The invention provides a device for measuring the refractive index of materials. A device for measuring the refractive index of a material, including the base and the PC control end, the motor is set in the base, the motor shaft of the motor is extended to the top of the bottom, the motor shaft is equipped with a carrier platform, the top of the base has a laser component and a line array CCD platform on the opposite sides of the carrier platform, and the line array CCD platform has a linear array. CCD, both the motor and the linear array CCD are electrically connected with the PC control end. The position relation of the laser components, the carrier platform and the linear array CCD satisfies the material to be measured on the carrier platform by the laser beam emitted by the laser components. The transmission light through the material to be measured can be received by the linear array CCD. The invention also provides a method for measuring the device. The invention makes the material to be processed into a parallel plate, and the refractive index is calculated by measuring the distance between the adjacent transmission beams after the incident beam of a certain incident angle is ejected by a parallel plate many times. The method has the characteristics of simple and practical, small error, high precision and fast speed.
【技术实现步骤摘要】
一种材料折射率的测量装置及其测量方法
本专利技术涉及折射率测量
,更具体的,涉及一种材料折射率的测量装置及其测量方法。
技术介绍
折射率是描述光学材料性质的重要参数之一,是几何光学中最重要的一个概念,非气态物质的折射率测量都是以折射定律为基础的测角法。准确获得光学材料的折射率对光学材料的应用和光学设计等方面都非常重要,为了准确获取材料的折射率,则需要对其进行准确测量。由于棱镜在光学和光学相关的领域使用广泛,加工工艺较成熟,所以高精度的折射率测量大都采用精密测角仪,把材料加工成棱镜形状,以折射定律为基础,然后根据所测折射角计算出折射率。但是棱镜的加工相对较复杂,如果加工欠佳则可能会影响测量的准确性。而目前常采用的最小偏向角法,由于测量过程中需要人眼通过望远镜主观判断最小偏向角的位置,造成较大的主观误差,影响测量结果,不利于材料折射率的实际测量。
技术实现思路
为克服上述现有技术中的至少一种缺陷,本专利技术提供一种材料折射率的测量装置及其测量方法。本专利技术是基于把待测材料加工成一定厚度的平行平板,对一定入射角入射的光束经平行平板多次出射后,测量相邻透射光束之间的距离计算得到的,具有测量方法简单实用、误差小、精度高以及快捷的特点。为解决上述技术问题,本专利技术采用的技术方案是:一种材料折射率的测量装置,其中,包括底座和PC控制端,所述底座内部设有电机,所述电机的电机轴伸出到所述底座的顶部,所述电机的电机轴上设有载物台,所述底座的顶部在所述载物台相对的两侧分别设有激光器组件和线阵CCD平台,所述线阵CCD平台设有线阵CCD,所述电机和线阵CCD均与所述PC控制 ...
【技术保护点】
1.一种材料折射率的测量装置,其特征在于,包括底座(1)和PC控制端(10),所述底座(1)内部设有电机(2),所述电机(2)的电机轴伸出到所述底座(1)的顶部,所述电机(2)的电机轴上设有载物台(3),所述底座(1)的顶部在所述载物台(3)相对的两侧分别设有激光器组件和线阵CCD平台(4),所述线阵CCD平台(4)设有线阵CCD(5),所述电机(2)和线阵CCD(5)均与所述PC控制端(10)电连接,所述激光器组件、载物台(3)和线阵CCD(5)的位置关系满足激光器组件射出的激光束照射在载物台(3)上的待测材料(11)上,穿过待测材料(11)的透射光线能够被线阵CCD(5)接收。
【技术特征摘要】
1.一种材料折射率的测量装置,其特征在于,包括底座(1)和PC控制端(10),所述底座(1)内部设有电机(2),所述电机(2)的电机轴伸出到所述底座(1)的顶部,所述电机(2)的电机轴上设有载物台(3),所述底座(1)的顶部在所述载物台(3)相对的两侧分别设有激光器组件和线阵CCD平台(4),所述线阵CCD平台(4)设有线阵CCD(5),所述电机(2)和线阵CCD(5)均与所述PC控制端(10)电连接,所述激光器组件、载物台(3)和线阵CCD(5)的位置关系满足激光器组件射出的激光束照射在载物台(3)上的待测材料(11)上,穿过待测材料(11)的透射光线能够被线阵CCD(5)接收。2.根据权利要求1所述的一种材料折射率的测量装置,其特征在于,所述激光器组件包括第一激光器(6)和第二激光器(7),所述第一激光器(6)和第二激光器(7)处于同一水平面。3.根据权利要求2所述的一种材料折射率的测量装置,其特征在于,所述第一激光器(6)和第二激光器(7)通过激光器调整支架(8)固定于所述底座(1)顶部,所述激光器调整支架(8)能够调整第一激光器(6)和第二激光器(7)的激光束的射出方向。4.根据权利要求1所述的一种材料折射率的测量装置,其特征在于,所述载物台(3)和线阵CCD平台(4)上均设有水平调节螺钉(9)。5.根据权利要求4所述的一种材料折射率的测量装置,其特征在于,所述载物台(3)/线阵CCD平台(4)上的水平调节螺钉(9)的数量为三个,所述水平调节螺钉(9)在所述载物台(3)/线阵CCD平台(4)的底面上呈正三角形分布。6.一种材料折射率的测量方法,其特征在于,包括如下步骤:S1.首先将待测材料(11)加工成平行平板材料,然后借助水平仪将第一激光器(6)、第二激光器(7)和线阵CCD(5)调水平;S2.调整第一激光器(6)的激光器调整支架(8),使得第一激光器(6)射出的入射到线阵CCD(5)接收窗口的激光束反射回到第一激光器(6)的激光发射孔,即保证第一激光器(6)射...
【专利技术属性】
技术研发人员:王文华,梁富恒,吴伟娜,吴宗旺,陈茂添,郑鸿鹏,
申请(专利权)人:广东海洋大学,
类型:发明
国别省市:广东,44
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