一种绝缘清洗剂去污自逸性能测试方法技术

技术编号:18704165 阅读:44 留言:0更新日期:2018-08-21 21:45
本发明专利技术属于电网技术,具体涉及一种绝缘清洗剂去污自逸性能测试方法,称量玻璃槽模具质量;按照污秽等级配污并涂污后,放置于烘箱烘干并记录质量;吸取一定量的绝缘清洗剂,滴在涂污表面得到试验样品,记录其重量;按照前密后疏的时间间隔记录挥发过程中质量变化;将试验样品放入30°恒温箱直至清洗剂挥发结束,记录质量;再放入装有蒸馏水的玻璃容器中,用干净的毛刷进行清洗,洗净后测试溶液电导率,换算得到等值盐密;数据处理后得出挥发过程中绝缘清洗剂质量变化规律及挥发残余百分比;通过对比初始盐密与残余等值盐密及挥发过程清洗剂质量变化规律,评价绝缘清洗剂去污自逸性能。该方法能够为绝缘清洗剂的选用提供依据。

Test method for detergency and self fugacity of an insulation cleaner

The invention belongs to power grid technology, in particular relates to a test method for detergent self-escaping performance of insulating cleaner, weighing the quality of glass tank mold, distributing and smearing according to contamination grade, placing it in oven to dry and record the quality, absorbing a certain amount of insulating cleaner, dropping on the smearing surface to get the test sample and recording its weight. According to the time interval between pre-dense and post-dense, the quality changes during the volatilization process were recorded; the test samples were put into a 30 degree thermostat until the end of the cleaning agent volatilization, and the quality was recorded; then the samples were put into a glass container containing distilled water, cleaned with a clean brush, and the conductivity of the solution was measured after washing, and the equivalent salt density was obtained. The quality change law and volatilization residual percentage of the insulating cleaner in the process of volatilization were obtained, and the decontamination self-fugacity of the insulating cleaner was evaluated by comparing the initial salt density with the residual equivalent salt density and the quality change law of the cleaning agent in the process of volatilization. The method can provide basis for selection of insulation cleaner.

