An organic EL device (1) embodiments comprises the process of forming an organic light emitting layer (23) on a first electrode (12) in the cofferdam (13) in the cofferdam (10) by coating the cofferdam substrate (10), and calculating the flatness of the organic light emitting layer, and determining whether the flatness is a desired flatness. The above process, the process of forming a second electrode (30), sets the minimum thickness of the organic light emitting layer to D (nm), and sets the area of the organic light emitting layer below the (d+ specified value) nm to A1, when the area of the pixel area is set to A2, the flatness is expressed by (A1/A2) x 100, when the level of flatness is above the expected value in the determined process, In the process of forming the second electrode, the organic luminescence layer is formed by changing the formation conditions of the organic light emitting layer in the case that the level of flatness is less than the expected value in the process.
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】有机EL器件的制造方法及有机EL器件
本专利技术涉及有机EL器件的制造方法及有机EL器件。
技术介绍
作为有机EL器件,已知有如专利文献1那样由围堰(隔壁)来规定多个像素的有机EL器件。在这样的有机EL器件中,在各像素内设置有机发光层,使各像素发光。在先技术文献专利文献专利文献1:国际公开第2008/149499号
技术实现思路
专利技术要解决的课题当有机EL器件所具有的像素内的有机发光层的厚度不均匀时,像素的亮度特性(例如亮度的均匀性等)劣化。为了使有机发光层的厚度均匀、也就是使有机发光层平坦,以往要求预先使成为有机发光层的基底的层平坦。然而,在该情况下,需要针对每层来评价层的平坦性,制造工序变得繁杂。另外,由于有机发光层的平坦性与亮度的关系不明,因此在直至在有机发光层上形成电极等而一度制造出有机EL器件之后试着使其发光为止的期间,无法判明是否能够得到期望的亮度特性。因此,在未能够得到期望的亮度特性的情况下,不仅需要再次形成有机发光层,还需要再次形成应在有机发光层上设置的电极,有机EL器件的生产率降低。于是,本专利技术的目的在于,提供能够实现生产率的提高的有机EL器件的制造方法及有机EL器件。用于解决课题的方案即,本专利技术的一方案的带围堰的基板包括:通过涂布法在具备基板、围堰及第一电极的带围堰的基板的所述第一电极上形成有机发光层的工序,其中,所述围堰设置于所述基板且用于规定像素,所述第一电极在所述基板中设置于与所述像素对应的像素区域上;算出所述有机发光层的平坦度的工序;判定所述有机发光层的平坦度是否为期望的平坦度以上的工序;以及在所述有机发光层上形成第二电 ...
【技术保护点】
1.一种有机EL器件的制造方法,其特征在于,包括:通过涂布法在具备基板、围堰及第一电极的带围堰的基板的所述第一电极上形成有机发光层的工序,其中,所述围堰设置于所述基板且用于规定像素,所述第一电极在所述基板中设置于与所述像素对应的像素区域上;算出所述有机发光层的平坦度的工序;判定所述有机发光层的平坦度是否为期望的平坦度以上的工序;以及在所述有机发光层上形成第二电极的工序,在算出所述平坦度的工序中,将所述有机发光层的最小厚度设为d,将从所述基板的厚度方向观察时为(d+规定值)以下的所述有机发光层的面积设为A1,将所述像素区域的面积设为A2,将所述平坦度设为α时,通过下述式(1)算出所述平坦度,α=(A1/A2)×100…(1)在进行判定的所述工序中所述平坦度为期望的值以上的情况下,实施形成所述第二电极的工序,在进行判定的所述工序中所述平坦度小于期望的值的情况下,在形成所述有机发光层的工序中,变更所述有机发光层的形成条件来形成所述有机发光层,其中,d、(d+规定值)的单位为nm。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2015.11.13 JP 2015-2233201.一种有机EL器件的制造方法,其特征在于,包括:通过涂布法在具备基板、围堰及第一电极的带围堰的基板的所述第一电极上形成有机发光层的工序,其中,所述围堰设置于所述基板且用于规定像素,所述第一电极在所述基板中设置于与所述像素对应的像素区域上;算出所述有机发光层的平坦度的工序;判定所述有机发光层的平坦度是否为期望的平坦度以上的工序;以及在所述有机发光层上形成第二电极的工序,在算出所述平坦度的工序中,将所述有机发光层的最小厚度设为d,将从所述基板的厚度方向观察时为(d+规定值)以下的所述有机发光层的面积设为A1,将所述像素区域的面积设为A2,将所述平坦度设为α时,通过下述式(1)算出所述平坦度,α=(A1/A2)×100…(1)在进行判定的所述工序中所述平坦度为期望的值以上的情况下,实施形成所述第二电极的工序,在进行判定的所述工序中所述平坦度小于期望的值的情况下,在形成所述有机发光层的工序中,变更所述有机发光层的形成条件来形成所述有机发光层,其中,d、(d+规定值)的单位为nm。2.根据权利要求1所述的有机EL器件的制造方法,其中,所述规定值为2以上且15以下。3.根据权利要求1所述的有机EL器件的制造方法,其中,所述规定值为10。4.根据权利要求1至3中任一项所述的有机EL器件的制造方法,其中,所述期望的平坦度基于针对亮度分布率算出用像素而由所述式(1)规定的平坦度与所述亮度分布率算出用像素的亮度分布率的关系来设定,所述亮度分布率为...
【专利技术属性】
技术研发人员:仓田知己,山下和贵,关口泰广,
申请(专利权)人:住友化学株式会社,
类型:发明
国别省市:日本,JP
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