放射线检测装置、放射线检查系统及放射线检测装置的调节方法制造方法及图纸

技术编号:18823966 阅读:40 留言:0更新日期:2018-09-01 13:18
本发明专利技术提供一种X射线检测装置,其是检测透过了检查对象物的X射线的装置,该X射线检测装置(10)具备:滤光部件(40),其具有使X射线中的一部分衰减的滤光片(42);检测部(20),其检测由滤光片(42)使一部分衰减后的X射线;箱体(30),其将检测部(20)收纳于内部。箱体(30)具有:包含X射线能够通过的狭缝(31)的主面(32)、和在与主面(32)垂直的方向上延伸且包含可将滤光片(42)从旁侧插入的开口(35)的侧面(34)。滤光部件(40)的滤光片(42)以在离开检测部(20)的状态下覆盖检测部(20)的线性传感器(22)及闪烁器(25)的方式配置于箱体(30)的内部。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】放射线检测装置、放射线检查系统及放射线检测装置的调节方法
本专利技术涉及一种放射线检测装置、放射线检查系统及放射线检测装置的调节方法。
技术介绍
向食品或医药品等检查对象物照射X射线,且从其透射X射线图像上检查对象物中有无异物的技术正在广泛流行。作为该检查,使用的是具备对从X射线源向对象物照射的X射线的透射图像进行检测的线性传感器的X射线检测装置。在X射线检测装置中,在要检测的异物不同的情况下(例如,在异物为肉食所含的骨头或者为金属的情况下),采用例如并列配置有两个线性传感器的结构,以使其能够分别检测不同能量范围的X射线(例如,参照专利文献1)。而且,在专利文献1记载的X射线检测装置中,为了使到达各线性传感器的各自的X射线的线质不同,将线质可变体设置在一个传感器上。现有技术文献专利文献专利文献1:特开2002-168803号公报
技术实现思路
专利技术想要解决的技术问题在这种能够检测不同异物的X射线检测装置中,优选能够灵活地变更检测灵敏度,以能够根据用途在考虑到SN比的条件下检测各种能量范围的X射线,在要进行变更的情况下,改变闪烁器,或者追加滤光片而进行调节。但是,每逢进行调节,都要更换本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种放射线检测装置,其中,该放射线检测装置从放射线源向检查对象物照射放射线,检测透过了该检查对象物的放射线,具备:滤光部件,其具有使入射的放射线中的至少一部分衰减的滤光片;检测部,其检测由所述滤光片使至少一部分衰减后的所述放射线;和箱体,其将所述检测部收纳于内部,所述箱体具有包含所述放射线能够通过的部分的主面、和在与所述主面交叉的方向上延伸且包含可将所述滤光片插入的开口的侧面,所述滤光片以在离开所述检测部的状态下覆盖所述检测部的至少一部分的方式配置于所述箱体的内部。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2015.12.21 JP 2015-2486501.一种放射线检测装置,其中,该放射线检测装置从放射线源向检查对象物照射放射线,检测透过了该检查对象物的放射线,具备:滤光部件,其具有使入射的放射线中的至少一部分衰减的滤光片;检测部,其检测由所述滤光片使至少一部分衰减后的所述放射线;和箱体,其将所述检测部收纳于内部,所述箱体具有包含所述放射线能够通过的部分的主面、和在与所述主面交叉的方向上延伸且包含可将所述滤光片插入的开口的侧面,所述滤光片以在离开所述检测部的状态下覆盖所述检测部的至少一部分的方式配置于所述箱体的内部。2.根据权利要求1所述的放射线检测装置,其中,所述箱体的所述开口具有比所述滤光片的端面大的面积。3.根据权利要求1或2所述的放射线检测装置,其中,所述滤光部件具有保持所述滤光片的保持部件,该保持部件由比所述滤光片更易使放射线透过的材料构成。4.根据权利要求1~3中任一项所述的放射线检测装置,其中,所述滤光部件具有止挡部,所述止挡部具有比所述开口大的表面积,该止挡部安装于所述箱体的所述侧面。5.根据权利要求1~4中任一项所述的放射线检测装置,其中,所述滤光部件在俯视时的外形为大致矩形,所述滤光片配置在其侧端区域内。6.根据权利要求1~5中任一项所述的放射线检测装置,其中,还具备定位部件,所述定位部件用于以所述滤光片覆盖所述检测部的规定区域的方式将所述滤光部件定位于所述箱体内。7.根据权利要求6所述的放射线检测装置,其中,所述定位部件与所述滤光部件的侧端的整体或一部分抵接而进行所述滤光片的定位。8.根据权利要求1~7中任一项所述的放射线检测装置,其中,所述检测部具有:具有第一像素宽度的像素一维地排列而成的第一线性传感器、和具有第二像素宽度的像素一维地排列且以比所述第一像素宽度及第二像素宽度更窄的间隔与所述第一线性传感器并列配置的第二线性传感器。9.根据权利要求8所述的放射线检测装置,其中,所述检测部还具有:配置在所述第一线性传感器上的第一闪烁器、和配置在所述第二线性传感器上的第二闪烁器。10.根据权利要...

【专利技术属性】
技术研发人员:大西达也
申请(专利权)人:浜松光子学株式会社
类型:发明
国别省市:日本,JP

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