一种玻璃基板的清洁方法和装置制造方法及图纸

本申请公开了一种玻璃基板的清洁方法和装置，所述方法包括：通过对玻璃基板进行扫描检测，确定所述玻璃基板上的异物信息，其中，所述异物信息包括异物的尺寸和位置；根据所述异物的尺寸，确定所述异物是否为待清洁异物；当确定所述异物为待清洁异物时，根据所述待清洁异物的位置，对所述待清洁异物进行清洁。本申请实施例的方法和装置，在Frit封装过程中，能够实时有效地清洁玻璃基板上的待清洁异物，减少玻璃基板的报废率。

【技术实现步骤摘要】
一种玻璃基板的清洁方法和装置
本申请涉及平板显示
，尤其涉及一种玻璃基板的清洁方法和装置。
技术介绍
为了防止有机发光显示器内的有机发光二极管被空气中的水分、氧气等侵蚀，在有机发光显示器的制备过程中，通常需要对有机发光显示器进行封装。目前，对有机发光显示器的封装通常采用Frit(玻璃粉)封装，具体地，首先，将Frit通过丝网印刷在玻璃基板上，得到Frit盖板；其次，将该Frit盖板与有机发光二极管基板压合；最后，使用激光熔融该Frit盖板上的Frit，实现有机发光显示器的Frit封装。但是，玻璃基板在生产或运输过程中会可能会粘附一些异物(例如，灰尘等)，这些异物一般是颗粒状或纤维状，图1a为玻璃基板中颗粒状异物的示意图，图1b为玻璃基板中纤维状异物的示意图。玻璃基板上的异物会使得对该玻璃基板进行Frit印刷时出现漏印，导致印刷得到的Frit盖板出现瑕疵，影响Frit封装效果。现有技术中，在Frit封装过程中，对玻璃基板进行Frit印刷之前，需要对玻璃基板进行AOI检测(AutomaticOpticInspection，自动光学检测)，当根据检测结果确定该玻璃基板上存在尺寸较大的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种玻璃基板的清洁方法，其特征在于，包括：通过对玻璃基板进行扫描检测，确定所述玻璃基板上的异物信息，其中，所述异物信息包括异物的尺寸和位置；根据所述异物的尺寸，确定所述异物是否为待清洁异物；当确定所述异物为待清洁异物时，根据所述待清洁异物的位置，对所述待清洁异物进行清洁。

【技术特征摘要】
1.一种玻璃基板的清洁方法，其特征在于，包括：通过对玻璃基板进行扫描检测，确定所述玻璃基板上的异物信息，其中，所述异物信息包括异物的尺寸和位置；根据所述异物的尺寸，确定所述异物是否为待清洁异物；当确定所述异物为待清洁异物时，根据所述待清洁异物的位置，对所述待清洁异物进行清洁。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述异物的尺寸，确定所述异物是否为待清洁异物，包括：当所述异物的尺寸大于预设尺寸时，确定所述异物为待清洁异物。3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，当确定所述异物为待清洁异物时，根据所述待清洁异物的位置，对所述待清洁异物进行清洁，包括：根据所述待清洁异物的位置，将清洁单元移动到所述待清洁异物的位置；通过所述清洁单元对所述待清洁异物进行清洁，其中，对所述待清洁异物进行清洁的时长为预设时长。4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：判断所述待清洁异物是否被清除；当确定所述待清洁异物未被清除时，通过所述清洁单元对所述待清洁异物重新进行清洁，其中，对所述待清洁异物重新进行清洁的时长为预设时长；当对所述待清洁异物的清洁次数大于预设次数时，确定所述玻璃基板报废。5.如权利要求1-4任一项所述的方法，其特征在于，对所述待清洁异物进行清洁且清除，具体包括：通过所述清洁单元的入气口产生的气流将所述待清洁异物与所述玻璃基板分离；以及，通过所述清洁单元的吸气口产生的气流将所述待清洁异物吸入所述清洁单元。6.如权利要求5所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：姜海峰，
申请(专利权)人：昆山国显光电有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32