位移控制探针机构制造技术

本实用新型专利技术公开了一种位移控制探针机构，主体能固定安装于外壳内，探针一端插设于主体的通孔结构内，探针另一端伸出外壳一端外侧形成探测头部，探针一端圆周外侧壁与主体的通孔结构之间存在设定间隙，主体一端间隔设有至少两个钢珠组，每个钢珠组由两个沿主体圆周方向间隔排列的钢珠组成，探针一端设有至少两个径向延伸的通断触点，各通断触点对应的搭设于各钢珠组的两个钢珠上，各钢珠、通断触点及信号发生装置顺序串联成第一回路，压敏电阻两端分别与探针相邻两个通断触点之间的侧壁及外壳固定，各个压敏电阻以及信号发生装置顺序串联形成第二回路，信号发生装置传信于控制系统，本实用新型专利技术能实现高精密检测，有利于提高工件加工精度。

Displacement control probe mechanism

The utility model discloses a displacement control probe mechanism. The main body can be fixed in the shell, one end of the probe is inserted in the hole structure of the main body, and the other end of the probe is extended outside the outer shell to form the probe head. There are at least two steel ball groups. Each steel ball group is composed of two steel beads arranged along the circumference direction of the main body. At one end of the probe, there are at least two radial extension contacts, each of which is set on the two steel balls of each steel ball group. Each steel ball, the broken contact contact and the signal generator are in sequence in series. The circuit, the two ends of the pressure sensitive resistors are respectively fixed to the side wall and the outer shell of the two adjacent break contacts adjacent to the probe, and each varistor and the signal generator are in series in series to form the second loop, and the signal generator is transmitted to the control system. The utility model can realize high precision detection and improve the machining precision of the workpiece.

