【技术实现步骤摘要】
CCD/CMOS参数检测系统
本技术涉及CCD/CMOS检测
，更为具体地，涉及一种CCD/CMOS多参数的检测系统。
技术介绍
目前CCD/CMOS广泛应用在数码摄影、航空航天、天文探测、频谱望远镜等领域，在工业上CCD/CMOS用于测量尺寸、采集图像、探测高温。CCD/CMOS可直接将光学信号转换为数字电信号，实现图像的获取、存储、传输、处理和复现。其显著特点是：1.体积小重量轻；2.功耗小，工作电压低，抗冲击与震动，性能稳定，寿命长；3.灵敏度高，噪声低、动态范围大；4.响应速度快，有自扫描功能，图像畸变小，无残像；5.应用超大规模集成电路工艺技术生产，像素集成度高，尺寸精确，商品化生产成本低。因此，许多采用光学方法测量外径的仪器，把CCD/CMOS作为光电接收器。但是，在现有的技术中，CCD/CMOS的参数检测方式比较复杂，数据参数不可靠，检测数据单一，受外界环境干扰严重，不支持多种CCD/CMOS输出模式，且不利于批量的进行CCD/CMOS参数检测。
技术实现思路
鉴于上述问题，本技术的目的是提供一种CCD/CMOS参数检测系统，以解决现有的CCD/CMO...
【技术保护点】
1.一种CCD/CMOS参数检测系统，其特征在于，包括：硬件检测装置和控制装置；其中，所述硬件检测装置包括工作平台(25)，在所述工作平台(25)上设置有积分球(2)和光学暗室(3)，在所述积分球(2)上设置有第一进光口(5)、第二进光口(8)、第三进光口(10)、第一出光口(12)、第二出光口(13)和第三出光口(16)，在所述第一进光口处设置有弱光LED灯(4)，在所述弱光LED灯(4)上设置有衰减片(6)，在所述第二进光口(8)处设置有强光LED灯(7)，在所述第三进光口(10)处设置有强光卤素灯(9)，所述第三出光口(16)位于所述光学暗室(3)内，在所述第三出光口...
【技术特征摘要】
1.一种CCD/CMOS参数检测系统，其特征在于，包括：硬件检测装置和控制装置；其中，所述硬件检测装置包括工作平台(25)，在所述工作平台(25)上设置有积分球(2)和光学暗室(3)，在所述积分球(2)上设置有第一进光口(5)、第二进光口(8)、第三进光口(10)、第一出光口(12)、第二出光口(13)和第三出光口(16)，在所述第一进光口处设置有弱光LED灯(4)，在所述弱光LED灯(4)上设置有衰减片(6)，在所述第二进光口(8)处设置有强光LED灯(7)，在所述第三进光口(10)处设置有强光卤素灯(9)，所述第三出光口(16)位于所述光学暗室(3)内，在所述第三出光口(16)处设置有鉴别率板(15)，在所述光学暗室(3)的室内底部设置有变焦调节机构(21)，在所述变焦调节机构(21)上设置有光学镜头精密调节平台(18)和CCD/CMOS精密调节夹具(20)，在所述光学镜头精密调节平台(18)上设置有变焦透镜组(17)，在所述CCD/CMOS精密调节夹具(20)上夹有待测CCD/COMS(19)，所述待测CCD/COMS(19)、所述变焦透镜组(17)与所述第三出光口(16)成一条直线；在所述工作平台(25)内设置有工控机(22)、强光照度计(23)、弱光照度计(24)、弱光LED及卤素灯驱动电源(26)、强光LED灯驱动电源(27)和CCD/...
【专利技术属性】
技术研发人员：谭勇，辛敏思，贾强，赵猛，陈新邑，蔡红星，刘立欣，张赤军，
申请(专利权)人：长春理工大学，
类型：新型
国别省市：吉林,22
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