光电传感器制造技术

本发明专利技术提供一种能够防止因彼此干涉造成的误动作的光电传感器。光电传感器(1)具备：投光单元(100)，反复发出脉冲光的组来作为信号光，所述脉冲光的组依循使投光周期逐次相差固定时间的投光光型；受光元件(202)，接收来自投光单元(100)的信号光；以及受光控制部(受光控制IC(206))，基于来自受光元件(202)的受光信号，来判别入光状态及遮光状态。投光单元(100)具有使投光周期逐次增加固定时间的第1光型、与使投光周期逐次减少固定时间的第2光型，以作为投光光型，在第1光型及第2光型中，表示最短周期的脉冲包含在最短周期以外的投光周期内。

【技术实现步骤摘要】
光电传感器
本专利技术涉及一种光电传感器(sensor)。
技术介绍
已知有具有投光器与受光器的光电传感器。此种光电传感器中，投光器与受光器是相向地设置，以使来自投光器的光进入受光器。例如日本专利特开2010-205454号公报(专利文献1)揭示了一种具有所述结构的光电传感器。近年来，逆变器(inverter)照明或者发光二极管(LightEmittingDiode，LED)照明正在普及。这些照明装置是以固定周期来产生光。对于光电传感器而言，逆变器照明或者LED照明所发出的光有可能成为造成光电传感器误动作的干扰。例如日本专利特开2015-212711号公报(专利文献2)揭示了一种光学传感器，用于提高对固定频率的干扰光的耐性。此光学传感器中，投光单元以非等间隔的脉冲(pulse)间隔来投射脉冲光。现有技术文献专利文献专利文献1：日本专利特开2010-205454号公报专利文献2：日本专利特开2015-212711号公报
技术实现思路
[专利技术所要解决的问题]如上所述，提出了具有用于防止因干扰光造成的误动作的功能的光电传感器。但是，对于防止因多个光电传感器之间的彼此干涉造成的误动作的功能，至今未提出。因此，能够同时防止彼此的干涉与因干扰光造成的干涉的光电传感器，至今未提出。另外，对于光电传感器的动作而言，即使仅有彼此的干涉也会造成问题。本专利技术的目的在于提供一种能够防止因彼此干涉造成的误动作的光电传感器。[解决问题的技术手段]本专利技术的一方面的光电传感器包括：投光单元，反复发出脉冲光的组来作为信号光，所述脉冲光的组依循使投光周期逐次相差固定时间的投光光型(pattern)；受光元件，接收来自投光单元的信号光；以及受光控制部，基于来自受光元件的受光信号，来判别入光状态及遮光状态。投光单元具有使投光周期逐次增加固定时间的第1光型、与使投光周期逐次减少固定时间的第2光型，以作为投光光型，在第1光型及第2光型中，表示最短周期的脉冲包含在最短周期以外的投光周期内。优选的是，第1光型及第2光型为彼此反转的光型。优选的是，依循第1光型的投光周期的范围与依循第2光型的投光周期的范围完全分离。优选的是，依循第1光型的投光周期的范围与依循第2光型的投光周期的范围彼此部分重合。优选的是，表示最短周期的脉冲包含在第1光型的最长周期内及第2光型的最长周期内。优选的是，光电传感器具有通常模式与干扰光模式。受光控制部包含将受光信号的强度与判定阈值进行比较的比较器(comparator)。受光控制部在干扰光模式下，在比较器对受光信号的强度与判定阈值的比较中，设定迟滞(hysteresis)。[专利技术的效果]根据本专利技术，可提供一种能够防止因彼此干涉造成的误动作的光电传感器。附图说明图1是用于说明本专利技术的一实施方式的光电传感器的概略结构的框图。图2是表示本专利技术的实施方式的光电传感器的投光单元的第1投光光型的图。图3是表示本专利技术的实施方式的光电传感器的投光单元的第2投光光型的图。图4是用于说明多个光电传感器之间的彼此干涉的图。图5是表示第1投光光型及第2投光光型的关系的第1例的图。图6是表示第1投光光型及第2投光光型的关系的第2例的图。图7是表示第1投光光型及第2投光光型的关系的第3例的图。图8是用于说明受光波形的反弹的影响的图。图9是用于说明白噪声(whitenoise)所引起的、因受光波形的反弹造成的入光判定时产生的波动的示意图。图10是用于说明因重叠于受光波形的白噪声造成的误判定的示意图。图11是用于说明依循本专利技术的实施方式的、比较器的迟滞的图。图12是用于说明依循本专利技术的实施方式的、干扰光模式下的比较器226的迟滞动作示例的图。图13是用于说明受光单元的处理的第1流程图。图14是用于说明受光单元的处理的第2流程图。