【技术实现步骤摘要】
位移控制探针机构
本技术涉及一种检具，特别涉及一种位移控制探针机构。
技术介绍
目前探针机构多用于机床加工位置检测和测量设备对工件尺寸的检测，而现有的探针检测时由于通讯延时等原因会导致探针接触到工件后，伺服电机不能马上停下来，探针实际上还会继续向前运动一个微小的距离，进而导致检测误差无法避免，由于检测误差的存在，就给无法进一步提高加工精度，难以实现高精度加工，给高精密产品使用造成影响。
技术实现思路
为了克服上述缺陷，本技术提供了一种位移控制探针机构，该位移控制探针机构结构简单，能够自动进行误差补偿和修正，输出精确的检测结果，检测误差小，精度高。本技术为了解决其技术问题所采用的技术方案：一种位移控制探针机构，包括外壳、主体、探针(最佳为三分量接触式位移传感器)、信号发生装置、钢珠、压敏电阻和控制器，所述主体能够固定安装于筒状的外壳内侧，主体内侧形成有轴向通孔结构，探针一端插设于主体的通孔结构内，探针另一端伸出外壳一端外侧形成探测头部，探针一端圆周外侧壁与主体的通孔结构之间存在设定间隙，主体一端表面间隔的设有至少两个钢珠组，每个钢珠组由两个沿主体圆周方向间隔排列的钢珠组成，探针一端圆周外侧壁上设有至少两个径向延伸的通断触点，各个通断触点恰一一对应的搭设于每个钢珠组的两个钢珠之间，所述各个钢珠、探针底座上的各个通断触点以及信号发生装置顺序串联形成第一回路，压敏电阻一端与探针一端位于相邻两个通断触点之间的侧壁相连，压敏电阻另一端与外壳固定定位，所述各个压敏电阻以及信号发生装置顺序串联形成第二回路，信号发生装置传信于控制系统。作为本技术的进一步改进，还设有弹性件，所述弹性件两端分别与压敏电阻和探针一端侧壁固定连接。作为本技术的进一步改进，所述探针一端位于相邻两个通断触点之间的侧壁上设有径向凸起结构，弹性件一端设有环套结构，该环套结构套设于探针一端圆周外侧壁的径向凸起结构上。作为本技术的进一步改进，所述钢珠组为三个，均匀分布于主体一端表面上的同一圆周线上，压敏电阻也为三个，均匀分布于两两相邻的钢珠组之间。作为本技术的进一步改进，所述探针包括探针底座和探针头，所述探针底座为一端直径大于另一端直径的T形圆柱体结构，探针头为杆状结构，探针头一端固定插设于探针底座另一端内，探针头另一端形成圆球形接触部。作为本技术的进一步改进，所述探针底座直径小的另一端圆周外侧固定套设有一导向套，导向套圆周外侧边缘上形成有轴向凸起环，外壳和本体之间恰形成一圆环状容纳槽，导向套上的轴向凸起环容纳于所述圆环状容纳槽内，且圆环状容纳槽沿其径向的宽度大于导向套圆周外侧边缘的轴向凸起环沿其径向的宽度。作为本技术的进一步改进，所述探针一端圆周外侧表面为圆锥面，本体轴向通孔结构为与探针一端圆周外侧的圆锥面匹配的圆锥孔。作为本技术的进一步改进，所述探针一端的端面上设有第一磁铁，外壳另一端内侧面上设有第二磁铁，第一、二磁铁同轴正对，且第一、二磁铁之间存在设定距离。作为本技术的进一步改进，所述外壳另一端固定设有一接头，该接头能够与机器插接口快速卡接相连。作为本技术的进一步改进，所述主体一端的端面上设有供钢珠容纳的凹坑，每个钢珠组对应的两个凹坑之间设有圆柱面的凹槽结构，所述探针一端圆周外侧壁上的通断触点为圆柱结构，该圆柱结构恰能够容纳于该凹槽结构内，本体位于相邻的钢珠组之间还设有轴向凸挡壁，各个钢珠组恰止挡于其两侧的轴向凸挡壁之间。本技术的有益效果是：本技术通过探针一端上的通断触点与本体上的钢珠形成串联回路，当探针碰到工件发生倾斜时，会导致整个串联回路形成断路获得信号，同时探针受到通讯延时等影响碰到工件后继续向前运动一段距离的过程中探针倾斜势必导致压敏电阻受压，导致电阻值发生变化，进而通过控制器计算获得探针碰到工件后继续向前运行的距离，通过系统根据该距离对检测结果进行补偿和修正最终输出高精度的检测结果，实现高精密检测，有利于提高工件加工精度，满足高精密产品的加工要求。附图说明图1为本技术的结构原理立体剖面图；图2为本技术的探针与本体连接结构原理图。具体实施方式实施例：一种位移控制探针机构，包括外壳1、主体2、探针(最佳为三分量接触式位移传感器)、信号发生装置、钢珠4、压敏电阻5和控制器，所述主体2能够固定安装于筒状的外壳1内侧，主体2内侧形成有轴向通孔结构，探针一端插设于主体2的通孔结构内，探针另一端伸出外壳1一端外侧形成探测头部，探针一端圆周外侧壁与主体2的通孔结构之间存在设定间隙，主体2一端表面间隔的设有至少两个钢珠4组，每个钢珠4组由两个沿主体2圆周方向间隔排列的钢珠4组成，探针一端圆周外侧壁上设有至少两个径向延伸的通断触点6，各个通断触点6恰一一对应的搭设于每个钢珠4组的两个钢珠4之间，所述各个钢珠4、探针底座3上的各个通断触点6以及信号发生装置顺序串联形成第一回路，压敏电阻5一端与探针一端位于相邻两个通断触点6之间的侧壁相连，压敏电阻5另一端与外壳1固定定位，所述各个压敏电阻5以及信号发生装置顺序串联形成第二回路，信号发生装置传信于控制系统。在进行工件位置检测和测量时，当探针另一端压到工件时，因支点的关系，探针一端上的通断触点6与本体上的钢珠4的接触点将会分开，无论是上下前后左右方向的碰触，都会造成第一回路断开，进而获得一个初步的工件位置信息，而当探针另一端接触到工件后，由于通讯延时等原因导致的探针继续向前运动一个距离时，则会出现探针轴向倾斜，进而导致一个压敏电阻5被压迫产生电阻值变化，根据压敏电阻5的电阻值变化，控制器通过运算获得探针在其另一端接触到工件后继续运行的距离，进而获知探针检测的误差值，经过实验室多组测试后获得探针检测误差曲线，在控制器中针对该误差进行补偿修正后即可获得与实际相符的精确位置信息，进而输出精确工件位置检测信息，该信息有控制器输出给加工机床、检测设备等的控制系统进行运算和输出。还设有弹性件7，所述弹性件7两端分别与压敏电阻5和探针一端侧壁固定连接，在探针发生倾斜后，导致弹性件7发生压缩变形，进而通过弹性件7对压敏电阻5进行弹性抵压获得电阻值变化，避免损坏压敏电阻5，其中所述弹性件7为压簧、弹性材料制品等等。所述探针一端位于相邻两个通断触点6之间的侧壁上设有径向凸起结构8，弹性件7一端设有环套结构，该环套结构套设于探针一端圆周外侧壁的径向凸起结构8上。所述钢珠4组为三个，均匀分布于主体2一端表面上的同一圆周线上，压敏电阻5也为三个，均匀分布于两两相邻的钢珠4组之间，实现任意角度的探针倾斜侦测。所述探针包括探针底座3和探针头9，所述探针底座3为一端直径大于另一端直径的T形圆柱体结构，探针头9为杆状结构，探针头9一端固定插设于探针底座3另一端内，探针头9另一端形成圆球形接触部。所述探针底座3直径小的另一端圆周外侧固定套设有一导向套10，导向套10圆周外侧边缘上形成有轴向凸起环11，外壳1和本体之间恰形成一圆环状容纳槽12，导向套10上的轴向凸起环11容纳于所述圆环状容纳槽12内，且圆环状容纳槽12沿其径向的宽度大于导向套10圆周外侧边缘的轴向凸起环11沿其径向的宽度，导向套10对探针倾斜摆动起到导向和限位作用。所述探针一端圆周外侧表面为圆锥面，本体轴向通本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种位移控制探针机构，其特征在于：包括外壳(1)、主体(2)、探针、信号发生装置、钢珠(4)、压敏电阻(5)和控制器，所述主体能够固定安装于筒状的外壳内侧，主体内侧形成有轴向通孔结构，探针一端插设于主体的通孔结构内，探针另一端伸出外壳一端外侧形成探测头部，探针一端圆周外侧壁与主体的通孔结构之间存在设定间隙，主体一端表面间隔的设有至少两个钢珠组，每个钢珠组由两个沿主体圆周方向间隔排列的钢珠组成，探针一端圆周外侧壁上设有至少两个径向延伸的通断触点(6)，各个通断触点恰一一对应的搭设于每个钢珠组的两个钢珠之间，所述各个钢珠、探针底座上的各个通断触点以及信号发生装置顺序串联形成第一回路，压敏电阻一端与探针一端位于相邻两个通断触点之间的侧壁相连，压敏电阻另一端与外壳固定定位，所述各个压敏电阻以及信号发生装置顺序串联形成第二回路，信号发生装置传信于控制系统。

