测试连接装置及测试系统制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供一种测试连接装置及测试系统，涉及测试设备技术领域。测试连接装置包括基板、插针及固定部，基板上设置有呈阵列排布的插孔，所述基板的至少部分插孔可拆卸设置有所述插针，所述插针用于与待测板卡的测试点接触，以接收测试点输出的数据信号。固定部用于压合卡固基板和待测板卡，以使插针与测试点接触，进而对待测板卡进行测试。本方案通过插针直接与测试点接触，基板用于固定并隔离插针，测试人员可基于待测板卡的测试点设置插针，快组装成用于连接待测板卡的连接头，便于与同类型的待测板卡连接并进行测试，进而有助于提升测试进程，提高测试效率。

Test connection device and test system

The utility model provides a test connecting device and a testing system, and relates to the technical field of test equipment. The test connection device includes a base plate, a pin and a fixed part, with an array of arrays arranged on the substrate, and at least part of the substrate can be disassembled to set up a needle for contact with the test point of the board to be measured to receive a data signal output from the test point. The fixing part is used for pressing the fixed substrate and the board to be tested, so that the pin contacts with the test unit, and then tests the board. This scheme is directly connected with the test point by inserting the needle. The base plate is used to fix and isolate the pins. The tester can set the pin based on the test point of the board to be measured and quickly assemble into a connecting head connected to the plate card to be measured. It is convenient to connect with the same type of board and test it, and help to improve the test process and improve the measurement. Try efficiency.

【技术实现步骤摘要】
测试连接装置及测试系统
本技术涉及测试设备
，具体而言，涉及一种测试连接装置及测试系统。
技术介绍
随着科技的发展，个人或企业定制电子产品越来越普及，而在定制电子产品过程中，生产厂商会先设计硬件电路板，并对设计的硬件电路板进行测试。因为定制的电子产品，导致不同的硬件电路板上的测试点存在差异，在现有技术中，通常是采用与测试点相应的连接器来接收信号。比如，在PCBA板的批量生产过程中，由于设备和操作者的各种可能的因素(比如设备器件之间的尺寸差异、性能差异等)，无法保证生产出来的PCBA板全部都是完好品。也就是在生产的末端需要加入各种的测试设备和测试工具，以保证出厂的所有实装电路板与设计的各种规格和参数完全一致。而连接器并不适用于各类PCBA板，若要对不同类型的PCBA板进行测试，需要单独设计与该PCBA板的测试点相对应的接口，这将延缓测试进度，增加测试成本。
技术实现思路
为了克服上述现有技术中的不足，本技术提供一种结构简单的测试连接装置及测试系统，有助于降低测试成本，加速测试进程，进而解决上述问题。为了实现上述目的，本技术较佳实施例所提供的技术方案如下所示：本技术较佳实施例提供一种测试连接装置，应用于具有至少一个测试点的待测板卡，所述测试连接装置包括基板、插针及固定部，其中：所述基板设置有呈阵列排布的插孔，所述基板的至少部分插孔可拆卸设置有所述插针，所述插针用于与所述待测板卡的测试点接触，所述固定部用于固定所述基板和待测板卡并使所述插针与测试点接触，以使所述插针接收所述测试点输出的数据信号。可选地，上述测试连接装置还包括用于放置所述基板或待测板卡的承载台，所述固定部设置在所述承载台上，以对承载台上的基板及待测板卡进行卡固。可选地，上述承载台上设置有用于限定所述基板和/或待测板卡放置位置的限位挡块。可选地，上述固定部包括支撑件、第一传动组件及第一挤压件，其中：所述支撑件设置在所述承载台上，所述支撑件远离所述承载台的一端设置有用于放置第一传动组件的支撑板，所述第一传动组件设置在所述支撑板上；所述第一传动件与所述第一挤压件传动连接，用于带动所述第一挤压件运动以压合固定所述待测板卡及基板。可选地，上述测试连接装置还包括处理器及传感组件，所述固定部包括支撑件及第二传动组件，其中：所述传感组件设置在所述承载台上，用于检测承载台上是否放置有所述基板及待测板卡；所述支撑件的一端设置在所述承载台上，另一端设置有所述第二传动组件，所述第二传动组件包括传动部及第二挤压件，所述传动部与所述第二挤压件连接；所述处理器与所述传感组件及第二传动组件连接，用于在传感组件检测到所述承载台上放置有所述待测板卡时，生成控制信号，所述第二传动组件接收所述控制信号，并根据所述控制信号驱使所述第二挤压件靠近所述基板运动，以压合固定所述基板及待测板卡。可选地，上述第二传动组件包括气压缸、液压缸中的至少一种。可选地，上述测试连接装置还包括电源模块，所述电源模块与所述处理器、传感组件及第二传动组件连接。可选地，上述传感组件包括压电传感器、重力传感器中的至少一种。可选地，上述插针的数量与所述测试点的数量相同，且所述插针在所述基板上的相对位置与所述测试点在所述待测板卡上的相对位置相同。本技术还提供一种测试系统，包括测试仪及上述的测试连接装置，所述测试仪与所述测试连接装置中的各插针连接，所述插针用于与待测板卡的测试点接触，以使待测板卡与所述测试仪电连接。相对于现有技术而言，本技术提供的测试连接装置及测试系统至少具有以下有益效果：测试连接装置包括基板、插针及固定部，基板上设置有呈阵列排布的插孔，所述基板的至少部分插孔可拆卸设置有所述插针，所述插针用于与待测板卡的测试点接触，以接收测试点输出的数据信号。固定部用于压合卡固基板和待测板卡，以使插针与测试点接触，进而对待测板卡进行测试。本方案通过插针直接与测试点接触，基板用于固定并隔离插针，测试人员可基于待测板卡的测试点设置插针，快组装成用于连接待测板卡的连接头，便于与同类型的待测板卡连接并进行测试，进而有助于提升测试进程，提高测试效率。为使本技术的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举本技术较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍。应当理解，以下附图仅示出了本技术的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。图1为本技术较佳实施例提供的测试连接装置的一种结构示意图。图2为本技术较佳实施例提供的测试连接装置与待测板卡相配合的结构示意图。图3为本技术较佳实施例提供的基板与待测板卡相配合的结构示意图。图4为本技术较佳实施例提供的测试连接装置中第一传动组件与第一挤压件相配合的结构示意图。图5为本技术较佳实施例提供的测试连接装置的另一种结构示意图。图6为本技术较佳实施例提供的测试系统的结构示意图。图标：10-测试系统；100-测试连接装置；110-基板；111-插孔；120-插针；130-固定部；131-支撑件；132-第一传动组件；133-第一挤压件；134-支撑板；140-承载台；150-限位挡块；160-第二传动组件；161-传动部；162-第二挤压件；200-待测板卡；300-测试仪。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本技术的范围，而是仅仅表示本技术的选定实施例。基于本技术的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。在本技术的描述中，需要说明的是，术语“中”、“上”、“下”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该技术产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。此外，术语“水平”、“竖直”等术语并不表示要求部件绝对水平或悬垂，而是可以稍微倾斜。如“水平”仅仅是指其方向相对“竖直”而言更加水平，并不是表示该结构一定要完全水平，而是可以稍微倾斜。在本技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接。可以是机械连接，也可以是电性连接。可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试连接装置，应用于具有至少一个测试点的待测板卡，其特征在于，所述测试连接装置包括基板、插针及固定部，其中：所述基板设置有呈阵列排布的插孔，所述基板的至少部分插孔可拆卸设置有所述插针，所述插针用于与所述待测板卡的测试点接触，所述固定部用于固定所述基板和待测板卡并使所述插针与测试点接触，以使所述插针接收所述测试点输出的数据信号。

