一种检测装置和电路系统制造方法及图纸

本申请提供一种检测装置和电路系统，用以减小熔丝检测电路的占板面积和低成本。检测装置包括：第一熔丝，其一端与第一负压信号输入端连接，另一端与第一纯电阻模块连接；第二熔丝，其一端与第二负压信号输入端连接，另一端与第二纯电阻模块连接；第一纯电阻模块，与第一熔丝、正压信号输入端和合路负压信号输入端连接；第二纯电阻模块，与第二熔丝、正压信号输入端和合路负压信号输入端连接；其中，第一纯电阻模块包括的N个电阻之间的电性连接关系与第二纯电阻模块包括的N个电阻之间的连接关系相同；第一纯电阻模块的第一电压采样点和第二纯电阻模块的第二电压采样点的最大电压比值与比值门限比较可用于检测第一熔丝或第二熔丝是否故障。

【技术实现步骤摘要】
一种检测装置和电路系统
本申请涉及双路输入负端合路的单板设计领域，尤其涉及一种检测装置和电路系统。
技术介绍
熔丝检测是单板开发中在可靠性方面非常重要的需求，而输入电压检测指的是双路供电场景一路/两路输入电压检测，是单板开发过程中需要实现的重要功能。目前在双路输入负端合路单板场景下，尤其是对于大功率高密单板，传统解决方案电源占板面积大，成本高，电源竞争力面临很大挑战。目前在双路输入负端合路单板场景下，熔丝和输入电压检测电路普遍采用芯片配合光耦的检测方案，而且两路分别各采用一套该检测电路，其采用的是隔离检测方式。原理为利用芯片内部滞环比较器，采用电阻分压和电压基准比较，最后光耦副边输出高低电平到逻辑控制芯片，通过高低电平来判断该路熔丝和输入电压状态。现有技术缺点是检测电路总占板面积大，成本高，电源竞争力较差。每套电路占板面积约8个2512封装电阻面积，占板面积较大，总成本包括2512电阻成本，比较器和光耦等成本，其成本较高。综上，现有的熔丝检测电路存在总占板面积大，成本高的技术问题。
技术实现思路
本申请实施例提供一种检测装置和电路系统，用以减小熔丝检测电路的占板面积和低成本。第一方面，本本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种检测装置，其特征在于，包括：第一熔丝，其一端与第一负压信号输入端连接，另一端与第一纯电阻模块连接；第二熔丝，其一端与第二负压信号输入端连接，另一端与第二纯电阻模块连接；第一纯电阻模块，与所述第一熔丝、正压信号输入端和合路负压信号输入端连接；第二纯电阻模块，与所述第二熔丝、所述正压信号输入端和所述合路负压信号输入端连接；其中，所述第一纯电阻模块包括的N个电阻之间的电性连接关系与所述第二纯电阻模块包括的N个电阻之间的连接关系相同，所述N为大于或等于5的正整数；所述第一纯电阻模块中的第一电压采样点用于提供第一电压采样值，所述第二纯电阻模块中的第二电压采样点用于提供第二电压采样值；将所述第一电...

