PCB板引脚信号的测量方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种PCB板引脚信号的测量方法及装置，所述方法包括：读取所述PCB板上的至少一个第一引脚的信号波形；将所述至少一个第一引脚的信号写入至各自对应的第二引脚上，以便于通过连接在所述第二引脚上的示波器来显示所述第一引脚的信号波形；其中，所述第一引脚为所述PCB板上没有预留有测试触点的引脚，所述第二引脚为所述PCB板上预留有测试触点且当前未被使用的引脚。本发明专利技术能够利用示波器对没有预留有测试触点的引脚进行信号波形的抓取。

Method and device for measuring pin signal of PCB board

The present invention provides a method and apparatus for measuring the pin signal of a PCB board, which includes reading the signal waveform of at least one first pin on the PCB board, writing the signal of at least one first pin on the corresponding second pin so as to facilitate access to an oscilloscope connected to the second pin. The signal waveform of the first pin is displayed, wherein the first pin is a pin that has no test contact reserved on the PCB board, and the second pin is a pin that has test contact reserved on the PCB board and is not currently used. The invention can use oscillograph to capture signal waveforms without pins with reserved test contacts.

【技术实现步骤摘要】
PCB板引脚信号的测量方法及装置
本专利技术涉及信号测量
，尤其涉及一种PCB板引脚信号的测量方法及装置。
技术介绍
在嵌入式设备的开发调试中，经常需要使用用于测量数字信号的仪器，例如，示波器来测量PCB开发板上的时钟/信号线的信号，即抓取引脚上的信号波形，具体地，我们通常可以直接将示波器的探头点在所有测量的引脚上来抓取波形。在实现本专利技术的过程中，专利技术人发现现有技术中至少存在如下技术问题：在有些PCB开发板中，往往是不会将所有的引脚裸漏在外面或者留有专门的测试触点。这种情况下，对于PCB开发板中没有预留测试触点的那些引脚，我们就不能使用示波器来直接测量对应引脚的信号。
技术实现思路
本专利技术提供的PCB板引脚信号的测量方法及装置，能够利用示波器对没有预留有测试触点的引脚进行信号波形的抓取。第一方面，本专利技术提供一种PCB板引脚信号的测量方法，包括：读取所述PCB板上的至少一个第一引脚的信号波形；将所述至少一个第一引脚的信号写入至各自对应的第二引脚上，以便于通过连接在所述第二引脚上的示波器来显示所述第一引脚的信号波形；其中，所述第一引脚为所述PCB板上没有预留有测试触点的引脚，所述第二引脚为所述PCB板上预留有测试触点且当前未被使用的引脚。可选地，在所述读取所述PCB板上的至少一个第一引脚的信号波形之前，还包括：关闭系统的所有中断。可选地，所述将所述至少一个第一引脚的信号写入至各自对应的第二引脚上，所述第二引脚为所述PCB板上预留有测试触点且当前未被使用的引脚包括：读取预设的映射表；根据所述预设的映射表，将所述至少一个第一引脚的信号写入至各自对应的第二引脚上，以便于通过连接在所述第二引脚上的示波器来显示所述第一引脚的信号波形；其中，所述映射表，用于确定各个所述第一引脚所对应的第二引脚。第二方面，本专利技术提供一种PCB板引脚信号的测量装置，包括：读取模块，用于读取所述PCB板上的至少一个第一引脚的信号波形；写入模块，用于将所述至少一个第一引脚的信号写入至各自对应的第二引脚上，以便于通过连接在所述第二引脚上的示波器来显示所述第一引脚的信号波形；其中，所述第一引脚为所述PCB板上没有预留有测试触点的引脚，所述第二引脚为所述PCB板上预留有测试触点且当前未被使用的引脚。可选地，所述装置还包括：关闭模块，用于在所述读取模块读取所述PCB板上的至少一个第一引脚的信号波形之前，关闭系统的所有中断。可选地，所述写入模块包括：读取单元，用于读取预设的映射表；写入单元，用于根据所述预设的映射表，将所述至少一个第一引脚的信号写入至各自对应的第二引脚上，以便于通过连接在所述第二引脚上的示波器来显示所述第一引脚的信号波形；其中，所述映射表，用于确定各个所述第一引脚所对应的第二引脚。本专利技术实施例提供的PCB板引脚信号的测量方法及装置，读取所述PCB板上的至少一个第一引脚的信号波形；将所述至少一个第一引脚的信号写入至各自对应的第二引脚上，以便于通过连接在所述第二引脚上的示波器来显示所述第一引脚的信号波形；其中，所述第一引脚为所述PCB板上没有预留有测试触点的引脚，所述第二引脚为所述PCB板上预留有测试触点且当前未被使用的引脚。与现有技术相比，能够利用示波器对没有预留有测试触点的引脚进行信号波形的抓取。