一种相控阵雷达TR组件自动测试装置与方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种相控阵雷达TR组件自动测试装置与方法，涉及电子设备测试技术领域，通过生成特定的射频信号控制射频开关的导通或关断，梳理TR组件射频信号传输路径，并在射频开关矩阵单元的内部设置功率衰减器和负载，最后由测试仪器通过测试仪器接口单元与相控阵雷达TR组件自动测试装置相连，完成对TR组件性能参数的测试。通过本发明专利技术的技术方案，提高了检测TR组件中各器件性能参数的检测速率，提高了测试TR组件中各器件性能指标的可靠性和准确性，有利于降低因输入功率过大而导致测试仪器损坏的可能性。

An automatic test device and method for TR components of phased array radar

The invention provides an automatic testing device and method for TR module of phased array radar, which relates to the technical field of electronic equipment testing, controls the turn-on or turn-off of radio frequency switch by generating a specific radio frequency signal, combs the radio frequency signal transmission path of TR module, and sets power attenuator and load inside the radio frequency switch matrix unit. Finally, the test instrument is connected with the automatic test device of phased array radar TR module through the test instrument interface unit to test the performance parameters of TR module. Through the technical scheme of the invention, the detection rate of the performance parameters of the devices in the TR module is improved, the reliability and accuracy of the performance indexes of the devices in the TR module are improved, and the possibility of the damage of the testing instrument caused by the excessive input power is reduced.

