测量反射率的工装装置及制作测量反射率的试样的方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供了测量反射率的工装装置及制作测量反射率的试样的方法，该装置，包括：盒体、盖体和金属板；所述盒体设置有空腔；所述盖体与所述盒体相匹配，所述盖体盖到所述盒体上能够将所述空腔封闭；所述金属板衬在所述盒体上；所述金属板与所述盒体中的空腔相匹配；所述盒体和所述盖体均由泡沫材料制成。本发明专利技术提供了测量反射率的工装装置及制作测量反射率的试样的方法，方便对非固体材料进行制样。

Tooling for measuring reflectivity and method for producing reflectivity specimen

The invention provides a tooling device for measuring reflectivity and a method for making a sample for measuring reflectivity. The device comprises a box body, a cover body and a metal plate; the box body is provided with a cavity; the cover body matches the box body; the cover body can seal the cavity on the box body; and the metal plate is lined with the cavity. The metal plate is matched with the cavity in the box body, and the box body and the cover body are made of foam material. The invention provides a tooling device for measuring reflectivity and a method for making a sample for measuring reflectivity, so as to facilitate sample preparation of non-solid materials.

【技术实现步骤摘要】
测量反射率的工装装置及制作测量反射率的试样的方法
本专利技术涉及测量
，尤其涉及测量反射率的工装装置及制作测量反射率的试样的方法。
技术介绍
在测量反射率时，首先需要对待测量材料进行制样，将待测量材料制成满足放置要求的试样，以保证测试结果准确、有效。针对固体材料可以通过涂覆、贴片等方式来制样。但是，现有技术中，对应非固体材料无法实现制样。
技术实现思路
本专利技术实施例提供了测量反射率的工装装置及制作测量反射率的试样的方法，方便对非固体材料进行制样。第一方面，本专利技术实施例提供了一种测量反射率的工装装置，包括：盒体、盖体和金属板；所述盒体设置有空腔；所述盖体与所述盒体相匹配，所述盖体盖到所述盒体上能够将所述空腔封闭；所述金属板衬在所述盒体上；所述金属板与所述盒体中的空腔相匹配；所述盒体和所述盖体均由泡沫材料制成。进一步地，所述空腔在所述金属板所在的平面上的正投影与所述金属板重合。进一步地，所述盖体包括：盖顶和芯柱；所述芯柱与所述盖顶相连，位于所述盖顶的下方，所述芯柱与所述盒体的所述空腔相匹配；所述芯柱上设置有凸环，所述空腔的内壁设置有凹槽，所述芯柱上的凸环与所述空腔的凹槽相匹配；在所述盖体盖在所述盒体上时，所述芯柱与所述空腔的内壁相贴合，所述盖顶将所述空腔的开口覆盖，所述凸环卡在所述凹槽中；所述芯柱是空心的。进一步地，所述空腔的深度满足以下公式：其中，H为所述空腔的深度，λ为测量反射率时的入射电感波的波长，n为所述空腔中放置的待测量材料的折射率，θ为所述入射电感波的入射角。进一步地，所述泡沫材料包括：聚四氟乙烯。进一步地，所述空腔，用于放置待测量材料。进一步地，所述待测量材料包括：非固态材料。第二方面，本专利技术实施例提供了一种利用第一方面中任一所述测量反射率的工装装置制作测量反射率的试样的方法，包括：将待测量材料放置到盒体的空腔中；将所述盖体盖到所述盒体的空腔的开口上，固定所述盖体使得所述空腔封闭；将放置有所述待测量材料的处于封闭状态的工装装置作为试样。进一步地，所述待测量材料，包括：非固态材料。在本专利技术实施例中，利用设置有空腔的盒体来放置待测量材料，该待测量材料可以是非固体材料，利用盖体将放置有待测量材料的空腔封闭，在测量反射率时，能够使得待测量材料一直保留在空腔中，泡沫材料具有良好的透波性能，不会影响测量结果，在盒体上衬有金属板，该金属板与空腔相匹配，满足测量反射率的要求。在利用盖体封闭放置有待测量材料的空腔后，实现对待测量材料的制样，利用该工装装置对非固态材料进行制样非常方便。附图说明图1是本专利技术一实施例提供的一种测量反射率的工装装置的示意图；图2是本专利技术一实施例提供的一种盒体的示意图；图3是本专利技术一实施例提供的另一种盒体的示意图；图4是本专利技术一实施例提供的又一种盒体的示意图；图5是本专利技术一实施例提供的一种盒体和盖体的示意图；图6是本专利技术一实施例提供的一种金属板和盒体的示意图；图7是本专利技术一实施例提供的一种制作测量反射率的试样的方法的流程图。具体实施方式为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。