【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】光场显示度量相关申请的交叉引用本申请要求2015年11月4日提交的名称为“LIGHTFIELDDISPLAYMETROLOGY(光场显示度量)”的美国申请No.62/250,925、2016年1月14日提交的名称为“LIGHTFIELDERRORCORRECTION(光场误差校正)”的美国申请No.62/278,779、2015年11月4日提交的名称为“AUTOMATEDCALIBRATIONIMAGEPROJECTIONANDCAPTUREFORDISPLAYCALIBRATION(用于显示器校准的自动校准图像投影及捕获)”的美国申请No.62/250,934、2016年1月14日提交的名称为“DYNAMICCALIBRATIONOFADISPLAYBASEDONEYE-TRACKING(基于眼睛追踪的显示器的动态校准)”的美国申请No.62/278,824、以及2016年1月14日提交的名称为“CHROMATICBALANCINGADISPLAYHAVINGVARYINGCHROMATICITYACROSSAFIELDOFVIEW(对横跨视场具有变化色度的显示器进行色度平衡)”的美国申请No.62/278,794的优先权,在此,其全部内容通过引用并入此文。
本公开涉及虚拟现实和增强现实成像和可视化系统,更具体地涉及用于测量和校准成像和可视化系统的光学性质的度量系统。本公开还涉及基于眼睛追踪的虚拟现实和增强现实成像和可视化系统的动态校准。
技术介绍
现代计算和显示技术促进了用于所谓的“虚拟现实”或“增强现实”体验的系统的开发,其中,数字再现的图像或其部分 ...
【技术保护点】
1.一种用于测量由显示器生成的光场中的缺陷的光学度量系统,所述光学度量系统包括:显示器,其被配置为投影目标光场,所述目标光场包括具有预期焦点位置的虚拟对象;相机,其被配置为获得所述目标光场的图像;硬件处理器,其用可执行的指令被编程为:访问与所述光场的一部分对应的一个或多个图像;分析所述一个或多个图像以识别与所述虚拟对象的对焦位置对应的所测量的焦点位置;以及至少部分地基于所述所测量的焦点位置与所述预期焦点位置的比较来确定所述光场中的缺陷。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2015.11.04 US 62/250,925;2015.11.04 US 62/250,934;1.一种用于测量由显示器生成的光场中的缺陷的光学度量系统,所述光学度量系统包括:显示器,其被配置为投影目标光场,所述目标光场包括具有预期焦点位置的虚拟对象;相机,其被配置为获得所述目标光场的图像;硬件处理器,其用可执行的指令被编程为:访问与所述光场的一部分对应的一个或多个图像;分析所述一个或多个图像以识别与所述虚拟对象的对焦位置对应的所测量的焦点位置;以及至少部分地基于所述所测量的焦点位置与所述预期焦点位置的比较来确定所述光场中的缺陷。2.根据权利要求1所述的光学度量系统,其中,所述显示器包括波导堆叠,所述波导堆叠被配置为输出光以将所述虚拟对象投影到至少一个深度平面。3.根据权利要求1所述的光学度量系统,其中,所述相机包括具有小焦深的数字相机。4.根据权利要求3所述的光学度量系统,其中,所述相机具有焦点,并且所述系统被配置为在焦点范围内扫描所述相机的焦点以获得所述一个或多个图像。5.根据权利要求1所述的光学度量系统,其中,所述相机包括光场相机。6.根据权利要求1所述的光学度量系统,其中,所述虚拟对象包括棋盘图案、几何图案或随机图案。7.根据权利要求1所述的光学度量系统,其中,所述显示器包括多个像素,并且所述目标光场对应于比被照射的所述多个像素的所有像素少的子集。8.根据权利要求1所述的光学度量系统,其中,所述所测量的焦点位置包括焦深。9.根据权利要求8所述的光学度量系统,其中,所述所测量的焦点位置进一步包括横向焦点位置。10.根据权利要求1所述的光学度量系统,其中,所确定的缺陷至少部分地基于所述预期焦点位置与所述所测量的焦点位置之间的误差矢量。11.根据权利要求1所述的光学度量系统,其中,所述硬件处理器进一步被编程为至少部分地基于所确定的缺陷来确定用于所述显示器的误差校正。12.根据权利要求1所述的光学度量系统,其中,所述硬件处理器进一步被编程为应用显示器到相机像素映射,以将所述显示器的像素值转换为所述相机的像素值。13.根据权利要求12所述的光学度量系统,其中,所述显示器到相机像素映射包括:第一伽马校正,其将所述显示器的颜色层级映射到第一中间颜色表示;像素依赖耦合函数,其将所述第一中间颜色表示映射到第二中间颜色表示;以及第二伽马校正,其将所述第二中间颜色表示映射到由所述相机配准的颜色层级。14.根据权利要求1至13中任一项所述的光学度量系统,其中,所确定的缺陷包括空间缺陷。15.根据权利要求14所述的光学度量系统,其中,所述空间缺陷包括平面内平移、旋转、缩放或扭曲误差或者平面外或焦深误差中的一者或多者。16.根据权利要求1至13中任一项所述的光学度量系统,其中,所确定的缺陷包括色度...
【专利技术属性】
技术研发人员:S·A·米勒,L·E·埃德温,I·L·约,
申请(专利权)人:奇跃公司,
类型:发明
国别省市:美国,US
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