阵列基板及其检测方法、液晶面板及其配向方法技术

本申请涉及一种阵列基板，所述阵列基板的显示区内为像素单元，所述显示区外围设有依次串联的多个功能控制点，所述功能控制点用于控制所述像素单元，任意两个相邻所述功能控制点之间均设有TFT开关，各所述TFT开关均并联于开关控制点。通过对所述开关控制点的电压控制，可以按需求实现各所述功能控制点之间的串联/断开状态切换。从而省去对金胶的使用。本申请还涉及所述阵列基板的检测方法，以及含有所述阵列基板的液晶面板、及所述液晶面板的配向方法。

【技术实现步骤摘要】
阵列基板及其检测方法、液晶面板及其配向方法
本申请涉及液晶面板领域，尤其涉及一种阵列基板和包含此阵列基板的液晶面板，以及所述阵列基板的检测方法和所述液晶面板的配向方法。
技术介绍
当前的液晶面板制造工序中，对于阵列基板的显示区外围需要设置多个功能控制点，这些功能控制点电连接于显示区内的像素单元，通过扎针等方式输入信号，用于阵列基板各层成膜过程中的不良检查(开/断性能等)以及电性量测。而在阵列基板制作完成后，需要进入对盒和液晶配向等工序。此时需要先将多个功能控制点进行串联，通过上下两层公共电极之间形成电场，对液晶分子在电场中发生偏转，再通过UV光照射发生一系列聚合反应使液晶分子被锚定形成预倾角完成配向。在多个功能控制点与公共电极控制点串联的工序中，通常采用金胶(Au)涂布，将各个功能控制点和公共电极控制点依次串联起来。但是金胶的成本太高，且在涂布的过程中容易出现断胶、甩胶等不良缺陷，降低阵列基板的良品率，影响液晶面板的成本控制。
技术实现思路
本申请提出一种电路优化的阵列基板，能够省去对金胶的使用，同时按需求实现各功能控制点之间的串联/断开状态切换。本申请包括如下技术方案：一种阵列基板，所述阵列基板的显示区内为像素单元，所述显示区外围设有依次串联的多个功能控制点，所述功能控制点用于控制所述像素单元，任意两个相邻所述功能控制点之间均设有TFT开关，各所述TFT开关均为并联，并联的多个所述TFT开关均由同样位于所述显示区外围的开关控制点所控制。其中，所述功能控制点包括第一公共电极控制点、彩色控制点和门电路控制点，所述第一公共电极控制点、所述彩色控制点和所述门电路控制点依次通过所述TFT开关串联。其中，所述彩色控制点的数量至少为三个，每一个所述彩色控制点均连接所述显示区内对应颜色像素单元的信号电极，各个所述彩色控制点依次通过所述TFT开关串联。其中，所述门电路控制点包括ST控制点，CK控制点和VSS控制点，所述门电路控制点连接所述显示区内所述像素单元的扫描电极，所述ST控制点，所述CK控制点和所述VSS控制点依次通过所述TFT开关串联。其中，所述阵列基板的显示区外还设有第二公共电极控制点，所述第二公共电极控制点相对于所述功能控制点、所述TFT开关和所述开关控制点均绝缘，所述第二公共电极控制点用于向所述阵列基板外部提供与所述功能控制点的电位相配合的电势差。本申请涉及上述阵列基板的检测方法，包括如下步骤：对所述开关控制点施加第一电压，以关闭所述TFT开关。本申请还涉及一种液晶面板，包括彩色基板和上述任一项所述阵列基板，以及填充于所述彩色基板和所述阵列基板之间的液晶，所述彩色基板和所述阵列基板电连接。其中，所述阵列基板的显示区外还设有第二公共电极控制点，所述彩色基板上设有相互绝缘的第一电区和第二电区，至少一个所述功能控制点在所述彩色基板上的投影位于所述第一电区之内，所述开关控制点和所述第二公共电极控制点在所述彩色基板上的投影位于所述第二电区之内。其中，投影在所述第一电区内的一个所述功能控制点与所述第一电区电连接，所述第二公共电极控制点、所述开关控制点分别与所述第二电区电连接。对于本申请所述液晶面板的配向方法，包括以下步骤：通过所述第二公共电极控制点对所述第二电区施加第二电压，以使得所述第二电区处于所述第二电压的电势状态，同时所述TFT开关打开；通过所述第一公共电极控制点对所述第一电区施加第三电压，使得所述阵列基板内的所述像素单元处于所述第三电压电势状态；所述第二电压与所述第三电压形成液晶配向所需的电场。本申请所述阵列基板，通过所述功能控制点控制所述显示区内的所述像素单元。而各个所述功能控制点之间依次串联，且任意两个相邻所述功能控制点之间均设有TFT开关，使得各个所述功能控制点之间得以通过TFT开关来实现串联/断开的状态切换。将各所述TFT开关均并联于所述开关控制点之后，只需要控制一个所述开关控制点就能够控制各个所述可能控制点之间的串联/断开状态。由此，在需要各个所述功能控制点之间相互独立绝缘时，对所述开关控制点断电或加负压以关闭TFT开关。此时所述阵列基板可以进行各电性检测工作；在需要各个所述功能控制点串联时，对所开关控制点施加高压以打开TFT开关。此时可以对含有所述阵列基板的液晶面板进行配向工作。本申请所述阵列基板省去了对金胶的使用，避免了金胶在涂布的过程中出现断胶、甩胶等不良缺陷的情况，提高了阵列基板的良品率，同时降低了液晶面板的制造成本。附图说明图1是本申请所述阵列基板的示意图；图2是本申请所述阵列基板的局部示意图；图3是本申请所述彩色基板的示意图。具体实施方式下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其它实施例，都属于本申请保护的范围。请参阅图1所示的阵列基板100，所述阵列基板100包括显示区10和非显示区20。在所述显示区10内设有多个像素单元11。所述非显示区20位于所述显示区10的外围。所述非显示区20中设有依次串联的多个功能控制点21。所述功能控制点21用于控制所述像素单元11，为所述像素单元11提供扫描信号或数据信号。可以理解的，在一些实施例中，由于所述显示区10较大，或所述显示区10内的所述像素单元11较多，可以将所述显示区10划分为多个像素区域101，每个像素区域101内的所述像素单元11由一组所述功能控制点21控制。参看图2，各个所述功能控制点21之间均通过一个TFT开关30进行串联。即相邻两个所述功能控制点21之间为串联连接，且相邻两个所述功能控制点21之间的串联电路上设有一个所述TFT开关30。可以理解的，当所述功能控制点21的数量为“N”时，会有数量为“N－1”个所述TFT开关30将“N”个所述功能控制点21串联在一起。通过图2还可以看出，各所述TFT开关30之间为并联的关系，且相互并联的所述TFT开关30均连接于所述开关控制点31处。通过这样的电路结构设计，所述阵列基板100可以通过控制所述开关控制点31处的电压，以同时打开或关闭串联于所述功能控制点21之间的所述TFT开关30。可以理解的，当所述TFT开关30为同时打开时，各个所述功能控制点21之间为串联连接状态。反之，当所述TFT开关30为同时关闭时，各个所述功能控制点21之间为各自断开的独立状态。对于现有技术中的阵列基板在涂布了金胶将原本各自独立的所述功能控制点21串联之后，各个所述功能控制点21之间的串联状态为不可逆的状态(除非将昂贵的金胶切断)。而采用本申请所述阵列基板100的结构，则通过所述开关控制点31就可以实现各个所述功能控制点21之间的串联/断开状态自由切换，同时省去了金胶的使用，不仅提高了本申请所述阵列基板100的电性兼容能力，还降低了制造成本。进一步的，由于金胶涂布过程中容易出现断胶、甩胶等不良缺陷，因此本申请所述阵列基板100还因为省去金胶的使用而提高了良品率。可以理解的，所述TFT开关30的制作时机，可以与所述显示区10内的所述像素单元11中各TFT结构一同制作完成，不需要另外增加工序步骤。请继续参见图2，所述功能本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种阵列基板，其特征在于，所述阵列基板的显示区内为像素单元，所述显示区外围设有依次串联的多个功能控制点，所述功能控制点用于控制所述像素单元，任意两个相邻所述功能控制点之间均设有TFT开关，各所述TFT开关均为并联，并联的多个所述TFT开关均由同样位于所述显示区外围的开关控制点所控制。