如图1所示，本专利技术实施例提供了一种测量反射率的工装装置，包括：盒体101、盖体102和金属板103；所述盒体101设置有空腔1011；所述盖体102与所述盒体101相匹配，所述盖体102盖到所述盒体101上能够将所述空腔1011封闭；所述金属板103衬在所述盒体101上；所述金属板103与所述盒体101中的空腔1011相匹配；所述盒体101和所述盖体102均由泡沫材料制成。在本专利技术实施例中，利用设置有空腔的盒体来放置待测量材料，该待测量材料可以是非固体材料，利用盖体将放置有待测量材料的空腔封闭，在测量反射率时，能够使得待测量材料一直保留在空腔中，泡沫材料具有良好的透波性能，不会影响测量结果，在盒体上衬有金属板，该金属板与空腔相匹配，满足测量反射率的要求。在利用盖体封闭放置有待测量材料的空腔后，实现对待测量材料的制样，利用该工装装置对非固态材料进行制样非常方便。如图2所示，本专利技术实施例提供的一种盒体的示意图。该盒体为长方体，盒体的空腔也是长方体。图中示出了盒体的正面的剖面图。E1F1H1G1为空腔的剖面图，A1B1C1D1为盒体的剖面图。该盒体的尺寸可以是：A1B1和C1D1均为400，A1D1和B1C1均为350，G1H1、E1F1、E1G1和F1H1均为300，G1H1和A1B1之间的间隔为50。图3示出了图2中盒体的侧面的剖面图。E2F2H2G2为空腔的剖面图，A2B2C2D2为盒体的剖面图。该盒体的尺寸可以是：A2B2和C2D2均为200，A2D2和B2C2均为350，G2H2和E2F2均为100，E2G2和F2H2均为300，G2H2和A2B2之间的间隔为50。图4示出了图2中盒体的底面的剖面图。E3F3H3G3为空腔的剖面图，A3B3C3D3为盒体的剖面图。该盒体的尺寸可以是：A3B3和C3D3均为400，A3D3和B3C3均为200，G3H3和E3F3均为300，E3G3和F3H3均为100，G3H3和A2B2之间的间隔为50。基于图2所示的盒体，盖体可以是长方体，盖体中盖在盒体上的面的大小可以与盒体上的相对应的面相同。上述的尺寸的单位可以根据需要设置，例如：单位是毫米。如图5所示，本专利技术实施例提供的一种盒体与盖体的示意图。图5中，盖体盖在图2所示的盒体上。在本专利技术一实施例中，所述空腔在所述金属板所在的平面上的正投影与所述金属板重合。在本专利技术实施例中，能够保证测量反射率的准确性。举例来说，空腔为长方体，则该金属板与该长方体的一个面相同，即大小和形状均相同，该金属板的位置与该面相对应。如图6所示，本专利技术实施例提供的一种金属板与盒体的位置关系示意图。图6示出了金属板103、盒体101和盒体的空腔1011，该盒体和空腔均为长方体，图6是一个剖面图。金属板与空腔的底面的大小和形状均形态，金属板与空腔的底面的位置相对应。在本专利技术一实施例中，所述盖体包括：盖顶和芯柱；所述芯柱与所述盖顶相连，位于所述盖顶的下方，所述芯柱与所述盒体的所述空腔相匹配；所述芯柱上设置有凸环，所述空腔的内壁设置有凹槽，所述芯柱上的凸环与所述空腔的凹槽相匹配；在所述盖体盖在所述盒体上时，所述芯柱与所述空腔的内壁相贴合，所述盖顶将所述空腔的开口覆盖，所述凸环卡在所述凹槽中；所述芯柱是空心的。在本专利技术实施例中，该盖体上设置有芯柱，通过芯柱可以使得盖体对空腔的密封更好，在结合凸环与凹槽的配合，能够进一步提高密封的性能，放置空腔内的待测量材料泄露。在本专利技术一实施例中，所述空腔的深度满足以下公式：其中，H为所述空腔的深度，λ为测量反射率时的入射电感波的波长，n为所述空腔中放置的待测量材料的折射率，θ为所述入射电感波的入射角。在本专利技术实施例中，满足上述公式的空腔，与待测量材料的性质相配合，能够提高测量该待测量材料的反射率的准确性。在本专利技术一实施例中，所述泡沫材料包括：聚四氟乙烯。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测量反射率的工装装置，其特征在于，包括：盒体、盖体和金属板；所述盒体设置有空腔；所述盖体与所述盒体相匹配，所述盖体盖到所述盒体上能够将所述空腔封闭；所述金属板衬在所述盒体上；所述金属板与所述盒体中的空腔相匹配；所述盒体和所述盖体均由泡沫材料制成。

【技术特征摘要】
1.一种测量反射率的工装装置，其特征在于，包括：盒体、盖体和金属板；所述盒体设置有空腔；所述盖体与所述盒体相匹配，所述盖体盖到所述盒体上能够将所述空腔封闭；所述金属板衬在所述盒体上；所述金属板与所述盒体中的空腔相匹配；所述盒体和所述盖体均由泡沫材料制成。2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述空腔在所述金属板所在的平面上的正投影与所述金属板重合。3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述盖体包括：盖顶和芯柱；所述芯柱与所述盖顶相连，位于所述盖顶的下方，所述芯柱与所述盒体的所述空腔相匹配；所述芯柱上设置有凸环，所述空腔的内壁设置有凹槽，所述芯柱上的凸环与所述空腔的凹槽相匹配；在所述盖体盖在所述盒体上时，所述芯柱与所述空腔的内壁相贴合，所述盖顶将所述空腔的开口覆盖，所述凸环卡在所述凹槽中；所述芯柱是空心的。4.根据权利要求1所...

【专利技术属性】
技术研发人员：王桂明，赵汉清，苟菲，李帅涛，
申请(专利权)人：北京环境特性研究所，
类型：发明
国别省市：北京,11