【技术实现步骤摘要】
一种绝缘清洗剂去污自逸性能测试方法
本专利技术属于电网
,尤其涉及一种绝缘清洗剂去污自逸性能测试方法。
技术介绍
大气污染造成的输变电设备外绝缘污闪事故对电力系统造成了严重危害,严重影响电力系统的安全可靠运行,为了防止污闪事故的发生,研究安全高效的绝缘子的清洗方法尤为重要。绝缘清洗剂带电清洗的方式则是一种非常好的清洗思路,它所使用的是高体积电阻率的工业绝缘清洗剂,利用绝缘清洗剂对污秽的溶解渗透作用,降低污秽的附着力,再在喷射力的作用下使污秽脱落。绝缘清洗剂中含有很多易挥发有机物,清洗剂与污秽接触后,在将污秽溶解松散的过程中快速挥发,在挥发时可以带走绝缘子表面水分,进而提高操作时的绝缘值,使操作变得更加安全。绝缘清洗剂带电清洗绝缘子已在电力系统开展多年,然而目前对于绝缘清洗剂去污自逸性能并无任何的测试方法,即对于绝缘清洗剂是否可以在挥发过程中带走盐密,挥发性能如何及能否挥发完全没有确定的测试方法,这使得绝缘带电清洗剂的选用存在一定的盲目性。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种可以对绝缘清洗剂挥发过程中的去污能力、挥发性及能否挥发完全进行测试的方法,为绝缘清洗剂的选用提供依据。为实现上述目的,本专利技术采用的技术方案是:一种绝缘清洗剂去污自逸性能测试方法,包括以下步骤:步骤1、采用玻璃槽模具模拟玻璃绝缘子的表面,用电子天平称量玻璃槽模具的质量;步骤2、根据玻璃槽模具面积的大小,配置对应污秽等级的人工污液,均匀涂抹于玻璃槽模具内部底面,放入恒温烘干箱内烘干,待其干燥后取出得到涂污玻璃槽,称量并记录涂污玻璃槽的质量;步骤3、用玻璃针管吸取一定量的绝缘清洗剂,均匀滴在涂污玻璃槽表面上,得到试验样品,称量并记录试验样品的质量;步骤4、按照不同的时间间隔记录挥发过程中试验样品的质量;步骤5、记录完毕后,将试验样品放入30°恒温箱里直至绝缘清洗剂的挥发过程结束,并记录其最终的质量;步骤6、再将试验样品放入装有一定量蒸馏水的玻璃容器中,用干净的毛刷对试验样品进行清洗,清洗干净后测试玻璃容器中溶液的电导率,经过计算得到残余的等值盐密;步骤7、经过数据处理,得出挥发过程中绝缘清洗剂质量变化规律及挥发残余百分比;步骤8、通过初始盐密值与残余等值盐密值的差值及挥发过程绝缘清洗剂质量变化规律,评价绝缘清洗剂去污自逸性能。在上述的绝缘清洗剂去污自逸性能测试方法中,步骤1所述玻璃槽模具外形尺寸为120mm×120mm×14mm,内部尺寸为槽深10mm,玻璃槽模具内部底面大小为100mm×100mm。在上述的绝缘清洗剂去污自逸性能测试方法中,所述人式污液的配置是根据污秽等级对应的盐密与灰密值,称取氯化钠和高岭土,用去离子水进行配制;人工污液的均匀涂抹采用针头来完成。在上述的绝缘清洗剂去污自逸性能测试方法中,步骤4所述按照不同的时间间隔记录为,前5min内每分钟对试验样品的质量记录一次;之后为每5min记录一次,共3次;最后为15min记录一次。本专利技术的有益效果是:在玻璃槽模具上涂污并加入绝缘清洗剂,根据初始盐密值与残余等值盐密值的差值判断绝缘清洗剂挥发过程中的去污能力,即绝缘清洗剂在挥发过程中是否可以带走一部分盐密;根据挥发过程中的质量变化,判断绝缘清洗剂常温下的挥发性及挥发结束后的残余百分比,最终评价绝缘清洗剂去污自逸性能,对绝缘清洗剂的选择提供一定的参考。附图说明图1是绝缘清洗剂去污自逸性能测试方法流程示意图;图2是绝缘清洗剂去污自逸性能测试方法使用的玻璃槽模具结构图;图3是在玻璃槽模具涂污及加入绝缘清洗剂示意图;其中,1-纯净水,2-污秽粉末,3-绝缘清洗剂。具体实施方式下面结合附图对本专利技术的实施方式进行详细描述。本实施例采用以下技术方案来实现,一种绝缘清洗剂去污自逸性能测试方法,包括以下步骤:步骤a:用电子天平称量玻璃槽模具空槽时的质量;步骤b:根据玻璃槽的面积大小,配置对应污秽等级的人工污液,均匀涂抹在玻璃槽内部底面上,放置恒温烘干箱内烘干,待其干燥后取出观察并测量记录其质量;步骤c:用玻璃针管吸取一定量的绝缘清洗剂,均匀滴在涂污玻璃槽上,得到试验样品,称量并记录试验样品的质量;步骤d:按照前密后疏的时间间隔记录挥发过程中试验样品的质量;步骤e:记录完毕后将试验样品放入30°恒温箱里直至清洗剂的挥发过程结束,并记录其最终的质量;步骤f:将试验样品放入装有一定量蒸馏水的玻璃容器中,用干净的毛刷对试品进行清洗,清洗干净后测试溶液的电导率,经过计算得到残余的等值盐密;步骤g:数据处理,得出挥发过程中绝缘清洗剂质量变化规律及挥发残余百分比;步骤h:通过初始盐密值与残余等值盐密值的差值及挥发过程清洗剂质量变化规律,评价绝缘清洗剂去污自逸性能。如图1所示,为绝缘清洗剂去污自逸性能测试方法流程示意图,包括如下步骤:步骤(1)用电子天平称量玻璃槽模具空槽时的重量;其中使用120mm×120mm×14mm规格大小的玻璃槽模具来模拟玻璃绝缘子的表面,其中槽深10mm,玻璃槽内部大小为100mm×100mm,如图2所示。步骤(2)根据玻璃槽模具的内部底面积大小,配置对应污秽等级的人工污液,均匀涂抹在内部底面上,放置恒温烘干箱内烘干,待其干燥后取出观察并测量记录其质量;玻璃槽面积为100m2,根据污秽等级对应的盐密与灰密值,称取氯化钠和高岭土,用去离子水配置人工污液,其中人工污液涂抹过程均使用针头来完成,最大限度地避免在涂污过程中因使用毛刷带走大量污液而导致涂抹表面人工污液的数据不准确。玻璃槽涂污烘干后的质量减去空槽的质量即可得到人工污液的质量。步骤(3)用玻璃针管吸取一定量的绝缘清洗剂,均匀滴在涂污玻璃槽的表面上,得到试验样品,称量并记录试验样品的质量;其中绝缘清洗剂的量取5~10ml,用此时称量的试验样品质量减去玻璃槽模具质量和人工污液质量即可得到绝缘清洗剂的初始质量。在玻璃槽模具进行涂污及加入绝缘清洗剂示意图如图3所示。步骤(4)按照前密后疏的时间间隔记录挥发过程中试验样品的质量;其中时间间隔取为前5min中每分钟对试验样品的质量记录一次,其后每5min记录一次,共记录3次,最后再以15min间隔记录一次。步骤(5)记录完毕后将试验样品放入30°恒温箱里直至清洗剂的挥发过程结束,并记录其最终的质量;步骤(6)将试验样品放入装有一定量去离子水的玻璃容器中,用干净的毛刷对试品进行清洗,清洗干净后测试溶液的电导率,经过计算得到残余的等值盐密;残余盐密的计算公式如下:式中δ为溶液电导率,V为去离子水量(cm3),A为清洗表面的面积(cm2),k为换算指数,在800us/cm2时,k取值为0.91。步骤(7)数据处理,得出挥发过程中绝缘清洗剂质量变化规律及挥发残余百分比;其中数据处理方法为用挥发过程中记录的各个数据减去玻璃槽模具质量和人工污液的质量即可得到绝缘清洗剂的质量变化规律。用清洗剂挥发过程结束的最终质量减去玻璃槽模具质量和人工污液质量的值与清洗剂初始质量作比,即可得到绝缘清洗剂的挥发残余百分比。步骤(8)通过初始盐密值与残余等值盐密值的差值及挥发过程清洗剂质量变化规律,评价绝缘清洗剂去污自逸性能。应当理解的是,本说明书未详细阐述的部分均属于现有技术。虽然以上结合附图描述了本专利技术的具体实施方式,但是本领域普通技术人员应当理解,这些仅是举本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种绝缘清洗剂去污自逸性能测试方法,其特征是,包括以下步骤:步骤1、采用玻璃槽模具模拟玻璃绝缘子的表面,用电子天平称量玻璃槽模具的质量;步骤2、根据玻璃槽模具面积的大小,配置对应污秽等级的人工污液,均匀涂抹于玻璃槽模具内部底面,放入恒温烘干箱内烘干,待其干燥后取出得到涂污玻璃槽,称量并记录涂污玻璃槽的质量;步骤3、用玻璃针管吸取一定量的绝缘清洗剂,均匀滴在涂污玻璃槽表面上,得到试验样品,称量并记录试验样品的质量;步骤4、按照不同的时间间隔记录挥发过程中试验样品的质量;步骤5、记录完毕后,将试验样品放入30°恒温箱里直至绝缘清洗剂的挥发过程结束,并记录其最终的质量;步骤6、再将试验样品放入装有一定量蒸馏水的玻璃容器中,用干净的毛刷对试验样品进行清洗,清洗干净后测试玻璃容器中溶液的电导率,经过计算得到残余的等值盐密;步骤7、经过数据处理,得出挥发过程中绝缘清洗剂质量变化规律及挥发残余百分比;步骤8、通过初始盐密值与残余等值盐密值的差值及挥发过程绝缘清洗剂质量变化规律,评价绝缘清洗剂去污自逸性能。