附图说明图1为本专利技术一实施例PCB板引脚信号的测量方法的流程图；图2为本专利技术另一实施例PCB板引脚信号的测量方法的流程图；图3为本专利技术一实施例PCB板引脚信号的测量的结构示意图；图4为本专利技术另一实施例PCB板引脚信号的测量的结构示意图。具体实施方式为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。本专利技术提供一种PCB板引脚信号的测量方法，如图1所示，所述方法包括：S11、读取所述PCB板上的至少一个第一引脚的信号波形。S12、将所述至少一个第一引脚的信号写入至各自对应的第二引脚上，以便于通过连接在所述第二引脚上的示波器来显示所述第一引脚的信号波形。其中，所述第一引脚为所述PCB板上没有预留有测试触点的引脚，所述第二引脚为所述PCB板上预留有测试触点且当前未被使用的引脚。本专利技术实施例提供的PCB板引脚信号的测量方法，读取所述PCB板上的至少一个第一引脚的信号波形；将所述至少一个第一引脚的信号写入至各自对应的第二引脚上，以便于通过连接在所述第二引脚上的示波器来显示所述第一引脚的信号波形；其中，所述第一引脚为所述PCB板上没有预留有测试触点的引脚，所述第二引脚为所述PCB板上预留有测试触点且当前未被使用的引脚。与现有技术相比，其通过将不可测量引脚的信号迁移至可测量引脚上，从而实现能够利用示波器对没有预留有测试触点的引脚进行信号波形的抓取。如图2所示，本专利技术还提供一种PCB板引脚信号的测量方法，包括：S21、关闭系统的所有中断。关闭系统的所有中断的目的是为了防止后续的读取/写入信号的过程被中断，因为如果读取/写入信号的过程被中断将会造成示波器抓取到信号波形出现失真，从而导致引脚信号测量结果错误。S22、读取所述PCB板上的至少一个第一引脚的信号波形。其中，所述第一引脚为所述PCB板上没有预留有测试触点的引脚。在这个步骤中，为了知悉所述PCB板上的哪些引脚没有预留测试触点，以及将上述引脚的信号迁移至哪个预留有测试触点的引脚上，测量人员需要事先通过查看所述PCB板的原理图确认将不可测量引脚(即没有预留有测试触点的引脚)的信号迁移至哪个可测量引脚(即所述PCB板上预留有测试触点且当前未被使用的引脚)上，并建立不可测量引脚与可测量引脚之间的一对一映射表。S23、读取预设的映射表。其中，所述映射表，用于确定各个所述第一引脚所对应的第二引脚。S24、根据所述预设的映射表，将所述至少一个第一引脚的信号写入至各自对应的第二引脚上，以便于通过连接在所述第二引脚上的示波器来显示所述第一引脚的信号波形。本专利技术实施例提供的PCB板引脚信号的测量方法，与现有技术相比，其通过将不可测量引脚的信号迁移至可测量引脚上，从而实现能够利用示波器对没有预留有测试触点的引脚进行信号波形的抓取；另外，在引脚信号的读取/写入之前通过关闭系统的所有中断，以保证引脚信号测量的准确性。本专利技术实施例提供一种PCB板引脚信号的测量装置，如图3所示，所述装置包括读取模块31和写入模块32，其中，所述读取模块31，用于读取所述PCB板上的至少一个第一引脚的信号波形；所述写入模块32，用于将所述至少一个第一引脚的信号写入至各自对应的第二引脚上，以便于通过连接在所述第二引脚上的示波器来显示所述第一引脚的信号波形；其中，所述第一引脚为所述PCB板上没有预留有测试触点的引脚，所述第二引脚为所述PCB板上预留有测试触点且当前未被使用的引脚。本专利技术实施例提供的PCB板引脚信号的测量装置，与现有技术相比，其通过将不可测量引脚的信号迁移至可测量引脚上，从而实现能够利用示波器对没有预留有测试触点的引脚进行信号波形的抓取。本专利技术实施例提供还一种PCB板引脚信号的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种PCB板引脚信号的测量方法，其特征在于，包括：读取所述PCB板上的至少一个第一引脚的信号波形；将所述至少一个第一引脚的信号写入至各自对应的第二引脚上，以便于通过连接在所述第二引脚上的示波器来显示所述第一引脚的信号波形；其中，所述第一引脚为所述PCB板上没有预留有测试触点的引脚，所述第二引脚为所述PCB板上预留有测试触点且当前未被使用的引脚。

【技术特征摘要】
1.一种PCB板引脚信号的测量方法，其特征在于，包括：读取所述PCB板上的至少一个第一引脚的信号波形；将所述至少一个第一引脚的信号写入至各自对应的第二引脚上，以便于通过连接在所述第二引脚上的示波器来显示所述第一引脚的信号波形；其中，所述第一引脚为所述PCB板上没有预留有测试触点的引脚，所述第二引脚为所述PCB板上预留有测试触点且当前未被使用的引脚。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述读取所述PCB板上的至少一个第一引脚的信号波形之前，还包括：关闭系统的所有中断。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将所述至少一个第一引脚的信号写入至各自对应的第二引脚上，所述第二引脚为所述PCB板上预留有测试触点且当前未被使用的引脚包括：读取预设的映射表；根据所述预设的映射表，将所述至少一个第一引脚的信号写入至各自对应的第二引脚上，以便于通过连接在所述第二引脚上的示波器来显示所述第一引脚的信号波形；其中，所述映射表，用于确定各个所述第一引脚所对应...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵佳康，
申请(专利权)人：北京君正集成电路股份有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11