光学测量装置以及光学测量装置用适配器制造方法及图纸

技术编号:19021290 阅读:25 留言:0更新日期:2018-09-26 18:32
本发明专利技术提供一种光学测量装置以及光学测量装置用适配器,用于在传感器头与控制器分离的光学测量装置中,方便地管理校准数据。光学测量装置包括:控制器,包含投光部、受光部及控制部;头部,包含光学系统与缆线;以及适配器,可电性或光学连接于头部的缆线及控制器地构成,且可装卸于缆线及控制器地构成。适配器包含ROM,所述ROM存储有用于对头部的测量值进行修正的校准数据。

【技术实现步骤摘要】
光学测量装置以及光学测量装置用适配器
本专利技术涉及一种光学测量装置以及光学测量装置用适配器(adapter)。
技术介绍
已知有一种光学测量装置,其传感器头(sensorhead)与控制器(controller)分离,通过光纤(fiber)来连接传感器头与控制器。例如日本专利特开2012-208102号公报揭示了一种共焦测量装置,其利用共焦光学系统来非接触地对测量对象物的位移进行测量。所述测量装置具有头部、控制器部、及构成头部与控制器部之间的光路的光纤。为了实现传感器的准确测量,有时必须对传感器头的测量值进行校准(calibration)。然而,由于日本专利特开2012-208102号公报所揭示的头部不具有电子零件,因此无法保持校准结果。另一方面,在与传感器头独立地管理存储校准数据的存储器(memory)时,管理变得繁琐。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种光学测量装置以及光学测量装置用适配器,用于在传感器头与控制器分离的光学测量装置中方便地管理校准数据。本专利技术的一方面的光学测量装置包括:控制器,包含产生照射光投至测量对象的投光部、接收来自测量对象的反射光的受光部、及基于受本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光学测量装置,其特征在于包括:控制器,包含产生照射光投至测量对象的投光部、接收来自所述测量对象的反射光的受光部、及基于所述受光部的受光量来算出测量值的控制部;传感器头,包含光学系统与缆线,所述光学系统用于将所述照射光投射至所述测量对象,且接收来自所述测量对象的所述反射光,所述缆线用于将来自所述控制器的所述投光部的所述照射光传递至所述光学系统,并且将所述反射光从所述光学系统传递至所述控制器的所述受光部;以及适配器,可电性或光学连接于所述传感器头的所述缆线及所述控制器地构成,且可装卸于所述缆线及所述控制器地构成,所述适配器包含存储器,所述存储器存储有用于对所述传感器头的测量值进行修正的校准...

【技术特征摘要】
2017.03.13 JP 2017-0470781.一种光学测量装置,其特征在于包括:控制器,包含产生照射光投至测量对象的投光部、接收来自所述测量对象的反射光的受光部、及基于所述受光部的受光量来算出测量值的控制部;传感器头,包含光学系统与缆线,所述光学系统用于将所述照射光投射至所述测量对象,且接收来自所述测量对象的所述反射光,所述缆线用于将来自所述控制器的所述投光部的所述照射光传递至所述光学系统,并且将所述反射光从所述光学系统传递至所述控制器的所述受光部;以及适配器,可电性或光学连接于所述传感器头的所述缆线及所述控制器地构成,且可装卸于所述缆线及所述控制器地构成,所述适配器包含存储器,所述存储器存储有用于对所述传感器头的测量值进行修正的校准数据。2.根据权利要求1所述的光学测量装置,其特征在于,所述缆线是可连接于延长缆线的第1端地构成,所述光学测量装置还包括追加适配器,所述追加适配器构成为,与所述适配器一同连接于所述延长缆线的第2端与所述控制器之间,所述追加适配器包含存储器,所述追加适配器的所述存储器存储有表示所述延长缆线的长度的数据。3.根据权利要求1所述的光学测量装置,其特征在于,所述缆线包含光纤,所述适配器包含摄像部,所述摄像部拍摄连接于所述适配器的所述光纤的端面,并将所述端面的图像信息输出至所述控制器的所述控制部。4.根据权利要求1至3中任一项所述的光学测量装置,其特征在于,所述传感器头包含发出具有不用于测量的波长的光的发光部,所述光学测量装置还包括可装卸于所述传感器头的附件,所述附件包含无线发送部,所述无线发送部将用于驱动所述发光部的电力通过无线而供给至所述发光部,所述发光部将表示所述传感器头的识别信息的光信号通过所述缆线及所述适配器而发送至所述控制器,所述控制器的所述受光部对所述光信号进行光电转换,并将表示所述识别信息的电信号输出至所述控制部。5.根据权利要求1至3中任一项所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员:保理江胜
申请(专利权)人:欧姆龙株式会社
类型:发明
国别省市:日本,JP

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