【技术实现步骤摘要】
一种相控阵雷达TR组件自动测试装置与方法
本专利技术涉及电子设备测试
，具体而言，涉及一种相控阵雷达TR组件自动测试装置和一种相控阵雷达TR组件自动测试方法。
技术介绍
收发(TransmitterandReceiver，TR)组件是相控阵雷达系统核心部件，TR组件的功能主要是实现射频微波信号的收发、增益、相移等指标的自动控制，TR组件的制造工艺复杂，功能部件较多，既有大功率电平发射通道，又有高增益、低噪声的接收通道。TR组件包含低噪声放大器(LowNoiseAmplifier，LNA)、数字移相器、数字衰减器、TR开关、限幅器、驱动及逻辑控制电路等，它是集高频、低频、大信号、小信号等为一体的复杂功能器件。因此，当TR组件发生故障时，需要对TR组件中各器件的性能指标进行测试，以便快速诊断出TR组件中的故障器件。而现有技术中，并没有一种行之有效地测试装置或者测试方法。
技术实现思路
本专利技术旨在至少解决现有技术中或相关技术中存在的技术问题之一。针对上述问题，本专利技术提出了一种相控阵雷达TR组件自动测试装置与方法，提高了检测TR组件中各器件性能参数的检测速率，有利于提高判断TR组件故障的准确性。为了实现上述目的，本专利技术第一方面的技术方案提供了一种相控阵雷达TR组件自动测试装置，包括：检测单元，射频矩阵控制信号产生单元，射频开关矩阵单元，TR组件以及测试仪器接口单元；检测单元的输出端电连接于射频矩阵控制信号产生单元的输入端，检测单元电连接于测试仪器接口单元，检测单元用于生成性能检测指令，并根据测试数据生成测试结果查询列表；射频矩阵控制信号产生单元的输出端电连接于射频开关矩阵单元的输入端，射频矩阵控制信号产生单元用于生成指定频率的射频信号；射频开关矩阵单元电连接于TR组件的第一端口，射频开关矩阵单元的输出端电连接于测试仪器接口单元的输入端，射频开关矩阵单元用于形成检测通路。在上述任一项技术方案中，优选地，射频矩阵控制信号产生单元还包括：串口通信模块、控制器以及射频开关控制信号输出模块；串口通信模块设置于射频矩阵控制信号产生单元的输入端，串口通信模块用于接收检测单元的性能检测指令；控制器的输入端电连接于串口通信模块的输出端，控制器的输出端电连接于射频开关控制信号输出模块的输入端；射频开关控制信号输出模块设置于射频矩阵控制信号产生单元的输出端，射频开关控制信号输出模块的输出端电连接于射频开关矩阵单元的输入端。在上述任一项技术方案中，优选地，其特征在于，射频开关矩阵单元具体包括：第一开关模块，第三开关模块，第八射频开关以及输出射频矩阵控制信号分配单元；输出射频矩阵控制信号分配单元的输入端电连接于射频矩阵控制信号产生单元的输出端，输出射频矩阵控制信号分配单元的第一输出端电连接于第一开关模块的第一输入端，输出射频矩阵控制信号分配单元的第二输出端电连接于第八射频开关的第一输入端，输出射频矩阵控制信号分配单元的第三输出端电连接于第三开关模块的输入端；第三开关模块的第一输出端电连接于第八射频开关的第二输入端；第八射频开关的输出端电连接于第一开关模块的第二输入端。在上述任一项技术方案中，优选地，第一开关模块，具体包括：第一射频开关、第二射频开关以及功率衰减器；第一射频开关设置于第一开关模块的第二输入端，第一射频开关的输出端电连接于功率衰减器的输入端，功率衰减器的输出端电连接于第二射频开关的输入端，第二射频开关的输出端电连接于测试仪器接口单元的输入端。在上述任一项技术方案中，优选地，射频开关矩阵单元还包括：负载；负载连接于第三开关模块的第二输出端，负载用于与TR组件进行功率匹配。在上述任一项技术方案中，优选地，射频开关矩阵单元具体还包括：第三射频开关、第四射频开关以及运放模块；运放模块的第一输入端电连接于第三射频开关的输出端，运放模块的输出端电连接于第四射频开关的输入端，第四射频开关的输出端电连接于TR组件的第二端口，运放模块用于控制TR组件的工作状态在连续波状态和脉冲状态之间切换。在上述任一项技术方案中，优选地，还包括：脉冲发生模块；脉冲发生模块的输入端电连接于检测单元，脉冲发生模块的输出端电连接于运放模块的第二输入端。在上述任一项技术方案中，优选地，还包括：TR组件工作状态控制与采集单元；TR组件工作状态控制与采集单元连接于检测单元和TR组件之间。本专利技术第二方面的技术方案提供了一种相控阵雷达TR组件自动测试方法，适用于本专利技术第一方面的技术方案中的任一项相控阵雷达TR组件自动测试装置，包括：步骤10，根据检测指令，生成测试信号输出指令；步骤20，判断测试源信号是否符合输入激励条件；步骤30，当判定测试源信号符合输入激励条件时，发送测试源信号至TR组件；步骤40，获取TR组件的测试数据；步骤50，根据测试数据，生成并显示测试结果查询列表。在上述任一项技术方案中，优选地，步骤30，具体还包括：步骤31，根据检测指令，生成射频开关导通指令；步骤32，发送射频开关导通指令至射频开关矩阵单元。有益效果：本专利技术中的技术方案，通过生成符合输入激励条件的测试源信号，对TR组件进行测试，提高了检测TR组件中各器件性能参数的检测速率，有利于提高判断TR组件故障的准确性，降低了TR组件的维修成本。本专利技术中的技术方案，通过设置射频矩阵控制信号产生单元和射频开关矩阵单元，有利于提高生成射频信号的准确性，提高了TR组件输入信号的稳定性，降低了因干扰信号导致TR组件输出信号异常的可能性，通过在射频开关矩阵单元中设置功率衰减器，有利于降低因输入功率过大而导致测试仪器损坏的可能性，通过在射频开关矩阵单元的输出端设置负载，对TR组件进行功率匹配，提高了测试TR组件中各器件性能指标的可靠性和准确性。附图说明本专利技术的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：图1是根据本专利技术的一个实施例的相控阵雷达TR组件自动测试装置的示意框图；图2是根据本专利技术的一个实施例的相控阵雷达TR组件自动测试方法的示意流程图。具体实施方式为了能够更清楚地理解本专利技术的上述目的、特征和优点，下面结合附图和具体实施方式对本专利技术进行进一步的详细描述。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请的实施例及实施例中的特征可以相互结合。在下面的描述中，阐述了很多具体细节以便于充分理解本专利技术，但是，本专利技术还可以采用其他不同于在此描述的其他方式来实施，因此，本专利技术的保护范围并不受下面公开的具体实施例的限制。实施例一：图1示出了根据本专利技术的一个实施例的相控阵雷达TR组件自动测试装置的示意框图。如图1所示，根据本专利技术一个实施例的相控阵雷达TR组件自动测试装置，包括：检测单元10，射频矩阵控制信号产生单元50，射频开关矩阵单元20，TR组件30以及测试仪器接口单元40；检测单元10的输出端电连接于射频矩阵控制信号产生单元50的输入端，检测单元10电连接于测试仪器接口单元40，检测单元10用于生成性能检测指令，并根据测试数据生成测试结果查询列表；其中，检测单元10可以为中央处理器CPU、微控制单元MCU、数字信号处理器DSP或者具有相同处理功能的电子元件。在本实施例中，射频矩阵控制信号产生单元50的输出端电连接于射频开关矩阵单元20的输入端，射频矩阵控制信号产生单元50用于本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种相控阵雷达TR组件自动测试装置，其特征在于，包括：检测单元(10)，射频矩阵控制信号产生单元(50)，射频开关矩阵单元(20)，TR组件(30)以及测试仪器接口单元(40)；所述检测单元(10)的输出端电连接于所述射频矩阵控制信号产生单元(50)的输入端，所述检测单元(10)电连接于所述测试仪器接口单元(40)，所述检测单元(10)用于生成性能检测指令，并根据测试数据生成测试结果查询列表；所述射频矩阵控制信号产生单元(50)的输出端电连接于所述射频开关矩阵单元(20)的输入端，所述射频矩阵控制信号产生单元(50)用于生成指定频率的射频信号；所述射频开关矩阵单元(20)电连接于所述TR组件(30)的第一端口，所述射频开关矩阵单元(20)的输出端电连接于所述测试仪器接口单元(40)的输入端，所述射频开关矩阵单元(20)用于形成检测通路。

