缺陷检查系统、膜制造装置及方法、印刷装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供能够减少由搬运过程中的膜中产生的颤动带来的影响从而适当地向膜记录缺陷信息的缺陷检查系统、膜制造装置、膜制造方法、印刷装置以及印刷方法。缺陷检查系统具备：搬运线，其搬运长条带状的膜；缺陷检查装置，其进行由搬运线搬运的膜的缺陷检查；以及记录装置(13)，其将基于缺陷检查的结果的缺陷信息记录于由搬运线搬运的膜(F105)，记录装置(13)具有通过向膜(F105)的沿着端缘部的记录区域排出墨水(i)从而印刷缺陷信息的印刷头(13a)，印刷头(13a)与同膜(F105)接触的引导辊(153c)对置地配置。

Defect inspection system, film manufacturing device and method, printing device and method

The present invention provides a defect inspection system, a membrane manufacturing device, a membrane manufacturing method, a printing device, and a printing method capable of reducing the effect caused by the flutter in the film during the transportation process so as to properly record defect information to the film. The defect inspection system consists of a conveyor line, which carries a long strip of film; a defect inspection device, which inspects the defect of the film carried by the conveyor line; and a recording device (13), which records the defect information based on the results of the defect inspection on the film carried by the conveyor line (F105), and a recording device (13) having a film passing through the film (F105). The printing head (13a) for printing defect information is discharged along the recording area of the end edge portion, and the guiding roller (153c) in contact with the same film (F105) is disposed in opposite positions.

