The present invention provides a real-time optical resistance detection device, including a workstand, a substrate arranged on a workbench, an oral gold and a mouth gold for coating light resistance on a substrate. An optical detection piece and an electrical connection with the optical detection part are also arranged on the platform. The optical detection piece is resistant to the optical resistance when the mouth gold is coated along the first direction. The signal is detected and the signal is sent back to the control part. The control unit compares the detection signal with the standard signal to determine whether the photoresist is up to the standard. The present invention provides a real-time detection device for optical resistance. By setting optical detection parts and detecting optical resistance in the light resistance of the mouth gold, the optical detection part feedback the detection signal to the control part, the control part compares the detection signal with the standard signal, and achieves the purpose of real-time detection of optical resistance and relieves the sampling inspection party. The risk of missed inspection increases the yield of products and has little influence on the capacity. The invention also provides a real-time detection method for photoresist and a photoresist coating device. One
【技术实现步骤摘要】
光阻实时检测装置、光阻实时检测方法及光阻涂布设备
本专利技术属于光阻涂布
,尤其涉及一种光阻实时检测装置、光阻实时检测方法及光阻涂布设备。
技术介绍
目前,液晶面板行业的光阻涂布制程中,多采用涂布机对基板进行光阻涂布。为保证量产良率,需要对光阻涂布制程进行如下三方面检测监控:1、实际量产中,当每次涂布机进行维护保养完毕要复机,均需要先在基板上涂布光阻,再用膜厚机测量基板涂布的光阻厚度,进而确认光阻厚度整体均一性是否在规格内;2、生产中,为保证光阻涂布后破膜现象及时发现,需在涂布机后配备1台AOI(AutomatedOpticalInspection,自动光学检测)检测机,对基板涂布后状况进行抽检;3、为保证膜厚异常现象(膜厚整体偏薄或偏厚)及时发现,会在月保养时进行测量监控确认。但是以上检测监控措施,会导致如下问题:1、维护保养后确认复机时间较长(一般不少于一小时),影响产能;2、进行AOI抽检影响产能,抽检频率无法太高,导致漏检风险存在;3、偶发的膜厚异常现象,通过月保养时确认,无法实时监控避免,存在产品报废风险。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种光阻实时检测装置,以解决现有技术所存在的检测影响产能,抽检存在漏检风险,不能实时监控的问题。为实现本专利技术的目的,本专利技术提供了如下的技术方案:第一方面,本专利技术提供一种光阻实时检测装置,包括工台,设置于所述工台上的基板,口金,所述口金用于在所述基板上涂布光阻,所述工台上还设置有光学检测件和与所述光学检测件电连接的控制件,所述口金在所述基板沿第一方向上涂布光阻时,所述光学检测件对所述光阻进行检测 ...
【技术保护点】
1.一种光阻实时检测装置,其特征在于,包括工台,设置于所述工台上的基板,口金,所
【技术特征摘要】
1.一种光阻实时检测装置,其特征在于,包括工台,设置于所述工台上的基板,口金,所述口金用于在所述基板上涂布光阻,所述工台上还设置有光学检测件和与所述光学检测件电连接的控制件,所述口金在所述基板沿第一方向上涂布光阻时,所述光学检测件对所述光阻进行检测,并反馈检测信号至所述控制件,所述控制件将所述检测信号与标准信号进行对比而确定所述光阻是否达标。2.如权利要求1所述的光阻实时检测装置,其特征在于,所述控制件包括存储模块和信号处理模块,所述存储模块用于存储所述光学检测件所反馈的无缺陷光阻的标准信号,所述信号处理模块用于将所述检测信号与所述标准信号进行对比。3.如权利要求1所述的光阻实时检测装置,其特征在于,所述光学检测件包括在所述基板两侧相对设置的光发射器和光接收器,所述光发射器发出光线,所述光线穿透所述光阻由所述光接收器接收,所述光发射器和所述光接收器跟随所述口金在所述第一方向同步移动。4.如权利要求3所述的光阻实时检测装置,其特征在于,所述光接收器可将接收到的所述光线转换为电信号,并将所述电信号传输至所述控制件。5.如权利要求3所述的光阻实时检测装置,其特征在于,所述光发射器和所述光接收器设...
【专利技术属性】
技术研发人员:张瑞军,莫超德,范志翔,刘文波,孟小龙,王松,
申请(专利权)人:深圳市华星光电技术有限公司,
类型:发明
国别省市:广东,44
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