一种泥岩墙的识别方法及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种泥岩墙的识别方法及系统，涉及地质勘探领域。该方法包括：根据对待测量地质结构进行测井测量得到的测井数据，判断待测量地质结构是否为泥岩结构；如果是，则对待测量地质结构进行沉积相分析，判断待测量地质结构的沉积微相的类型是否为预设类型；如果是，则获取待测量地质结构的地层厚度和砂地比，并将地层厚度与预设厚度进行比较，将砂地比与预设比值进行比较，并根据比较结果识别待测量地质结构是否为泥岩墙。本发明专利技术提供的一种泥岩墙的识别方法及系统，能够快速准确地识别当前待测量地质结构是否为泥岩墙。

A method and system for identifying mudstone walls

The invention discloses a mud rock wall identification method and system, which relates to the field of geological exploration. The method includes: according to the logging data obtained by measuring the measured geological structure by logging, and judging whether the geological structure to be measured is a mudstone structure. If it is, the sedimentary facies of the measured geological structure is analyzed to determine whether the type of sedimentary microfacies to be measured is a preset type; if so, the type of sedimentary microfacies is obtained. The thickness of the stratum and the sand ratio of the geological structure are measured and compared with the presupposition thickness. The comparison between the sand ratio and the presupposition ratio is made, and the geological structure to be measured is a mudstone wall according to the comparison results. The invention provides a method and system for identifying mudstone wall, which can quickly and accurately identify whether the geological structure to be measured is mudstone wall.

【技术实现步骤摘要】
一种泥岩墙的识别方法及系统
本专利技术涉及地质勘探领域，尤其涉及一种泥岩墙的识别方法及系统。
技术介绍
目前，业界对于泥岩墙的认识较少，已公开发表的论文和专题调研结果表明，目前对泥岩墙的形成有两种观点：一是构造成因说，早期构造运动造成基底地层起伏和差异剥蚀，再被后期的泥岩覆盖，形成泥岩墙；二是沉积成因说，将泥岩墙的形成归结为河道下切河床，或潮道下切潮沟，形成冲蚀性沟槽，再被后期的泥岩沉积充填，形成泥岩墙。对于泥岩墙的识别和观测，目前也都是基于地层厚度图对泥岩墙进行人工分析和判断，还没有一种能够快速识别泥岩墙的方法。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是针对现有技术的不足，提供一种泥岩墙的识别方法及系统。本专利技术解决上述技术问题的技术方案如下：一种泥岩墙的识别方法，包括：根据对待测量地质结构进行测井测量得到的测井数据，判断所述待测量地质结构是否为泥岩结构；如果是，则对所述待测量地质结构进行沉积相分析，判断所述待测量地质结构的沉积微相的类型是否为预设类型；如果是，则获取所述待测量地质结构的地层厚度和砂地比，并将所述地层厚度与预设厚度进行比较，将所述砂地比与预设比值进行比较，并根据比较结果识别所述待测量地质结构是否为泥岩墙。