【技术特征摘要】
1.一种相控阵雷达TR组件自动测试装置，其特征在于，包括：检测单元(10)，射频矩阵控制信号产生单元(50)，射频开关矩阵单元(20)，TR组件(30)以及测试仪器接口单元(40)；所述检测单元(10)的输出端电连接于所述射频矩阵控制信号产生单元(50)的输入端，所述检测单元(10)电连接于所述测试仪器接口单元(40)，所述检测单元(10)用于生成性能检测指令，并根据测试数据生成测试结果查询列表；所述射频矩阵控制信号产生单元(50)的输出端电连接于所述射频开关矩阵单元(20)的输入端，所述射频矩阵控制信号产生单元(50)用于生成指定频率的射频信号；所述射频开关矩阵单元(20)电连接于所述TR组件(30)的第一端口，所述射频开关矩阵单元(20)的输出端电连接于所述测试仪器接口单元(40)的输入端，所述射频开关矩阵单元(20)用于形成检测通路。2.根据权利要求1所述的相控阵雷达TR组件自动测试装置，其特征在于，所述射频矩阵控制信号产生单元(50)还包括：串口通信模块(51)、控制器(52)以及射频开关控制信号输出模块(54)；所述串口通信模块(51)设置于所述射频矩阵控制信号产生单元(50)的输入端，所述串口通信模块(51)用于接收所述检测单元(10)的所述性能检测指令；所述控制器(52)的输入端电连接于所述串口通信模块(51)的输出端，所述控制器(52)的输出端电连接于所述射频开关控制信号输出模块(54)的输入端；所述射频开关控制信号输出模块(54)设置于所述射频矩阵控制信号产生单元(50)的输出端，所述射频开关控制信号输出模块(54)的输出端电连接于所述射频开关矩阵单元(20)的所述输入端。3.根据权利要求1所述的相控阵雷达TR组件自动测试装置，其特征在于，所述射频开关矩阵单元(20)具体包括：第一开关模块(213)，第三开关模块(215)，第八射频开关(204)以及输出射频矩阵控制信号分配单元(212)；所述输出射频矩阵控制信号分配单元(212)的输入端电连接于所述射频矩阵控制信号产生单元(50)的所述输出端，所述输出射频矩阵控制信号分配单元(212)的第一输出端电连接于所述第一开关模块(213)的第一输入端，所述输出射频矩阵控制信号分配单元(212)的第二输出端电连接于所述第八射频开关(204)的第一输入端，所述输出射频矩阵控制信号分配单元(212)的第三输出端电连接于所述第三开关模块(215)的输入端；所述第三开关模块(215)的第一输出端电连接于所述第八射频开关(204)的第二输入端；所述第八射频开关(204)的输出端电连接于所述第一开关模块(213)的第二输入端。4.根据权利要求3所述的相控阵雷...

【专利技术属性】
技术研发人员：吕贵洲，马俊涛，刘利民，韩春辉，王立东，夏明飞，胡文华，安婷，
申请(专利权)人：中国人民解放军陆军工程大学石家庄校区，
类型：发明
国别省市：河北,13