The invention discloses a single chip irradiation test method, a device, a system and a database establishing method, belonging to the field of radiation testing technology. The single particle irradiation test method includes: obtaining the test instruction, and extracting the corresponding test vector compressed file from the test vector compressed file database according to the test vector compressed file identity contained in the test instruction, and decompressing the extracted test vector compression file to determine the test vector. The output standard value corresponding to the test vector is used to drive the test chip to output the actual output value corresponding to the test vector of the tested chip, and the output standard value corresponding to the test vector is compared with the actual output value as the single particle irradiation test result of the chip. This method can cover all the radiation test tests of all chips, and has high versatility.
【技术实现步骤摘要】
芯片单粒子辐照测试方法、装置、系统及数据库建立方法
本专利技术属于辐照测试
，特别是涉及一种芯片单粒子辐照测试方法、装置及系统。
技术介绍
来自外空间的宇宙射线的辐照会严重影响在外空间运行的各类航天器的电子器件，进而威胁航天器的在轨运行安全。因为辐射导致的单粒子翻转等效应，使得航天器上存储器的内容可能出现小概率错误，这种错误会影响系统的运行。一旦系统运行崩溃，各方面带来的损失无从估量。为了模拟外空间的环境，在地面上用加速器产生的重离子流轰击待测芯片，形成单粒子翻转等效应进行相关的测试评估与分析。在商业芯片的测试中，存在大量的各类型号的自动测试机台，但在辐照测试中不可能将其搬进实验室。目前的辐照实验系统一般通过线缆连接试验室与监控室，完成对待测芯片控制工作。但是线缆太多既不安全也不易维护，且容易损坏，为问题的定位带来难度。待测芯片千千万，不同芯片的属性功能各不相同，如果测试系统在测试一款新芯片时仍旧需要大量的人力开发投入，那系统的可重用性必将大打折扣，既降低了可靠性，又造成了开发浪费。现有技术中专利号为201310724722.7公开了一种SRAM型FPGA单粒子辐照试验测试系统及方法，专利号为201410706041.2公开了一种基于JTAG接口的单粒子辐照试验测试系统及方法，其中都包含有测试FPGA阵列，但上述测试系统不能测试功能芯片，复杂功能芯片会涉及到软件开发功能设置及各种协议拓扑结构等等，而FPGA只需要配置码流，由于测试对象是各色各样的芯片，小到74系列逻辑芯片，大到8位或32位微控制器芯片，或者是处理器芯片，当需要测试不同的功能芯片时，现...
【技术保护点】
1.一种芯片单粒子辐照测试方法，在测试控制端执行，其特征在于，包括：获取测试指令，并根据所述测试指令中包含的测试向量压缩文件标识，从测试向量压缩文件数据库中提取对应的测试向量压缩文件；对提取的所述测试向量压缩文件进行解压缩，确定测试向量和测试向量对应的输出标准值；根据确定的所述测试向量，以驱动待测芯片，使所述待测芯片输出测试向量对应的实际输出值；将所述测试向量对应的输出标准值与实际输出值进行比较，确定待测芯片的单粒子辐照测试结果。
【技术特征摘要】
1.一种芯片单粒子辐照测试方法，在测试控制端执行，其特征在于，包括：获取测试指令，并根据所述测试指令中包含的测试向量压缩文件标识，从测试向量压缩文件数据库中提取对应的测试向量压缩文件；对提取的所述测试向量压缩文件进行解压缩，确定测试向量和测试向量对应的输出标准值；根据确定的所述测试向量，以驱动待测芯片，使所述待测芯片输出测试向量对应的实际输出值；将所述测试向量对应的输出标准值与实际输出值进行比较，确定待测芯片的单粒子辐照测试结果。2.根据权利要求1所述的芯片单粒子辐照测试方法，其特征在于，所述测试指令中包含至少两组测试向量压缩文件标识；所述从测试向量压缩文件数据库中提取对应的测试向量压缩文件，包括：分别从测试向量压缩文件数据库中提取所述至少两组测试向量压缩文件标识对应的至少两组测试向量压缩文件；所述对提取的所述测试向量压缩文件进行解压缩，包括：对提取的至少两组所述测试向量压缩文件分别进行解压缩。3.根据权利要求1所述的芯片单粒子辐照测试方法，其特征在于，所述测试向量压缩文件标识包括读数据的首地址和末尾地址。4.根据权利要求1所述的芯片单粒子辐照测试方法，其特征在于，所述将所述测试向量对应的输出标准值与实际输出值进行比较之后，还包括：获取测试结果调取指令，并根据所述调取指令发送所述待测芯片的单粒子辐照测试结果。5.一种芯片单粒子辐照测试方法，在主控制端执行，其特征在于，包括：发送测试指令，所述测试指令中包含有测试向量压缩文件标识，以使测试控制端根据所述测试向量压缩文件标识，从测试向量压缩文件数据库中提取对应的测试向量压缩文件，并对提取的所述测试向量压缩文件进行解压缩，确定测试向量和测试向量对应的输出标准值，从而根据确定的所述测试向量，以驱动待测芯片，使所述待测芯片输出测试向量对应的实际输出值，所述测试控制端将所述测试向量对应的输出标准值与实际输出值进行比较，确定待测芯片的单粒子辐照测试结果。6.一种测试向量压缩文件数据库的建立方法，其特征在于，包括：计算芯片各测试向量的第一逻辑差异和第二逻辑差异，得到所述各测试向量的第一逻辑差异数据流和第二逻辑差异数据流，其中所述第一逻辑差异为所述测试向量在相邻周期内的逻辑差异，所述第二逻辑差异为所述测试向量对应的输出标准值在相邻周期内的逻辑差异；对各所述测试向量的第一逻辑差异数据流和第二逻辑差异数据流进行压缩编码处理，得到包含芯片的各测试向量压缩文件的测试向量压缩文件数据库，以使测试控制端根据测试向量压缩文件标识，从所述测试向量压缩文件数据库中提取对应的测试向量压缩文件，并对提取的所述测试向量压缩文件进行解压缩，确定测试向量和测试向量对应的输出标准值，根据确定的所述测试向量，以驱动待测芯片，使所述待测芯片输出测试向量对应的实际输出值，从而使所述测试控制端将所述测试向量对应的输出标准值与实际输出值进行比较，确定待测芯片的单粒子辐照测试结果。7.一种芯片单粒子辐照测试装置，在测试控制端，其特征在于，包括：控制单元，用于获取测试指令，并根据所述测试指令中包含的测试向量压缩文件标识，从测试向量压缩文件数据库中提取对应的测试向量压缩文件；解压单元，用于对提取的所述测试向量压缩文件进行解压缩，确定测试向量和测试向量对应的输出标准值；发送单元，用于根据确定的所述测试向量，以驱动待测芯片，使所述待测芯片输出测试向量对应的实际输出值；比较单元，用于将所述测试向量对应的输出标准值与实际输出值进行比较，确定待测芯片的单粒子辐照测试结果。8.根据权利要求7所述的芯片单粒子辐照测试装置，其特征在于，所述测试指令中包含至少两组测试向量压缩文件标识；所述控制单元，用于分别从测试向量压缩文件数据库中提取所述至少两组测试向量压缩文件标识对应的至少两组测试向量压缩文件；所述解压单元，用于所述对提取的所述测试向量压缩文件...
【专利技术属性】
技术研发人员：祝名，谷瀚天，张伟，蒋晋东，朱恒静，
申请(专利权)人：中国空间技术研究院，
类型：发明
国别省市：北京,11
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