一种大尺寸半导体底座的检具制造技术

本实用新型专利技术涉及一种大尺寸半导体底座的检具，它包括：第一定位板组；第二定位板，所述第二定位板一体设置于所述第一定位板侧面的中部，其上开设有多个第二检测孔且具有由自由端延伸至其侧面的定位斜面；第三定位板组；第四定位板组，所述第四定位板组包括一体设置于所述第一定位板另一侧面且与其相垂直的第一延伸板、一体设置于所述第一定位板另一侧面且倾斜设置的第二延伸板、一体设置于所述第一延伸板端部和所述第二延伸板端部的第四定位板、开设于所述第四定位板上的多个第三减重孔以及开设于所述第四定位板上的多个第四检测孔。从而利用各自的检测孔对半导体底座上的安装孔进行各自检测以确保没有安装孔偏位。

A checking fixture for large size semiconductor base

The utility model relates to a measuring tool for a large-sized semiconductor base, which comprises a first positioning plate group, a second positioning plate, the second positioning plate integrally arranged in the middle of the side of the first positioning plate, on which a plurality of second detection holes are provided and a positioning inclined plane extending from the free end to its side, and a third positioning plate. The fourth positioning plate group comprises a first extension plate integrally disposed on the other side of the first positioning plate and perpendicular to the first positioning plate, a second extension plate integrally disposed on the other side of the first positioning plate and obliquely disposed, and a second extension plate integrally disposed at the end of the first extension plate and the second extension plate. The fourth positioning plate of the section, a plurality of third weight reducing holes arranged on the fourth positioning plate and a plurality of fourth detection holes arranged on the fourth positioning plate. Thus, the mounting holes on the semiconductor substructure are respectively detected by the respective detection holes to ensure that there is no mounting hole offset.

