用于集束打靶激光的全孔径背向散射光测量系统技术方案

技术编号:18234150 阅读:89 留言:0更新日期:2018-06-16 22:15
本发明专利技术属于光学测量技术领域,具体涉及一种用于集束打靶激光的全孔径背向散射光测量系统,该系统包括多个具有同一离轴抛物面面型的反射型散射板,所有反射型散射板的反射面位于同一个抛物面上,所述抛物面的焦点处设置有探头组。本发明专利技术采用一个探头组直接对多个反射型散射板的漫反射光叠加信号进行测量,具体包括空间分布测量、光谱测量、时间测量、能量测量等,本发明专利技术显著简化了取样和测量光路,具有效率高、体积小、光路简单、能量损伤阈值高等优点。 1

【技术实现步骤摘要】
用于集束打靶激光的全孔径背向散射光测量系统
本专利技术属于光学测量
,具体涉及一种用于集束打靶激光的全孔径背向散射光测量系统。
技术介绍
激光核聚变是目前普遍采用的一种人工可控核聚变,它在民用和军事上都具有十分重大的研究意义:为人类探索一种取之不尽的清洁核能源;用来研制“干净”(无放射污染)的核武器、发展高能激光武器;部分替代核实验。因此,激光核聚变受到世界各核大国的高度重视,从20世纪70年代后半叶开始,俄、美、日、法、中、英等国相继开始高功率激光驱动器的研制。美国在此领域的研究处于领先地位,并于2009年正式建成包含192束的超大型激光驱动装置“NIF”;法国正在建设的MLF包含240束激光;日本也在酝酿建造大型激光驱动器,并计划在2015-2020年间完成可应用于发电的基础技术研究。中国也建立了一系列的激光驱动装置(星光系列、神光系列等),2015年完成建设的国内最大的激光驱动装置“神光-Ⅲ”包含48束激光。然而,美国NIF在2010年的点火没有成功,这在世界范围引起了较大的震惊。NIF随后的研究发现,原来在较小规模激光驱动器上验证的理论模型在NIF上不再适用,NIF打靶本文档来自技高网...
用于集束打靶激光的全孔径背向散射光测量系统

【技术保护点】
1.一种用于集束打靶激光的全孔径背向散射光测量系统,其特征在于:包括多个具有

【技术特征摘要】
1.一种用于集束打靶激光的全孔径背向散射光测量系统,其特征在于:包括多个具有同一离轴抛物面面型的反射型散射板,所有反射型散射板的反射面位于同一个抛物面上,所述抛物面的焦点处设置有探头组。2.根据权利要求1所述的用于集束打靶激光的全孔径背向散射光测量系统,其特征在于:所述探头组包括两个能量测量单元、两个时间测量单元、两个光谱测量单元、一个标定探头单元和一个空间分布测量单元;两个能量测量单元分别用于进行长波能量测量和短波能量测量,两个时间测量单元分别用于进行长波时间测量和短波时间测量,两个光谱测量单元分别用于进行长波光谱测量和短波光谱测量。3.根据权利要求2所述的用于集束打靶激光的全孔径背向散射光测量系统,其特征在于:所述能量测量单元包括沿光路方向依次设置的能量测量带通滤光片、能量测量可变光阑、能量测量聚光镜头和能量计。4.根据权利要求3所述的用于集束打靶激光的全孔径背向散射光测量系统,其特征在于:在用于长波能量测量的能量测量单元中,能量测量带通滤光片的通光带宽为400-700nm;在用于短波能量测量的能量测量单元中,能量测量带通滤光片的通光带宽为351±3nm。5.根据权利要求2所述的用于集束打靶激光的全孔径背向散射光测量系统,其特征在于:所述时间测量单元包括沿光路方向依次设...

【专利技术属性】
技术研发人员:闫亚东何俊华许瑞华齐文博韦明智吴冰静
申请(专利权)人:中国科学院西安光学精密机械研究所
类型:发明
国别省市:陕西,61

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