一种扫描架平面度校准装置及其校准方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种扫描架平面度校准装置，包括激光发射器和Z轴采集架，所述Z轴采集架的一侧活动连接有磁性表座，且磁性表座远离Z轴采集架的一侧活动连接有激光接收器，所述激光发射器发射有旋转激光光束，S1、首先将激光接收器通过磁性表座放置在Z轴采样架上，涉及激光测量技术领域。该扫描架平面度校准装置及其校准方法，可很好的解决现有对空间平面度的测量只能使用双经纬仪或者激光跟踪仪进行测量的问题，大大降低了仪表价格的昂贵性，对测试人员的专业水平要求相对较低，因此十分适合小规模公司的使用，同时很好的实现了缩短调整周期，达到了提高扫描架的平面度的目的，从而大大方便了人们对扫描架的校准工作。

A flatness calibration device for scanning frame and its calibration method

The invention discloses a flatness calibration device for a scanning frame, which comprises a laser transmitter and a Z-axis acquisition frame. One side of the Z-axis acquisition frame is movably connected with a magnetic table, and the magnetic table is movably connected with a laser receiver far from the Z-axis acquisition frame. The laser transmitter emits a rotating laser beam, and S1 first excites the laser beam. The optical receiver is placed on the Z axis sampling frame through a magnetic table holder, and relates to the field of laser measurement technology. The scanner flatness calibration device and its calibration method can well solve the problem that the existing measurement of spatial flatness can only be measured by double theodolites or laser trackers, greatly reducing the price of the instrument, relatively low professional level requirements for testers, so it is very suitable for small-scale public. The use of the Division, while very good to shorten the adjustment period, to improve the flatness of the scanner, thus greatly facilitating the calibration of the scanner.