本专利技术的有益效果是：本专利技术提供的一种泥岩墙的识别方法，通过对待测量地质结构进行测井分析，初步判断待测量地质结构是否为泥岩结构，并对待测量地质结构进行沉积相分析，再对待测量地质结构的地层厚度和砂地比进行比较分析，能够快速准确地识别当前待测量地质结构是否为泥岩墙。在上述技术方案的基础上，本专利技术还可以做如下改进。进一步地，所述根据对待测量地质结构进行测井测量得到的测井数据，判断所述待测量地质结构是否为泥岩结构，具体包括：对待测量地质结构进行测井测量，得到测井数据；将所述测井数据中的伽马值、电阻值、密度值和中子孔隙度分别与第一预设数据进行比较，当所述伽马值大于预设伽马值、所述电阻值小于预设电阻值、所述密度值大于预设密度值且所述中子孔隙度大于预设中子孔隙度时，得到所述待测量地质结构为泥岩结构。进一步地，所述如果是，则对所述待测量地质结构进行沉积相分析，判断所述待测量地质结构的沉积微相的类型是否为预设类型，具体包括：如果是，则在地震相剖面和沉积相剖面上对所述待测量地质结构进行沉积相分析，判断所述待测量地质结构的沉积微相的类型是否为潮道、泥坪和混合坪。进一步地，还包括：根据所述地层厚度、所述砂地比、所述预设厚度和所述预设比值对所述泥岩墙进行分级。进一步地，所述根据所述地层厚度、所述砂地比、所述预设厚度和所述预设比值对所述泥岩墙进行分级，具体包括：当所述地层厚度小于或等于第一预设厚度且所述砂地比小于或等于第一预设比值时，得到所述泥岩墙为一级泥岩墙；当所述地层厚度大于第一预设厚度且小于或等于第二预设厚度，且所述砂地比大于第一预设比值且小于或等于第二预设比值时，得到所述泥岩墙为二级泥岩墙；当所述地层厚度大于第二预设厚度且小于或等于第三预设厚度，且所述砂地比大于第二预设比值且小于或等于第三预设比值时，得到所述泥岩墙为三级泥岩墙；其中，所述第三预设厚度大于所述第二预设厚度，所述第二预设厚度大于所述第一预设厚度，所述第三预设比值大于所述第二预设比值，所述第二预设比值大于所述第一预设比值。本专利技术解决上述技术问题的另一种技术方案如下：一种泥岩墙的识别系统，包括：测井分析模块，用于根据对待测量地质结构进行测井测量得到的测井数据，判断所述待测量地质结构是否为泥岩结构；沉积相分析模块，用于当所述待测量地质结构为泥岩结构时，对所述待测量地质结构进行沉积相分析，判断所述待测量地质结构的沉积微相的类型是否为预设类型；地层分析模块，用于当所述待测量地质结构的沉积微相的类型为预设类型时，获取所述待测量地质结构的地层厚度和砂地比，并将所述地层厚度与预设厚度进行比较，将所述砂地比与预设比值进行比较，并根据比较结果识别所述待测量地质结构是否为泥岩墙。进一步地，所述测井分析模块具体用于对待测量地质结构进行测井测量，得到测井数据，并将所述测井数据中的伽马值、电阻值、密度值和中子孔隙度分别与第一预设数据进行比较，当所述伽马值大于预设伽马值、所述电阻值小于预设电阻值、所述密度值大于预设密度值且所述中子孔隙度大于预设中子孔隙度时，得到所述待测量地质结构为泥岩结构。进一步地，所述沉积相分析模块用于用于当所述待测量地质结构为泥岩结构时，则在地震相剖面和沉积相剖面上对所述待测量地质结构进行沉积相分析，判断所述待测量地质结构的沉积微相的类型是否为潮道、泥坪和混合坪。进一步地，还包括：分级模块，用于根据所述地层厚度、所述砂地比、所述预设厚度和所述预设比值对所述泥岩墙进行分级。进一步地，所述分级模块具体用于当所述地层厚度小于或等于第一预设厚度且所述砂地比小于或等于第一预设比值时，得到所述泥岩墙为一级泥岩墙；当所述地层厚度大于第一预设厚度且小于或等于第二预设厚度，且所述砂地比大于第一预设比值且小于或等于第二预设比值时，得到所述泥岩墙为二级泥岩墙；当所述地层厚度大于第二预设厚度且小于或等于第三预设厚度，且所述砂地比大于第二预设比值且小于或等于第三预设比值时，得到所述泥岩墙为三级泥岩墙；其中，所述第三预设厚度大于所述第二预设厚度，所述第二预设厚度大于所述第一预设厚度，所述第三预设比值大于所述第二预设比值，所述第二预设比值大于所述第一预设比值。本专利技术的有益效果是：本专利技术提供的一种泥岩墙的识别系统，通过测井分析模块对待测量地质结构进行测井分析，初步判断待测量地质结构是否为泥岩结构，并通过沉积相分析模块对待测量地质结构进行沉积相分析，再通过地层分析模块对待测量地质结构的地层厚度和砂地比进行比较分析，能够快速准确地识别当前待测量地质结构是否为泥岩墙。本专利技术附加的方面的优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本专利技术实践了解到。