【技术特征摘要】
1.一种检测装置，其特征在于，包括：第一熔丝，其一端与第一负压信号输入端连接，另一端与第一纯电阻模块连接；第二熔丝，其一端与第二负压信号输入端连接，另一端与第二纯电阻模块连接；第一纯电阻模块，与所述第一熔丝、正压信号输入端和合路负压信号输入端连接；第二纯电阻模块，与所述第二熔丝、所述正压信号输入端和所述合路负压信号输入端连接；其中，所述第一纯电阻模块包括的N个电阻之间的电性连接关系与所述第二纯电阻模块包括的N个电阻之间的连接关系相同，所述N为大于或等于5的正整数；所述第一纯电阻模块中的第一电压采样点用于提供第一电压采样值，所述第二纯电阻模块中的第二电压采样点用于提供第二电压采样值；将所述第一电压采样值和所述第二电压采样值的最大比值与比值门限比较，以判断所述第一熔丝或所述第二熔丝是否发生故障，其中，所述第一电压采样值为所述第一电压采样点与所述合路负压信号输入端之间的电压差，所述第二电压采样值为所述第二电压采样点与所述合路负压信号输入端之间的电压差。2.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述第一电压采样点在所述第一纯电阻模块中的位置与所述第二电压采样点在所述第二纯电阻模块中的位置相同。3.根据权利要求2所述的检测装置，其特征在于，所述第一电压采样点既位于所述正压信号输入端与所述合路负压信号输入端之间的通路上，又位于所述第一熔丝和所述合路负压信号输入端之间的通路上；所述第二电压采样点既位于所述正压信号输入端与所述合路负压信号输入端之间的通路上，又位于所述第二熔丝和所述合路负压信号输入端之间的通路上。4.根据权利要求1至3中任意一项所述的检测装置，其特征在于，所述第一纯电阻模块包括第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻和第五电阻；所述第二纯电阻模块包括第七电阻、第八电阻、第九电阻、第十电阻和第十一电阻；所述第一电阻的等效阻值等于所述第七电阻的等效阻值，所述第二电阻的等效阻值等于所述第八电阻的等效阻值，所述第三电阻的等效阻值等于所述第九电阻的等效阻值，所述第四电阻的等效阻值等于所述第十电阻的等效阻值，所述第五电阻的等效阻值等于所述第十一电阻的等效阻值。5.根据权利要求4所述的检测装置，其特征在于，所述第一纯电阻模块与所述第一熔丝、正压信号输入端和合路负压信号输入端的连接关系具体为：连接在所述第一熔丝和所述正压信号输入端之间的电阻包括所述第一电阻、所述第二电阻和所述第三电阻，其中，所述第一电阻和所述第二电阻串联连接之后与所述第三电阻并联连接；连接在所述正压信号输入端与所述合路负压信号输入端之间的电阻包括所述第一电阻、所述第四电阻和所述第五电阻，所述第一电阻与所述第四电阻和所述第五电阻串联连接；连接在所述第一熔丝和所述合路负压信号输入端之间的电阻包括所述第二电阻、所述第四电阻和所述第五电阻，所述第二电阻与所述第四电阻和所述第五电阻串联连接。6.根据权利要求4所述的检测装置，其特征在于，所述第二纯电阻模块与所述第二熔丝、所述正压信号输入端和所述合路负压信号输入端之间的连接关系具体为：连接在所述第二熔丝和所述正压信号输入端之间的电阻包括所述第七电阻、所述第八电阻和所述第九电阻，其中，所述第七电阻和所述第八电阻串联连接之后与所述第九电阻并联连接；连接在所述正压信号输入端与所述合路负压信号输入端之间的电阻包括所述第七电阻、所述第十电阻和所述第十一电阻，所述第七电阻与所述第十电阻和所述第十一电阻串联连接；连接在所述第二熔丝和所述合路负压信号输入端之间的电阻包括所述第八电阻、所述第十电阻和所述第十一电阻，所述第八电阻与所述第十电阻和所述第十一电阻串联连接。7.根据权利要求5或6所述的检测装置，其特征在于，所述第一电压采样点位于所述第四电阻和所述第五电阻之间；所述第二电压采样点位于所述第十电阻和所述第十一电阻之间。8.根据权利要求1至7中任一项所述的检测装置，其特征在于，所述检测装置还包括第一开关和第二开关，第一控制芯片和第二控制芯片；所述第一开关，其控制端与所述第一控制芯片连接，其另外两端连接在所述第一负压信号输入端和所述合路负压信号输入端之间；所述第二开关，其控制端与所述第二控制芯片连接，其另外两端连接在第二负压信号输入端和所述合路负压信号输入端之间；所述第一控制芯片，用于根据流经所述第一开关的另外...

【专利技术属性】
技术研发人员：王亚彪，李杰红，郑连生，
申请(专利权)人：华为技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44