【技术特征摘要】
1.一种绝缘清洗剂去污自逸性能测试方法,其特征是,包括以下步骤:步骤1、采用玻璃槽模具模拟玻璃绝缘子的表面,用电子天平称量玻璃槽模具的质量;步骤2、根据玻璃槽模具面积的大小,配置对应污秽等级的人工污液,均匀涂抹于玻璃槽模具内部底面,放入恒温烘干箱内烘干,待其干燥后取出得到涂污玻璃槽,称量并记录涂污玻璃槽的质量;步骤3、用玻璃针管吸取一定量的绝缘清洗剂,均匀滴在涂污玻璃槽表面上,得到试验样品,称量并记录试验样品的质量;步骤4、按照不同的时间间隔记录挥发过程中试验样品的质量;步骤5、记录完毕后,将试验样品放入30°恒温箱里直至绝缘清洗剂的挥发过程结束,并记录其最终的质量;步骤6、再将试验样品放入装有一定量蒸馏水的玻璃容器中,用干净的毛刷对试验样品进行清洗,清洗干净后测试玻璃容器中溶液的电导率,经过计算得到残余的等值盐密;步骤7、经过数据处理,得...

【专利技术属性】
技术研发人员:胡中苏师敏许巧云陈劲樊亚东李辰盟林伟雄仇智诚温俊裕曾莉肖权锋陈积会赵彪谢思洋
申请(专利权)人:广东电网有限责任公司江门供电局武汉大学
类型:发明
国别省市:广东,44

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