【技术实现步骤摘要】
缺陷检查系统、膜制造装置及方法、印刷装置及方法
本专利技术涉及缺陷检查系统、膜制造装置、膜制造方法、印刷装置以及印刷方法。
技术介绍
例如，偏振板等光学膜在进行了异物缺陷、凹凸缺陷等的缺陷检查后，卷绕于芯材。与缺陷的位置、种类相关的信息(以下，称作缺陷信息)通过在光学膜的端部印刷条形码、在缺陷位置实施标注而记录于光学膜。卷绕于芯材的光学膜在卷绕量达到一定量时与上游侧的光学膜分离，并作为卷料辊而出厂。例如，在专利文献1中公开了在光学膜的搬运线上具备缺陷检查装置和将缺陷信息记录于膜的记录装置的缺陷检查系统。在先技术文献专利文献专利文献1：日本特开2011-7779号公报然而，在上述的缺陷检查系统中，在将缺陷信息记录于光学膜时，有时根据光学膜的状态、搬运条件等，而在搬运过程中的光学膜中产生颤动。在光学膜中产生这种颤动的情况下，存在通过从印刷头排出的墨水印刷的缺陷信息无法良好地记录于沿着光学膜的端缘部的记录区域从而变得不清楚(印刷错误)的可能性。
技术实现思路
专利技术所要解决的课题本专利技术是鉴于这种以往的情况而提出的，其目的在于提供能够减少由搬运过程中的膜中产生的颤动带来的影响从而适当地向膜记录缺陷信息的缺陷检查系统、膜制造装置、膜制造方法、印刷装置以及印刷方法。用于解决课题的方案作为用于解决上述课题的方案，本专利技术的方式提供缺陷检查系统，其特征在于，具备：搬运线，其搬运长条带状的膜；缺陷检查装置，其进行由所述搬运线搬运的膜的缺陷检查；以及记录装置，其将基于所述缺陷检查的结果的缺陷信息记录于由所述搬运线搬运的膜，所述记录装置具有在所述膜的沿着端缘部的记录区域印刷所述缺陷信息的印刷头，所述印刷头与同所述膜接触的引导辊对置地配置，从所述膜的与同所述引导辊接触的位置相反的一侧进行印刷。另外，在所述方式的缺陷检查系统中，也可以为，所述膜以40°～130°的角度范围张挂于所述引导辊的外周面。另外，在所述方式的缺陷检查系统中，也可以为，所述印刷头向所述膜的记录区域排出墨水，从而印刷所述缺陷信息。另外，在所述方式的缺陷检查系统中，也可以为，所述记录装置具有罩，该罩防止墨水附着于所述膜的至少比所述记录区域靠内侧的区域。另外，在所述方式的缺陷检查系统中，也可以为，所述缺陷检查系统具备静电去除装置，该静电去除装置位于所述膜的搬运方向上的比所述记录装置靠上游侧的位置，且对所述膜的表面进行除电。另外，本专利技术的方式提供具备所述任一个缺陷检查系统的膜制造装置。另外，本专利技术的方式提供包括使用所述任一个缺陷检查系统进行缺陷检查的工序的膜制造方法。另外，本专利技术的方式提供印刷装置，其特征在于，所述印刷装置具备在搬运长条带状的膜的期间对所述膜印刷信息的印刷头，所述印刷头与同所述膜接触的引导辊对置地配置，从所述膜的与同所述引导辊接触的位置相反的一侧进行印刷。另外，本专利技术的方式提供印刷方法，其特征在于，所述印刷方法包括在搬运长条带状的膜的期间使用印刷头对所述膜印刷信息的工序，将所述印刷头与同所述膜接触的引导辊对置地配置，从所述膜的与同所述引导辊接触的位置相反的一侧进行印刷。专利技术效果如以上那样，根据本专利技术的方式，可提供能够减少由搬运过程中的膜中产生的颤动带来的影响从而适当地向膜记录缺陷信息的缺陷检查系统、膜制造装置、膜制造方法、印刷装置以及印刷方法。附图说明图1是示出液晶显示面板的一例的俯视图。图2是图1中所示的液晶显示面板的剖视图。图3是示出光学膜的一例的剖视图。图4是示出膜制造装置以及缺陷检查系统的结构的侧视图。图5是示出记录装置的一例的侧视图。图6示出罩的一例，(a)是从该膜的上方侧观察时的俯视图，(b)是从该膜的上游侧观察时的侧视图，(c)是从该膜的外侧观察时的侧视图。图7是示出罩的变形例的俯视图。图8示出罩的变形例，(a)是其立体图，(b)是其侧视图。图9示出罩的另一实施方式，(a)是其俯视图，(b)是其侧视图。附图标记说明100…膜制造装置；101…第一搬运线；102…第二搬运线；103…第三搬运线；104…第四搬运线；105…第五搬运线；106…卷绕部；111a、111b…第一夹持辊；112…第一蓄积器；112a、112b…第一松紧调节辊；113…第一引导辊；121a、121b…第二夹持辊；122…第二蓄积器；122a、122b…第二松紧调节辊；123a、123b…第二引导辊；131a、131b…第三夹持辊；141a、141b…第四夹持辊；142…第三蓄积器；142a、142b…第三松紧调节辊；143a、143b…第四引导辊；151a、151b…第五夹持辊；152…第四蓄积器；152a、152b…第四松紧调节辊；153a…第五引导辊；153b…第六引导辊；153c…第七引导辊；10…缺陷检查系统；11…第一缺陷检查装置；12…第二缺陷检查装置；13…记录装置；13a…印刷头；14…第一测长器；15…第二测长器；16…控制装置；21a、22a、23a、24a、25a…照明部；21b、22b、23b、24b、25b…光检测部；30…罩；30a…第一侧板部；30b…第二侧板部；30c…第三侧板部；30d…第四侧板部；31…罩；32…罩；32…窗部；40…静电去除装置；P…液晶显示面板(光学显示设备)；F1X…光学膜；F10X…光学膜；F101…第一膜；F102…第二膜；F103…第三膜；F104…单面贴合膜；F105…两面贴合膜。具体实施方式以下，参照附图对本专利技术的实施方式进行详细说明。在本实施方式中，作为光学显示设备的生产系统，对构成其一部分的膜制造装置、以及使用该膜制造装置的膜制造方法进行说明。膜制造装置制造例如在液晶显示面板、有机EL显示面板等这样的面板状的光学显示部件(光学显示面板)贴合的、例如偏振膜、相位差膜、增亮膜等这样的膜状的光学构件(光学膜)。膜制造装置构成生产包含这种光学显示部件、光学构件的光学显示设备的生产系统的一部分。在本实施方式中，作为光学显示设备例示了透射型的液晶显示装置。透射型的液晶显示装置大体具备液晶显示面板和背光装置。在该液晶显示装置中，使从背光装置出射的照明光从液晶显示面板的背面侧入射，并使由液晶显示面板调制后的光从液晶显示面板的表面侧出射，从而能够显示图像。(光学显示设备)首先，作为光学显示设备，对图1以及图2所示的液晶显示面板P的结构进行说明。需要说明的是，图1是示出液晶显示面板P的结构的俯视图。图2是图1中所示的切断线A-A处的液晶显示面板P的剖视图。需要说明的是，在图2中省略了表示剖面的剖面线的图示。如图1以及图2所示，液晶显示面板P大体具备：第一基板P1、与第一基板P1对置地配置的第二基板P2、以及配置在第一基板P1与第二基板P2之间的液晶层P3。第一基板P1由在俯视观察时呈长方形的透明基板构成。第二基板P2由呈比第一基板P1小的长方形的透明基板构成。液晶层P3通过密封件(未图示)将第一基板P1与第二基板P2之间的周围密封，并配置在被密封件包围的在俯视观察时呈长方形的区域的内侧。在液晶显示面板P中，将在俯视观察时位于液晶层P3的外周的内侧的区域设为显示区域P4，将包围该显示区域P4的周围的外侧的区域设为边框部G。在液晶显示面板P的背面(背光装置侧)贴合有作为偏振膜的第一光学膜F11。在液晶显示面板P的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种缺陷检查系统，其特征在于，具备：搬运线，其搬运长条带状的膜；缺陷检查装置，其进行由所述搬运线搬运的膜的缺陷检查；以及记录装置，其将基于所述缺陷检查的结果的缺陷信息记录于由所述搬运线搬运的膜，所述记录装置具有在所述膜的沿着端缘部的记录区域印刷所述缺陷信息的印刷头，所述印刷头与同所述膜接触的引导辊对置地配置，从所述膜的与同所述引导辊接触的位置相反的一侧进行印刷。

【技术特征摘要】
2017.03.03 JP 2017-0409261.一种缺陷检查系统，其特征在于，具备：搬运线，其搬运长条带状的膜；缺陷检查装置，其进行由所述搬运线搬运的膜的缺陷检查；以及记录装置，其将基于所述缺陷检查的结果的缺陷信息记录于由所述搬运线搬运的膜，所述记录装置具有在所述膜的沿着端缘部的记录区域印刷所述缺陷信息的印刷头，所述印刷头与同所述膜接触的引导辊对置地配置，从所述膜的与同所述引导辊接触的位置相反的一侧进行印刷。2.根据权利要求1所述的缺陷检查系统，其特征在于，所述膜以40°～130°的角度范围张挂于所述引导辊的外周面。3.根据权利要求1或2所述的缺陷检查系统，其特征在于，所述印刷头向所述膜的记录区域排出墨水，从而印刷所述缺陷信息。4.根据权利要求3所述的缺陷检查系统，其特征在于，所述记录装置具有罩，该罩防止所述墨水...

【专利技术属性】
技术研发人员：桥口大辅，
申请(专利权)人：住友化学株式会社，
类型：发明
国别省市：日本,JP