【技术实现步骤摘要】
基于JESD204B的板间高速AD同步采集电路及同步方法
本专利技术属于信号处理
,具体涉及一种基于JESD204B的板间高速AD同步采集电路及同步方法。
技术介绍
传统采样数据采用多路数据线并行传输方式,易受码间同步及串扰影响,且PCB布线复杂,已难以满足多通道、高宽带、小型化数传终端需求。目前,模数转换器(ADC)正经历从并行LVDS(低压差分信号)和CMOS数字接口到高速串行接口的转变。JESD204B是一种高速串行接口协议,多用于高速模数转换器与后端数字信号处理设备间的数据传输,较相同性能指标下,采用JESD204B协议的模数转换器(ADC)较传统并行模数转换器尺寸缩小了75%,该协议由JESD204和JESD204A协议基础上发展而来,作为第3代高速串行转换器接口协议,具有前两代不同的优势,它能够确立系统中每个转换器的确定性延迟,多路ADC采集系统更易于搭建。随着系统小型化需求的增强,采用传统的多路数据线并行的ADC数据传输方式已往往无法满足的系统的采样需求。
技术实现思路
针对上述问题,本专利技术提出一种基于JESD204B的板间高速AD同步采集电路及同步方法,解决了基于JESD204B的多路ADC板间同步采集的问题。本专利技术的技术方案如下:一种基于JESD204B的板间高速AD同步采集电路,包括同步控制板和K块采集板;所述K块采集板结构相同,每块采集板有N个AD采集通道,在AD外部采样时钟ADCLK_IN和所述同步控制板输出的控制信号控制下,实现对多路模拟信号的AD同步采集;所述同步控制板分别与每块采集板相连接,为每块采集板提供时序一致的 ...
【技术保护点】
一种基于JESD204B的板间高速AD同步采集电路,其特征在于,包括同步控制板和K块采集板;所述K块采集板结构相同,每块采集板有N个AD采集通道,在AD外部采样时钟ADCLK_IN和所述同步控制板输出的控制信号控制下,实现对多路模拟信号的AD同步采集;所述同步控制板分别与每块采集板相连接,为每块采集板提供时序一致的同步控制信号SYNC_IN和与所述AD外部采样时钟同源的同步参考时钟SYNC_REFCLK_OUT,使K块采集板间实现多路AD同步采集。
【技术特征摘要】
1.一种基于JESD204B的板间高速AD同步采集电路,其特征在于,包括同步控制板和K块采集板;所述K块采集板结构相同,每块采集板有N个AD采集通道,在AD外部采样时钟ADCLK_IN和所述同步控制板输出的控制信号控制下,实现对多路模拟信号的AD同步采集;所述同步控制板分别与每块采集板相连接,为每块采集板提供时序一致的同步控制信号SYNC_IN和与所述AD外部采样时钟同源的同步参考时钟SYNC_REFCLK_OUT,使K块采集板间实现多路AD同步采集。2.根据权利要求1所述的同步采集电路,其特征在于,所述的每一块采集板都包括FPGAa、AD电路和时钟产生芯片;所述FPGAa在所述同步控制板输出的同步控制信号SYNC_IN和同步参考时钟SYNC_REFCLK_OUT的控制下,输出配置信号,配置时钟产生芯片和AD电路;所述AD电路由N个并行连接的AD器件AD1~ADN组成,对N路模拟信号进行AD采样;所述时钟产生芯片HM7043FPGAa的配置下,依据输入的所述AD外部采样时钟ADCLK_IN,输出AD同步采样所需的多路时钟信号,包括N路AD采样时钟和N路AD参考时钟。3.根据权利要求2所述的同步采集电路,其特征在于,所述AD外部采样时钟ADCLK_IN与N路AD采样时钟的频率相位均一致;N路AD采样时钟与N路AD参考时钟的相位一致。4.根据权利要求3所述的同步采集电路,其特征在于,所述时钟产生芯片使用AD外部采样时钟ADCLK_IN对FPGAa输出到时钟产生芯片的配置信号进行采样,在配置信号由高变低的时钟沿对输出的多路时钟信号进行同步,使N路AD采样时钟和N路AD参考时钟相位一致。5.根据权利要求3所述的同步采集电路,其特征在于,所述FPGAa在所述同步控制板输出的与采集板对应的同步触发信号SYNC_IN和同步参考时钟SYNC_REFCLK_OUT的控制下,通过N路SPI控制接口、JESD204B高速串行接口和链路初始化信号控制所述采集板中AD器件的AD1~ADN进行数据采样。6.根据权利要求5所述的同步采集电路,其特征在于,所述链路初始化信号为N路JESD204B高速串行接口的初始化信号,当所述N路链路初始化信号由低变高时,AD器件AD1~ADN与FPGAa进行N路JESD204B高速串行接口的初始化;初始化成功后,N路JESD204B高速串行接口传输AD采样数据;N路SPI控制接口用来调整AD器件AD1~ADN中N路AD参考时钟延时器参数。7.根据权利要求1所述的...
【专利技术属性】
技术研发人员:崔艳松,冯洋,孙东方,付常焜,刘思庆,
申请(专利权)人:北京华航无线电测量研究所,
类型:发明
国别省市:北京,11
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