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一种可实现束流均匀性在线测量的电离室探测器制造技术

技术编号:19097544 阅读:24 留言:0更新日期:2018-10-03 02:16
本发明专利技术涉及一种可实现束流均匀性在线测量的电离室探测器,包括电离室外壳、电离室内芯单元、入射窗及出射窗,所述电离室内芯单元由两个高压极及一个信号集组成,所述信号集位于两个所述高压极中间;所述信号极由分别在电极膜正反两面形成的第一一维剖面测量单元及第二一维剖面测量单元组成,所述第一一维剖面测量单元及第二一维剖面测量单元分别用于测量水平及垂直方向的一维束流剖面。本发明专利技术通过在一张电极膜的正反两面形成两个一维剖面测量单元,大大节约了成本、简化了机械部分,同时降低了探测器的质量及厚度,降低了制造成本。

【技术实现步骤摘要】
一种可实现束流均匀性在线测量的电离室探测器
本专利技术属于重离子(或质子)治疗肿瘤技术或束流辐照效应试验
,尤其涉及一种可实现束流均匀性在线测量的电离室探测器。
技术介绍
现有技术中基于二次电子原理的丝组成的网格探测器(SEMgrid)虽然也能实现束流剖面测量,但是只适用于束流强度比较大的时候。在流强较低的时候使用基于电离室原理的探测器,对束流强度信号本身有放大的作用,可用于弱流测量,使用范围更大。按照收集极几何形状有像素型和条带型,像素型探测器对电子学通道数要求更高,增加了成本,而条带型可以满足基本一维剖面测量的同时,减少了电子学需求。然而,目前的条带型在两张电极膜上分别完成两个方向条带划分,增加了探测器的成本和机械复杂度。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种可实现束流均匀性在线测量的电离室探测器,以简化机械复杂度,降低制造成本。本专利技术提供了一种可实现束流均匀性在线测量的电离室探测器,包括电离室外壳、电离室内芯单元、入射窗及出射窗,电离室内芯单元由两个高压极及一个信号集组成,信号集位于两个高压极中间;信号极由分别在电极膜正反两面形成的第一一维剖面测量单元及第二一维剖面测量单元组成,第一一维剖面测量单元及第二一维剖面测量单元分别用于测量水平及垂直方向的一维束流剖面。进一步地,高压极、信号集、入射窗及出射窗采用薄型材料制成。进一步地,电极膜为聚酰亚胺基底。进一步地,信号极的制造方法包括:在聚酰亚胺基底的两面镀金属层,使用光刻或PCB技术将金属层划分为条带形一维剖面测量单元,并使第一一维剖面测量单元与第二一维剖面测量单元互相垂直。进一步地,高压极为镀铝有机薄膜。进一步地,电离室外壳采用耐辐照材料制成。借由上述方案,通过可实现束流均匀性在线测量的电离室探测器,在一张电极膜的正反两面形成两个一维剖面测量单元,大大节约了成本、简化了机械部分,同时降低了探测器的质量及厚度,降低了制造成本。上述说明仅是本专利技术技术方案的概述,为了能够更清楚了解本专利技术的技术手段,并可依照说明书的内容予以实施,以下以本专利技术的较佳实施例并配合附图详细说明如后。附图说明图1是本专利技术一种可实现束流均匀性在线测量的电离室探测器电离室内芯单元的结构示意图。具体实施方式下面结合附图和实施例,对本专利技术的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本专利技术,但不用来限制本专利技术的范围。参图1所示,本实施例提供了一种可实现束流均匀性在线测量的电离室探测器,包括电离室外壳、电离室内芯单元、入射窗及出射窗,电离室内芯单元(基于平板型电离室),由两个高压极1及一个信号集组成,信号集位于两个高压极1中间,以高压极加载负高压为例,则电场由信号集指向高压极。信号极由分别在电极膜21正反两面形成的第一一维剖面测量单元22及第二一维剖面测量单元23组成,第一一维剖面测量单元22及第二一维剖面测量单元23分别用于测量水平及垂直方向的一维束流剖面。该电离室探测器,通过在一张电极膜的正反两面形成两个一维剖面测量单元,大大节约了成本、简化了机械部分,同时降低了探测器的质量及厚度,降低了制造成本。在本实施例中,高压极、信号集、入射窗及出射窗采用薄型材料制成,以减小厚度,减轻探测器的整体质量。在本实施例中,信号极采用光刻技术或者柔性电路板技术,在聚酰亚胺基底(电极膜)的两面镀金属层,使用光刻或PCB技术将金属层划分为条带形收集极(一维剖面测量单元),正、反两面条带(第一一维剖面测量单元22、第二一维剖面测量单元23)互相垂直,从而实现水平和垂直方向两个一维束流剖面的测量。在本实施例中,高压极1为几微米厚镀铝的有机薄膜(PET膜),镀铝的作用是为了导电,从而在工作区形成均匀电场。在本实施例中,电离室外壳采用耐辐照材料制成(耐辐射电离室),可以用于在束测量,且对束流品质的影响几乎可以忽略,可用于靶站或者治疗室之前。以上所述仅是本专利技术的优选实施方式,并不用于限制本专利技术,应当指出,对于本
的普通技术人员来说,在不脱离本专利技术技术原理的前提下,还可以做出若干改进和变型,这些改进和变型也应视为本专利技术的保护范围。本文档来自技高网
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【技术保护点】
1.一种可实现束流均匀性在线测量的电离室探测器,其特征在于,包括电离室外壳、电离室内芯单元、入射窗及出射窗,所述电离室内芯单元由两个高压极及一个信号集组成,所述信号集位于两个所述高压极中间;所述信号极由分别在电极膜正反两面形成的第一一维剖面测量单元及第二一维剖面测量单元组成,所述第一一维剖面测量单元及第二一维剖面测量单元分别用于测量水平及垂直方向的一维束流剖面。

【技术特征摘要】
1.一种可实现束流均匀性在线测量的电离室探测器,其特征在于,包括电离室外壳、电离室内芯单元、入射窗及出射窗,所述电离室内芯单元由两个高压极及一个信号集组成,所述信号集位于两个所述高压极中间;所述信号极由分别在电极膜正反两面形成的第一一维剖面测量单元及第二一维剖面测量单元组成,所述第一一维剖面测量单元及第二一维剖面测量单元分别用于测量水平及垂直方向的一维束流剖面。2.根据权利要求1所述的一种可实现束流均匀性在线测量的电离室探测器,其特征在于,所述高压极、信号集、入射窗及出射窗采用薄型材料制成。3.根据权利要求2所述的一种可实现束流均匀性在...

【专利技术属性】
技术研发人员:何赫杨
申请(专利权)人:何赫杨
类型:发明
国别省市:北京,11

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