放射线检测装置、放射线检查系统及放射线检测装置的调节方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种X射线检测装置，所述X射线检测装置(10)是检测透过了检查对象物的放射线的装置，其具备：滤光片(50)，其使透射X射线的一部分衰减；检测部(20)，其检测由滤光片(50)使一部分衰减了的透射X射线；箱体(30)；保持架(40)，其具有一个狭缝(42)。检测部(20)具有线性传感器(21)和与线性传感器(21)接近地并列配置的线性传感器(22)。保持架(40)以滤光片(50)覆盖狭缝(42)的一部分的方式将滤光片(50)保持在规定的位置，线性传感器(22)检测由滤光片(50)进行衰减后的X射线。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】放射线检测装置、放射线检查系统及放射线检测装置的调节方法
本专利技术涉及放射线检测装置、放射线检查系统及放射线检测装置的调节方法。
技术介绍
向食品或医药品等检查对象物照射X射线，且从其透射X射线图像上检查对象物中有无异物的技术正在广泛流行。该检查中，使用具备对从X射线源照射到对象物的X射线的透射图像进行检测的线性传感器的X射线检测装置。在该X射线检测装置中，在要检测的异物不同的情况下(例如，在异物为肉食所含的骨头或者为金属的情况下)，采用例如并列配置有两个线性传感器的结构，以使其能够分别检测不同能量范围的X射线。而且，在从这两个线性传感器产生的X射线图像中得到减影图像的情况下，为了得到更清晰的图像，优选减小线性传感器间的间隔。在此，提出了例如以将两个线性传感器并列于共用的传感器基板的方式形成，且减小两线性传感器间的间隔(非灵敏区)的技术(例如，参照专利文献1的图3)。现有技术文献专利文献专利文献1：特开2010-117170号公报专利文献2：特开2002-168803号公报
技术实现思路
专利技术所要解决的技术问题可是，在能够检测不同异物的X射线检测装置中，优选能够灵活地变更检测灵敏度，以根据用途在考虑到SN比的条件下还能够检测各种能量范围的X射线，但在这种情况下，需要改变闪烁器，或者追加滤光片而进行调节。但是，每逢进行调节，都要更换闪烁器，这是很困难的。另一方面，例如，专利文献2中提有改变滤光片的结构。但是，专利文献2的结构中，各传感器比较大，且彼此独立，难以直接用在如专利文献1那样两个线性传感器接近地配置的结构中。本专利技术是鉴于这种问题点而完成的，其目的在于，提供一种放射线检测装置、具备该放射线检测装置的放射线检查系统及该放射线检测装置的调节方法，其在线性传感器彼此接近地配置的放射线检测装置中，能够容易地将检测灵敏度更新至各种能量带。用于解决技术问题的手段本专利技术的一个实施方式的放射线检测装置从放射线源向检查对象物照射放射线，检测透过了该检查对象物的放射线，其具备：滤光片，其使入射的放射线的一部分衰减；检测部，其检测由滤光片使一部分衰减后的放射线；箱体，其将检测部收纳于内部；以及保持架，其具有能够通过入射的放射线的第一狭缝，配置于箱体的主面，并保持滤光片。在该放射线检测装置中，检测部具有：具有第一像素宽度的像素一维地排列而成的第一线性传感器、和具有第二像素宽度的像素一维地排列且以比第一及第二像素宽度窄的间隔与第一线性传感器并列配置的第二线性传感器，保持架以滤光片覆盖第一狭缝的至少一部分的方式将滤光片保持于规定位置，第二线性传感器检测由滤光片进行衰减后的放射线。在该放射线检测装置中，具备彼此接近配置的第一及第二线性传感器作为检测部，通过保持架以滤光片覆盖保持架所具有的第一狭缝的一部分的方式将滤光片保持在规定位置，从而第二线性传感器检测由滤光片进行衰减后的放射线。这样，通过另外设置能够进行滤光片的定位的保持架，从而能够容易地变更使放射线衰减的滤光片的种类。其结果是，根据本专利技术的一个实施方式，在线性传感器彼此接近地配置的放射线检测装置中，能够容易将检测灵敏度更新至各种能量带。在上述的放射线检测装置中，保持架也可以具有用于以滤光片部分地覆盖第一狭缝的方式定位该滤光片的定位部。在这种情况下，通过定位部位于保持架，即使进行改变了材料或厚度的各种滤光片的更换，更换后的滤光片也被可靠地定位在规定场所，能够容易地维持第一线性传感器检测未由滤光片进行衰减的放射线且第二线性传感器检测由滤光片进行衰减后的放射线的状态。此外，在这种情况下，定位部优选采用将滤光片的长度方向的两端进行固定的结构。这样，通过采用这样固定两端的结构，从而能够抑制定位部对中央区域中的放射线的检测产生影响。在上述的放射线检测装置中，滤光片和第二线性传感器的距离也可以为10mm以上且30mm以下。在这种情况下，能够降低要照射的放射线的散射线的影响，在各线性传感器中，能够更灵敏地检测透射放射线。在上述的放射线检测装置中，检测部还可以具有：配置在第一线性传感器上的第一闪烁器、和配置在第二线性传感器上的第二闪烁器。在这种情况下，例如，作为第一及第二闪烁器，采用不同性能的闪烁器，第一及第二线性传感器可使用相同的传感器。另一方面，第一及第二线性传感器也可以均为直接变换型放射线检测器。在这种情况下，因为不需要另外设置闪烁器，所以能够消减零件数量。在上述的放射线检测装置中，箱体也可以具有与保持架的第一狭缝对应的第二狭缝。