记录方法和记录装置制造方法及图纸

根据本发明专利技术，使用光纤阵列(11)，其中用于导引来自多个激光发射元件(13)的激光束的多个光纤(12)被排列，当形成图像使得在记录目标(31)和光纤阵列(11)彼此相对移动的同时包含写入单元的图像的至少部分在主扫描方向上彼此重叠时，线段A'D与线段A'C的长度的比率(A'D/A'C)被控制为1.05或更大，其中写入单元在主扫描方向上的线宽的长度的一半被定义为B，写入单元在副扫描方向上的端部的中心点被定义为A，写入单元中从中心点A向内移动长度B的位置被定义为A'，绘制线LL'以包含位置A'且与写入单元正交，写入单元与起始点为位置A'且与线LL'形成45°角度的线之间的交叉点被定义为C，以及写入单元与起始点为位置A'且与线LL'形成135°角度的线之间的交叉点被定义为D。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】记录方法和记录装置
本专利技术涉及记录方法和记录装置。
技术介绍
作为用于例如使用热戳或热敏头执行针对热敏记录介质记录由加热引起的色调或反射率的改变的记录方法，例如接触式记录方法通常已经已知。在上文所提到的实例当中，热敏头已经最常使用。在使用热敏头的记录方法中，热敏头压抵热敏记录介质以便实现足够导热性。因此，归因于由沉积于热敏记录介质的表面上的污迹或异物引起的热敏头的表面的劣化而出现印刷遗漏。因此，可需要对热敏头的维护或更换。同时，作为用于以非接触式方式进行记录的方法，存在使用激光器的记录方法。作为使用激光器的记录方法，典型的是通过电流计镜扫描一个激光束以执行记录的方法。然而，上述记录方法具有随着记录图像的信息数量增大，记录时间延长的问题。为了解决所述问题，例如提议使用激光阵列曝光单元将可逆热敏记录介质曝光于激光束集以满足所要关系的图像更换方法，其中各自独立驱动的多个激光器在与所述可逆热敏记录介质的移动方向正交的方向上对准(参见例如PTL1)。引用文件列表专利文献PTL1：日本未审查专利申请公开案第2010-52350号
技术实现思路
技术问题本专利技术的目标是提供一种记录方法，其可记录本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种记录方法，包括：从光纤阵列发射激光以使用记录装置通过相对移动记录目标和所述光纤阵列记录图像，其中所述图像由写入单元形成且所述记录装置包含多个激光发射元件和包含所述光纤阵列的发射单元，其中被配置成导引从所述激光发射元件发射的激光的多个光纤被对准，其中在以使得所述写入单元的至少部分在主扫描方向上彼此重叠的方式形成的所述图像中为对角线A'D的长度与对角线A'C的长度的比率的(A'D/A'C)为1.05或更大，其中B为所述写入单元在所述主扫描方向上的线宽的1/2的长度，A为所述写入单元在副扫描方向上的边缘的中心点，A'为所述写入单元内部从A前进B的位置，绘制包含A'且与所述写入单元正交的线LL...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2016.02.05 JP 2016-021286;2017.01.27 JP 2017-013641.一种记录方法，包括：从光纤阵列发射激光以使用记录装置通过相对移动记录目标和所述光纤阵列记录图像，其中所述图像由写入单元形成且所述记录装置包含多个激光发射元件和包含所述光纤阵列的发射单元，其中被配置成导引从所述激光发射元件发射的激光的多个光纤被对准，其中在以使得所述写入单元的至少部分在主扫描方向上彼此重叠的方式形成的所述图像中为对角线A'D的长度与对角线A'C的长度的比率的(A'D/A'C)为1.05或更大，其中B为所述写入单元在所述主扫描方向上的线宽的1/2的长度，A为所述写入单元在副扫描方向上的边缘的中心点，A'为所述写入单元内部从A前进B的位置，绘制包含A'且与所述写入单元正交的线LL'，所述对角线A'C的所述长度为具有A'作为起始点且与所述线LL'具有45°的角度的线与所述线与所述写入单元的交叉点C之间的长度，且所述对角线A'D的所述长度为具有A'作为起始点且与所述线LL'具有135°的角度的线与所述线与所述写入单元的交叉点D之间的长度。2.根据权利要求1所述的记录方法，其中为所述对角线A'D的所述长度与所述对角线A'C的所述长度的所述比率的(A'D/A'C)为1.10或更大。3.根据权利要求1或2所述的记录方法，其中所述光纤的中心之间的最小距离为1.0mm或更小。4.根据权利要求1到3中任一项所述的记录方法，其中所述光纤阵列中对准的所述光纤的数目为10或更大。5.根据权利要求1到4中任一项所述的记录方法，其中所述记录目标为热敏记录介质或包含热敏记录区域的结构或两者。6.根据权利要求1到5中任一项所述的记录方法，其中执行将所述激光发射到所述记...

【专利技术属性】
技术研发人员：植竹和幸，堀田吉彦，泽村一郎，石见知三，横田泰朗，
申请(专利权)人：株式会社理光，
类型：发明
国别省市：日本,JP