【技术实现步骤摘要】
一种扫描架平面度校准装置及其校准方法
本专利技术涉及激光测量
，具体为一种扫描架平面度校准装置及其校准方法。
技术介绍
扫描架用来配合完成阵列天线各通道的幅度、相位一致性的测试，是整个近场测量系统中的关键部件，对于不同频率的天线，需要不同精度的扫描架，本专利介绍了旋转激光测量平面在扫描架平面度校准过程中的应用，利用StatusPro旋转激光测量系统对扫描架的平面度进行测量和校准，已经应于多个扫描架项目，将其校准结果与激光跟踪仪测量结果进行对比，两者测量结果一致。目前，空间平面度的测量一般使用双经纬仪或者激光跟踪仪进行测量，由于两者仪表相对昂贵，此外对测试人员的专业水平要求相对较高，故不适合小规模公司的使用，不能实现缩短调整周期，无法达到提高扫描架的平面度的目的，从而给人们对扫描架的校准工作带来了极大的不便。
技术实现思路
（一）解决的技术问题针对现有技术的不足，本专利技术提供了一种扫描架平面度校准装置及其校准方法，解决了现有的扫描架校准设备价格昂贵，对测试人员的专业水平药酒较高，不能实现缩短调整周期，无法达到提高扫描架的平面度目的的问题。（二）技术方案为实现以上目的，本专利技术通过以下技术方案予以实现：一种扫描架平面度校准装置的校准方法，包括激光发射器和Z轴采集架，所述Z轴采集架的一侧活动连接有磁性表座，且磁性表座远离Z轴采集架的一侧活动连接有激光接收器，所述激光发射器发射有旋转激光光束。本专利技术还公开了一种扫描架平面度校准装置的校准方法，包括如下步骤：S1、首先将激光接收器通过磁性表座放置在Z轴采样架上，然后调整旋转激光光束至Z轴采样架全行程内的激光接收器均能接收到光信号；S2、此时在S1调整好的基础上以激光系统的激光扫射面为基准面，将X、Y、Z轴的零点为起点，X轴每1000mm，Y轴每1000mm依次进行数据测量，这样在6000mm*6000mm平面范围内，共计测量49个点；S3、之后在Z轴安装高精度滚珠丝杠传动系统，通过步进电机或者伺服连接直接拖动Z轴进行前后调整，将激光测量系统测量的离散点值输入到软件的补偿数组中，在控制器内部进行程序规划；S4、当Z轴采样架运行至离散点附近，相对于离散点在规划的一微小平面时，Z轴自动前后调整，从而实现了整个采样架Z轴探头所运行的平面的平整度的自动补偿工作；S5、最后将测量的数据，通过软件对各个点数据进行二次插值操作。（三）有益效果本专利技术提供了一种扫描架平面度校准装置及其校准方法。具备以下有益效果：该扫描架平面度校准装置及其校准方法，通过在Z轴采集架的一侧活动连接有磁性表座，且磁性表座远离Z轴采集架的一侧活动连接有激光接收器，再通过在激光发射器发射有旋转激光光束，可很好的解决现有对空间平面度的测量只能使用双经纬仪或者激光跟踪仪进行测量的问题，大大降低了仪表价格的昂贵性，对测试人员的专业水平要求相对较低，因此十分适合小规模公司的使用，同时很好的实现了缩短调整周期，达到了提高扫描架的平面度的目的，从而大大方便了人们对扫描架的校准工作。附图说明图1为本专利技术结构示意图；图2为本专利技术测量点分布图；图3为本专利技术测量数据结果及其三维图示图；图4为本专利技术平面度校准软件界面图。图中，1激光发射器、2Z轴采集架、3磁性表座、4激光接收器、5旋转激光光束。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。请参阅图1-4，本专利技术实施例提供一种技术方案：一种扫描架平面度校准装置，包括激光发射器1和Z轴采集架2，Z轴采集架2的一侧活动连接有磁性表座3，且磁性表座3远离Z轴采集架2的一侧活动连接有激光接收器4，激光发射器1发射有旋转激光光束5。本专利技术还公开了一种扫描架平面度校准装置的校准方法，包括如下步骤：S1、首先将激光接收器4通过磁性表座3放置在Z轴采样架2上，然后调整旋转激光光束5至Z轴采样架2全行程内的激光接收器4均能接收到光信号；S2、此时在S1调整好的基础上以激光系统的激光扫射面为基准面，将X、Y、Z轴的零点为起点，X轴每1000mm，Y轴每1000mm依次进行数据测量，这样在6000mm*6000mm平面范围内，共计测量49个点；S3、之后在Z轴安装高精度滚珠丝杠传动系统，通过步进电机或者伺服连接直接拖动Z轴进行前后调整，将激光测量系统测量的离散点值输入到软件的补偿数组中，在控制器内部进行程序规划；S4、当Z轴采样架2运行至离散点附近，相对于离散点在规划的一微小平面时，Z轴自动前后调整，从而实现了整个采样架Z轴探头所运行的平面的平整度的自动补偿工作；S5、最后将测量的数据，通过软件对各个点数据进行二次插值操作。需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。尽管已经示出和描述了本专利技术的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本专利技术的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本专利技术的范围由所附权利要求及其等同物限定。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种扫描架平面度校准装置，包括激光发射器（1）和Z轴采集架（2），其特征在于：所述Z轴采集架（2）的一侧活动连接有磁性表座（3），且磁性表座（3）远离Z轴采集架（2）的一侧活动连接有激光接收器（4），所述激光发射器（1）发射有旋转激光光束（5）。

【技术特征摘要】
1.一种扫描架平面度校准装置，包括激光发射器（1）和Z轴采集架（2），其特征在于：所述Z轴采集架（2）的一侧活动连接有磁性表座（3），且磁性表座（3）远离Z轴采集架（2）的一侧活动连接有激光接收器（4），所述激光发射器（1）发射有旋转激光光束（5）。2.根据权利要求1所述的一种扫描架平面度校准装置的校准方法，其特征在于：包括如下步骤：S1、首先将激光接收器（4）通过磁性表座（3）放置在Z轴采样架（2）上，然后调整旋转激光光束（5）至Z轴采样架（2）全行程内的激光接收器（4）均能接收到光信号；S2、此时在S1调整好的基础上以激光系统的激光扫射面...

【专利技术属性】
技术研发人员：钱金堂，
申请(专利权)人：南京艾文森电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32