在这种情况下，由各线性传感器检测的透射放射线会通过第一及第二狭缝，能够降低箱体原材料对各线性传感器的透射放射线的检测产生的影响。此外，在这种情况下，上述的放射线检测装置还可以具备覆盖第二狭缝的遮光膜，遮光膜配置在保持架和箱体之间。在这种情况下，能够防止异物(粉体、垃圾等)从第二狭缝侵入到箱体内部。在上述的放射线检测装置中，第一线性传感器也可以检测未由滤光片进行衰减的放射线。另外，第一线性传感器也可以检测由滤光片进行衰减后的放射线。另外，本专利技术中作为另一侧面，涉及放射线检查系统，该放射线检查系统具备：放射线源，其向检查对象物照射放射线；上述的任一种放射线检测装置；以及输送机构，其在与由放射线源产生的放射线的照射方向交叉的方向上输送检查对象物。在该检查系统中，与上述同样，由于能够容易地变更使放射线衰减的滤光片的种类，因此在彼此接近地配置有线性传感器的放射线检测装置中，能够容易将检测灵敏度更新至各种能量带，从而进行各种种类的检查对象物的检查。另外，本专利技术中，作为又一另一侧面，涉及上述的任一种放射线检测装置的调节方法，该调节方法具备如下工序：准备具有不同衰减功能的多个滤光片作为上述滤光片的工序；将多个滤光片依次保持于保持架的规定位置，并检测各自的放射线的工序；根据所检测的放射线的结果选择多个滤光片中的最佳滤光片的工序。在这种情况下，因为能够容易地从具有不同衰减功能的滤光片中选择最佳滤光片，所以能够容易地进行放射线检测装置的调节方法，能够容易地将放射线检测装置中的检测灵敏度更新至各种能量带。此外，在本专利技术中，也可以还具有在通过该调节方法进行调节后的放射线检测装置中，将在选择工序中选择到的最佳滤光片保持固定在保持架的规定位置的工序，从而制造放射线检测装置。通过这种制造方法，能够容易地制造可容易地将检测灵敏度更新至各种能量带的放射线检测装置。专利技术效果根据本专利技术，在彼此接近地配置有线性传感器的放射线检测装置中，能够容易地将检测灵敏度更新至各种能量带。附图说明图1是示意性地表示本实施方式的X射线检查系统的立体图；图2是示意性地表示本实施方式的X射线检测装置的截面图；图3是表示使用铜及铝作为滤光片时的半价层和管电压的关系的表，(a)表示的是无滤光片的情况和使用0.1mm厚的铜作为滤光片的情况的比较，(b)表示的是无滤光片的情况、使用0.1mm厚的铜作为滤光片的情况、以及使用0.1mm厚的铝作为滤光片的情况的比较，(c)表示的是无滤光片的情况、使用0.1mm厚的铜作为滤光片的情况、以及使用0.5mm厚的铜作为滤光片的情况的比较；图4是本实施方式的X射线检测装置的一例的立体图；图5是将图4所示的X射线检测装置的一例的上部进行分解所得的一部分分解立体图；图6是图4所示的X射线本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种放射线检测装置，其中，所述放射线检测装置从放射线源向检查对象物照射放射线，检测透过了该检查对象物的放射线，具备：滤光片，其使入射的放射线的一部分衰减；检测部，其检测由所述滤光片使一部分衰减后的放射线；箱体，其将所述检测部收纳于内部；和保持架，其具有可使所述入射的放射线通过的第一狭缝，配置于所述箱体的主面，并保持所述滤光片，所述检测部具有：具有第一像素宽度的像素一维地排列而成的第一线性传感器、和具有第二像素宽度的像素一维地排列且以比所述第一及第二像素宽度窄的间隔与所述第一线性传感器并列配置的第二线性传感器，所述保持架以所述滤光片覆盖所述第一狭缝的至少一部分的方式将所述滤光片保持在规定位置，所述第二线性传感器检测由所述滤光片进行衰减后的放射线。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2015.12.21 JP 2015-2486511.一种放射线检测装置，其中，所述放射线检测装置从放射线源向检查对象物照射放射线，检测透过了该检查对象物的放射线，具备：滤光片，其使入射的放射线的一部分衰减；检测部，其检测由所述滤光片使一部分衰减后的放射线；箱体，其将所述检测部收纳于内部；和保持架，其具有可使所述入射的放射线通过的第一狭缝，配置于所述箱体的主面，并保持所述滤光片，所述检测部具有：具有第一像素宽度的像素一维地排列而成的第一线性传感器、和具有第二像素宽度的像素一维地排列且以比所述第一及第二像素宽度窄的间隔与所述第一线性传感器并列配置的第二线性传感器，所述保持架以所述滤光片覆盖所述第一狭缝的至少一部分的方式将所述滤光片保持在规定位置，所述第二线性传感器检测由所述滤光片进行衰减后的放射线。2.根据权利要求1所述的放射线检测装置，其中，所述保持架具有用于以所述滤光片部分地覆盖所述第一狭缝的方式将该滤光片定位的定位部。3.根据权利要求2所述的放射线检测装置，其中，所述定位部对所述滤光片的长度方向的两端进行固定。4.根据权利要求1～3中任一项所述的放射线检测装置，其中，所述滤光片和所述第二线性传感器的距离为10mm以上且30mm以下。5.根据权利要求1～4中任一项所述的放射线检测装置，其中，所述检测部还具有：配置在所述第一线性传感器上的第一闪烁器、和配置在所述第二线性传感器上的第二闪烁器。6.根据权利要求1～4中任一项所述的放射线检测装置，其中，...

【专利技术属性】
技术研发人员：大西达也，
申请(专利权)人：浜松光子学株式会社，
类型：发明
国别省市：日本,JP