【技术特征摘要】
1.一种测试连接装置，应用于具有至少一个测试点的待测板卡，其特征在于，所述测试连接装置包括基板、插针及固定部，其中：所述基板设置有呈阵列排布的插孔，所述基板的至少部分插孔可拆卸设置有所述插针，所述插针用于与所述待测板卡的测试点接触，所述固定部用于固定所述基板和待测板卡并使所述插针与测试点接触，以使所述插针接收所述测试点输出的数据信号。2.根据权利要求1所述的测试连接装置，其特征在于，所述测试连接装置还包括用于放置所述基板或待测板卡的承载台，所述固定部设置在所述承载台上，以对承载台上的基板及待测板卡进行卡固。3.根据权利要求2所述的测试连接装置，其特征在于，所述承载台上设置有用于限定所述基板和/或待测板卡放置位置的限位挡块。4.根据权利要求2所述的测试连接装置，其特征在于，所述固定部包括支撑件、第一传动组件及第一挤压件，其中：所述支撑件设置在所述承载台上，所述支撑件远离所述承载台的一端设置有用于放置第一传动组件的支撑板，所述第一传动组件设置在所述支撑板上；所述第一传动件与所述第一挤压件传动连接，用于带动所述第一挤压件运动以压合固定所述待测板卡及基板。5.根据权利要求2所述的测试连接装置，其特征在于，所述测试连接装置还包括处理器及传感组件，所述固定部包括支撑件及第二传动组件，其中：所述传感组件设置在所述承载...

【专利技术属性】
技术研发人员：张皓渊，
申请(专利权)人：成都天可精创科技有限公司，
类型：新型
国别省市：四川,51