附图说明图1为本专利技术一种泥岩墙的识别方法的一个实施例提供的流程示意图；图2为本专利技术一种泥岩墙的识别方法的另一实施例提供的流程示意图；图3为本专利技术一种泥岩墙的识别系统的一个实施例提供的结构框架图。具体实施方式以下结合附图对本专利技术的原理和特征进行描述，所举实施例只用于解释本专利技术，并非用于限定本专利技术的范围。如图1所示，为本专利技术一种泥岩墙的识别方法的一个实施例提供的流程示意图，该方法包括：S1，根据对待测量地质结构进行测井测量得到的测井数据，判断待测量地质结构是否为泥岩结构。需要说明的是，由于泥岩墙有其特定的结构，因此，可以通过对泥岩墙或泥岩结构进行分析，得到泥岩墙的大量测井数据，进而得到泥岩墙的测井数据规律，然后根据得到的规律再反推待测量地质结构的测井数据是否满足泥岩墙的规律。例如，可以设置测井数据的阈值条件，当待测量地质结构的测井数据满足预设的阈值条件时，可以初步得出该待测量地质结构为泥岩结构。又例如，还可以根据预设算法对测井数据中的各类数值进行计算，当其计算结果符合预设结果范围时，也可以初步得出该待测量地质结构为泥岩结构。S2，如果是，则对待测量地质结构进行沉积相分析，判断待测量地质结构的沉积微相的类型是否为预设类型。需要说明的是，在储层发育段地层厚度图上，泥岩墙地层厚度明显小于砂岩发育区地层厚度，为砂岩发育区地层厚度的1本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种泥岩墙的识别方法，其特征在于，包括：根据对待测量地质结构进行测井测量得到的测井数据，判断所述待测量地质结构是否为泥岩结构；如果是，则对所述待测量地质结构进行沉积相分析，判断所述待测量地质结构的沉积微相的类型是否为预设类型；如果是，则获取所述待测量地质结构的地层厚度和砂地比，并将所述地层厚度与预设厚度进行比较，将所述砂地比与预设比值进行比较，并根据比较结果识别所述待测量地质结构是否为泥岩墙。

【技术特征摘要】
1.一种泥岩墙的识别方法，其特征在于，包括：根据对待测量地质结构进行测井测量得到的测井数据，判断所述待测量地质结构是否为泥岩结构；如果是，则对所述待测量地质结构进行沉积相分析，判断所述待测量地质结构的沉积微相的类型是否为预设类型；如果是，则获取所述待测量地质结构的地层厚度和砂地比，并将所述地层厚度与预设厚度进行比较，将所述砂地比与预设比值进行比较，并根据比较结果识别所述待测量地质结构是否为泥岩墙。2.根据权利要求1所述的识别方法，其特征在于，所述根据对待测量地质结构进行测井测量得到的测井数据，判断所述待测量地质结构是否为泥岩结构，具体包括：对待测量地质结构进行测井测量，得到测井数据；将所述测井数据中的伽马值、电阻值、密度值和中子孔隙度分别与第一预设数据进行比较，当所述伽马值大于预设伽马值、所述电阻值小于预设电阻值、所述密度值大于预设密度值且所述中子孔隙度大于预设中子孔隙度时，得到所述待测量地质结构为泥岩结构。3.根据权利要求1所述的识别方法，其特征在于，所述如果是，则对所述待测量地质结构进行沉积相分析，判断所述待测量地质结构的沉积微相的类型是否为预设类型，具体包括：如果是，则在地震相剖面和沉积相剖面上对所述待测量地质结构进行沉积相分析，判断所述待测量地质结构的沉积微相的类型是否为潮道、泥坪和混合坪。4.根据权利要求1至3中任一项所述的识别方法，其特征在于，还包括：根据所述地层厚度、所述砂地比、所述预设厚度和所述预设比值对所述泥岩墙进行分级。5.根据权利要求4所述的识别方法，其特征在于，所述根据所述地层厚度、所述砂地比、所述预设厚度和所述预设比值对所述泥岩墙进行分级，具体包括：当所述地层厚度小于或等于第一预设厚度且所述砂地比小于或等于第一预设比值时，得到所述泥岩墙为一级泥岩墙；当所述地层厚度大于第一预设厚度且小于或等于第二预设厚度，且所述砂地比大于第一预设比值且小于或等于第二预设比值时，得到所述泥岩墙为二级泥岩墙；当所述地层厚度大于第二预设厚度且小于或等于第三预设厚度，且所述砂地比大于第二预设比值且小于或等于第三预设比值时，得到所述泥岩墙为三级泥岩墙；其中，所述第三预设厚度大于所述第二预设厚度，所述第二预设厚度大于所述第一预设厚度，所述第三预设比值大于所述第二预设比值，所...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈庆，雷克辉，李军，张孝珍，郭晨，刘亚雷，李紫楠，刘玉娟，郭海华，
申请(专利权)人：北京博达瑞恒科技有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11