14、R15、R16、R17、电容C6、C7、二极管D3、D4；所述集成运算放大器A3的反相端和同相端分别通过电阻R14、R15接地，电阻R15的两端并联着电容C6，集成运算放大器A3的同相端依次通过电阻R16、电容C7与其输出端连接，集成运算放大器A3的反相端依次通过串联电阻R11、R12、R13后与其输出端连接，二极管D3、D4反向并联后再与电阻R13并联；集成运算放大器A3的输出端通过电阻R17与集成运算放大器A4的反相端连接，集成运算放大器A4的同相端通过电阻R18接地，集成运算放大器A4的输出端连接着故障提示电路（5）的与门M的一端；所述故障提示电路（5）包括蜂鸣器、与门M、电阻R9、R10、三极管T；所述与门M的输出端通过电阻R9与三极管T的基极连接，三极管T的发射...

【专利技术属性】
技术研发人员：张国银，李恒，谭洁，赵磊，陈宝明，母德浪，
申请(专利权)人：昆明理工大学，
类型：新型
国别省市：云南,53