【技术实现步骤摘要】
一种大尺寸半导体底座的检具
本技术涉及一种检测辅具，具体涉及一种大尺寸半导体底座的检具。
技术介绍
半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料，半导体发光二极管（记作LED）是利用外电源向PN结注入电子来发光的，是由P型半导体形成的P层和N型半导体形成的N层，以及中间的由双异质结构成的有源层组成。LED的集成和封装通常由大型的自动化生产设备进行；而大尺寸半导体底座是前述自动化生产设备基本的部分，起到支撑、固定的作用，因此需要在底座上开设位置特定的安装孔以满足自动化生产设备的组装。现有底座上的安装孔无法同时进行位置检测，因此就可能存在某些安装孔的位置偏离而影响自动化生产设备的精度。显然设计能够对底座上的多个安装孔同时进行检测的检具具有现实的意义。
技术实现思路
本技术目的是为了克服现有技术的不足而提供一种大尺寸半导体底座的检具。为达到上述目的，本技术采用的技术方案是：一种大尺寸半导体底座的检具，它包括：第一定位板组，所述第一定位板组包括第一定位板、开设于所述第一定位板中央的第一避让洞、开设于所述第一定位板上且位于所述第一避让洞两侧的多个第一减重孔以及开设于所述第一定位板上且围绕所述第一避让洞的多个第一检测孔；第二定位板，所述第二定位板一体设置于所述第一定位板侧面的中部，其上开设有多个第二检测孔且具有由自由端延伸至其侧面的定位斜面；第三定位板组，所述第三定位板组包括固定在所述第一定位板底面边缘处的支撑竖板、固定在所述支撑竖板底部且与所述第一定位板相平行的第三定位板、开设于所述第三定位板上的多个第二减重孔以及开设于所述第三定位板上的多个第三检测孔；第四定位板组，所述第四定位板组包括一体设置于所述第一定位板另一侧面且与其相垂直的第一延伸板、一体设置于所述第一定位板另一侧面且倾斜设置的第二延伸板、一体设置于所述第一延伸板端部和所述第二延伸板端部的第四定位板、开设于所述第四定位板上的多个第三减重孔以及开设于所述第四定位板上的多个第四检测孔。优化地，所述第一定位板组还包括由所述第一定位板延伸至所述第一避让洞内的定位凸块。优化地，所述第三定位板组还包括一体设置于所述第三定位板外端面两侧的卡接凸起。由于上述技术方案运用，本技术与现有技术相比具有下列优点：本技术大尺寸半导体底座的检具，通过将特定结构的第一定位板组、第二定位板、第三定位板组和第四定位板组进行组合，能够卡接在半导体底座上从而利用各自的检测孔对半导体底座上的安装孔进行各自检测以确保没有安装孔偏位。附图说明附图1为本技术大尺寸半导体底座的检具的结构示意图。具体实施方式下面结合附图所示的实施例对本技术作进一步描述。如图1所示的大尺寸半导体底座的检具，主要包括第一定位板组21、第二定位板22、第三定位板组23和第四定位板组24等。其中，第一定位板组21包括第一定位板211、开设在第一定位板211中央的第一避让洞212、开设在第一定位板211上且位于第一避让洞212两侧的多个第一减重孔213以及开设在第一定位板211上且围绕第一避让洞212的多个第一检测孔215；第一避让洞212的尺寸较大，宽度约为第一定位板211宽度的一半，长度约为第一定位板211长度的3/4；多个第一减重孔213的大小不一，可以根据需要设置。在本实施例中，第一定位板组21还包括由第一定位板211延伸至第一避让洞212内的定位凸块214（即定位凸块214位于第一定位板211内且由第一避让洞212的边缘向其内部延伸），它可以与半导体底座部件进行定位对齐。第二定位板22则一体设置在第一定位板211侧面的中部，其上开设有多个第二检测孔222且具有倾斜设置的定位斜面221，该定位斜面221由第二定位板22的自由端向其侧面（与第三定位板组23相对应的侧面）延伸而与其相交。第三定位板组23包括固定在第一定位板211底面边缘处的支撑竖板231（即支撑竖板231安装在与安装第二定位板22侧面相邻的侧面处）、固定在支撑竖板231底部且与第一定位板211相平行的第三定位板232、开设在第三定位板232上的多个第二减重孔234以及开设在第三定位板232上的多个第三检测孔235；在本实施例中，第三定位板组23还包括两个卡接凸起233，它们一体设置在第三定位板232外端面的两侧（亦即第三定位板232两侧面的端部）。第四定位板组24包括一体设置在第一定位板211另一侧面（即与安装第二定位板22侧面相对设置的侧面）且与其相垂直的第一延伸板242、一体设置在第一定位板211另一侧面且倾斜设置的第二延伸板241、一体设置在第一延伸板242端部和第二延伸板241端部的第四定位板243（第一延伸板242、第二延伸板241和第四定位板243围成面积较大的第二避让洞）、开设在第四定位板243上的多个第三减重孔244以及开设在第四定位板243上的多个第四检测孔245。通过将特定结构的第一定位板组21、第二定位板22、第三定位板组23和第四定位板组24进行组合，能够卡接在半导体底座上从而利用各自的检测孔对半导体底座上的安装孔进行各自检测以确保没有安装孔偏位。上述实施例只为说明本技术的技术构思及特点，其目的在于让熟悉此项技术的人士能够了解本技术的内容并据以实施，并不能以此限制本技术的保护范围。凡根据本技术精神实质所作的等效变化或修饰，都应涵盖在本技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种大尺寸半导体底座的检具，其特征在于，它包括：第一定位板组（21），所述第一定位板组（21）包括第一定位板（211）、开设于所述第一定位板（211）中央的第一避让洞（212）、开设于所述第一定位板（211）上且位于所述第一避让洞（212）两侧的多个第一减重孔（213）以及开设于所述第一定位板（211）上且围绕所述第一避让洞（212）的多个第一检测孔（215）；第二定位板（22），所述第二定位板（22）一体设置于所述第一定位板（211）侧面的中部，其上开设有多个第二检测孔（222）且具有由自由端延伸至其侧面的定位斜面（221）；第三定位板组（23），所述第三定位板组（23）包括固定在所述第一定位板（211）底面边缘处的支撑竖板（231）、固定在所述支撑竖板（231）底部且与所述第一定位板（211）相平行的第三定位板（232）、开设于所述第三定位板（232）上的多个第二减重孔（234）以及开设于所述第三定位板（232）上的多个第三检测孔（235）；第四定位板组（24），所述第四定位板组（24）包括一体设置于所述第一定位板（211）另一侧面且与其相垂直的第一延伸板（242）、一体设置于所述第一定位板（211）另一侧面且倾斜设置的第二延伸板（241）、一体设置于所述第一延伸板（242）端部和所述第二延伸板（241）端部的第四定位板（243）、开设于所述第四定位板（243）上的多个第三减重孔（244）以及开设于所述第四定位板（243）上的多个第四检测孔（245）。...

【技术特征摘要】
1.一种大尺寸半导体底座的检具，其特征在于，它包括：第一定位板组（21），所述第一定位板组（21）包括第一定位板（211）、开设于所述第一定位板（211）中央的第一避让洞（212）、开设于所述第一定位板（211）上且位于所述第一避让洞（212）两侧的多个第一减重孔（213）以及开设于所述第一定位板（211）上且围绕所述第一避让洞（212）的多个第一检测孔（215）；第二定位板（22），所述第二定位板（22）一体设置于所述第一定位板（211）侧面的中部，其上开设有多个第二检测孔（222）且具有由自由端延伸至其侧面的定位斜面（221）；第三定位板组（23），所述第三定位板组（23）包括固定在所述第一定位板（211）底面边缘处的支撑竖板（231）、固定在所述支撑竖板（231）底部且与所述第一定位板（211）相平行的第三定位板（232）、开设于所述第三定位板（232）上的多个第二减重孔（234）以及...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈宏，
申请(专利权)人：苏州弘远机械制造股份有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏,32