【技术特征摘要】
1.一种阵列基板，其特征在于，所述阵列基板的显示区内为像素单元，所述显示区外围设有依次串联的多个功能控制点，所述功能控制点用于控制所述像素单元，任意两个相邻所述功能控制点之间均设有TFT开关，各所述TFT开关均为并联，并联的多个所述TFT开关均由同样位于所述显示区外围的开关控制点所控制。2.如权利要求1所述阵列基板，其特征在于，所述功能控制点包括第一公共电极控制点、彩色控制点和门电路控制点，所述第一公共电极控制点、所述彩色控制点和所述门电路控制点依次通过所述TFT开关串联。3.如权利要求2所述阵列基板，其特征在于，所述彩色控制点的数量至少为三个，每一个所述彩色控制点均连接所述显示区内对应颜色像素单元的信号电极，各个所述彩色控制点依次通过所述TFT开关串联。4.如权利要求2所述阵列基板，其特征在于，所述门电路控制点包括ST控制点，CK控制点和VSS控制点，所述门电路控制点连接所述显示区内所述像素单元的扫描电极，所述ST控制点，所述CK控制点和所述VSS控制点依次通过所述TFT开关串联。5.如权利要求1所述阵列基板，其特征在于，所述阵列基板的显示区外还设有第二公共电极控制点，所述第二公共电极控制点相对于所述功能控制点、所述TFT开关和所述开关控制点均绝缘，所述第二公共电极控制点用于向所述阵列基板外部提供与所述功能控制点的电位相配合的电势差。6.一种阵列基板的检测方法，其特征在于，所述阵列基板的显示区内为像素单元，所述显示区外围设有依次串联的多个功能控制点，所述功能控制点用于控制所述像素单元，任意两个相邻所述功能控制点之间均设有TFT开关，各所述TFT开关均并联于开关控制点，所述阵列基板的检测方法包括：对所述开关控制点施加第一电压，以关闭所述TFT开...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱清永，
申请(专利权)人：深圳市华星光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44