【技术特征摘要】
1.一种位移控制探针机构，其特征在于：包括外壳(1)、主体(2)、探针、信号发生装置、钢珠(4)、压敏电阻(5)和控制器，所述主体能够固定安装于筒状的外壳内侧，主体内侧形成有轴向通孔结构，探针一端插设于主体的通孔结构内，探针另一端伸出外壳一端外侧形成探测头部，探针一端圆周外侧壁与主体的通孔结构之间存在设定间隙，主体一端表面间隔的设有至少两个钢珠组，每个钢珠组由两个沿主体圆周方向间隔排列的钢珠组成，探针一端圆周外侧壁上设有至少两个径向延伸的通断触点(6)，各个通断触点恰一一对应的搭设于每个钢珠组的两个钢珠之间，所述各个钢珠、探针底座上的各个通断触点以及信号发生装置顺序串联形成第一回路，压敏电阻一端与探针一端位于相邻两个通断触点之间的侧壁相连，压敏电阻另一端与外壳固定定位，所述各个压敏电阻以及信号发生装置顺序串联形成第二回路，信号发生装置传信于控制系统。2.根据权利要求1所述的位移控制探针机构，其特征在于：还设有弹性件(7)，所述弹性件两端分别与压敏电阻和探针一端侧壁固定连接。3.根据权利要求2所述的位移控制探针机构，其特征在于：所述探针一端位于相邻两个通断触点之间的侧壁上设有径向凸起结构(8)，弹性件一端设有环套结构，该环套结构套设于探针一端圆周外侧壁的径向凸起结构上。4.根据权利要求2所述的位移控制探针机构，其特征在于：所述钢珠组为三个，均匀分布于主体一端表面上的同一圆周线上，压敏电阻也为三个，均匀分布于两两相邻的钢珠组之间。5.根据权利要求1所述的位移控制探针机构，其特征在于：所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：宇金龙，
申请(专利权)人：昆山冠品优精密机械有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏,32