[符号的说明]1、1a、1b：光电传感器2：检测对象100：投光单元102：投光元件104：投光驱动电路106：投光控制IC108：运转显示灯110、210：稳定显示灯200：受光单元202：受光元件206：受光控制IC208：动作显示灯212：输出部222：ADC(A/D转换器)224：存储器226：比较器S10～S17、S20～S27：步骤T1、T1+a、T1+2a、T1+3a、T2、T2-b、T2-2b、T2-3b：投光周期具体实施方式对于本专利技术的实施方式，参照附图来进行详细说明。另外，对于图中的相同或相当的部分，标注相同的符号并不再重复其说明。图1是用于说明本专利技术的一实施方式的光电传感器的概略结构的框图。如图1所示，本专利技术的一实施方式的光电传感器1为透射型光电传感器，具备投光单元100与受光单元200。本实施方式中，投光单元100与受光单元200是独立的，隔开距离而彼此相向地配置。投光单元100包含投光元件102、投光驱动电路104、投光控制集成电路(IntegratedCircuit，IC)106、运转显示灯108与稳定显示灯110。投光元件102是由投光驱动电路104予以驱动，以产生脉冲光。投光元件102例如为LED或者激光二极管(LaserDiode，LD)。投光控制IC106统一控制投光单元100。尤其，投光控制IC106根据投光光型来控制投光驱动电路104。由此，投光元件102根据所述投光光型，来产生脉冲光的组以作为信号光。在投光单元100的运转过程中，投光控制IC106使运转显示灯108点亮。除此以外，投光控制IC106对表示投光单元100的动作是否稳定的稳定显示灯110进行控制。受光单元200包含受光元件202、受光控制IC206、动作显示灯208、稳定显示灯210与输出部212。受光元件202接收来自投光元件102的脉冲光。典型而言，受光元件202包含光电二极管(Photodiode，PD)。来自受光元件202的信号被输入至受光控制IC206(受光控制部)。受光控制IC206基于来自受光元件202的受光信号，来判别入光状态及遮光状态。受光控制IC206包含ADC(模拟/数字(Analog/Digital，A/D)转换器(converter))222、存储器(memory)224与比较器226。ADC222将来自受光元件202的模拟信号转换成数字信号。存储器224存储用于比较器226的数字信号比较的数据。此数据是预先输入至存储器224。存储在存储器224中的数据也可为表示从投光单元100送往受光单元200的脉冲光(自身信号)的光型的数据，还可为与来自ADC222的数字信号进行比较的比较值。在受光单元200的运转过程中，受光控制IC206使动作显示灯208点亮。除此以外，受光控制IC206对表示受光单元200的动作是否稳定的稳定显示灯210进行控制。来自投光单元100的脉冲光入射至受光单元200。当检测对象2通过投光单元100与受光单元200之间时，脉冲光朝向受光单元200的入射被检测对象2遮挡。受光控制IC206接收来自受光元件202的信号而对检测对象2进行检测。输出部212输出受光控制IC206的处理结果。图2是表示本专利技术的实施方式的光电传感器1的投光单元100的第1投光光型的图。如图2所示，投光单元100发出非等间隔的脉冲光。更详细而言，使投光脉冲周期(投光周期)逐次增大固定时间。例如，投光周期如T1本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光电传感器，其特征在于包括：投光单元，反复发出脉冲光的组来作为信号光，所述脉冲光的组依循使投光周期逐次相差固定时间的投光光型；受光元件，接收来自所述投光单元的信号光；以及受光控制部，基于来自所述受光元件的受光信号，来判别入光状态及遮光状态，所述投光单元具有使所述投光周期逐次增加固定时间的第1光型、与使所述投光周期逐次减少固定时间的第2光型，以作为所述投光光型，在所述第1光型及所述第2光型中，表示最短周期的脉冲包含在所述最短周期以外的所述投光周期内。

【技术特征摘要】
2017.03.15 JP 2017-0495791.一种光电传感器，其特征在于包括：投光单元，反复发出脉冲光的组来作为信号光，所述脉冲光的组依循使投光周期逐次相差固定时间的投光光型；受光元件，接收来自所述投光单元的信号光；以及受光控制部，基于来自所述受光元件的受光信号，来判别入光状态及遮光状态，所述投光单元具有使所述投光周期逐次增加固定时间的第1光型、与使所述投光周期逐次减少固定时间的第2光型，以作为所述投光光型，在所述第1光型及所述第2光型中，表示最短周期的脉冲包含在所述最短周期以外的所述投光周期内。2.根据权利要求1所述的光电传感器，其特征在于，所述第1光型及所述第2光型为彼此反转的光型。3.根据权...

【专利技术属性】
技术研发人员：余铭珂，柴田国春，奥浓基晴，都筑良介，堀野昌伸，松井优贵，
申请(专利权)人：欧姆龙株式会社，
类型：发明
国别省市：日本,JP