开关控制方法和系统、开关控制设备和测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种开关控制方法，包括步骤：采集受试设备的电压输入端口的测试电压信号；检测所述测试电压信号的相位值，当所述测试电压信号的相位值为目标相位值时，触发开关控制指令；根据电压信号传输时间和所述受试设备的开关响应时间，对所述开关控制指令进行延时输出；其中，所述电压信号传输时间是所述测试电压信号从电压输入端口传输到受试设备的时间；根据延迟输出的开关控制指令控制所述受试设备的开关。该方案使得受试设备的开关受到开关控制指令的准确控制，克服了传统技术开关控制效率低的问题，提高了受试设备的开关控制效率，进而为提高受试设备的测试效率提供保证。还提供一种开关控制系统、开关控制设备和测试装置。

Switch control method and system, switch control device and test device

The invention relates to a switch control method, which includes a test voltage signal that collects the voltage input port of the tested device; detects the phase value of the test voltage signal, triggers the switch control instruction when the phase value of the test voltage signal is the target phase value; The switch response time of the test device is delayed to output the switch control instruction, in which the voltage signal transmission time is the time for the test voltage signal to be transmitted from the voltage input port to the test device, and the switch control instruction of the delayed output is controlled by the test device. This scheme makes the switch of the test equipment controlled accurately by the switch control instruction, overcomes the problem of low efficiency of the traditional technology switch control, improves the switching control efficiency of the test equipment, and thus provides a guarantee for improving the test efficiency of the tested equipment. A switch control system, a switch control device and a test device are also provided.

【技术实现步骤摘要】
开关控制方法和系统、开关控制设备和测试装置
本专利技术涉及电子设备
，特别是涉及一种开关控制方法和系统、开关控制设备和测试装置。
技术介绍
随着电子技术的迅速发展，对电子设备质量的要求越来越高，对电子设备的性能进行全面测试是保证电子设备质量的重要途径。以电子设备的电磁兼容以及电源特性试验为例，在对受试设备进行电源线瞬态干扰测试时，测试标准要求受试设备的开关能够在各种典型工作状态下进行精准地通断，并能够准确读取该受试设备在开关时刻所产生的尖峰信号幅度最大值等参数。然而测试电压信号的峰值、谷值以零值处对受试设备进行通断电所带来的脉冲干扰是不同的，需要对受试设备的开关进行准确控制。传统技术提供的方案需要多次接收外部输入的控制指令才能完成受试设备的开关控制，导致开关控制的效率偏低，而且该控制指令通常是借助手动方式进行输入的，手动方式容易受到主观因素的影响，降低开关控制的准确性并导致开关控制的效率下降。
技术实现思路
基于此，有必要针对传统技术开关控制的效率偏低的问题，提供一种开关控制方法。一种开关控制方法，包括步骤：采集受试设备的电压输入端口的测试电压信号；检测所述测试电压信号的相位值，当所述测试电压信号的相位值为目标相位值时，触发开关控制指令；根据电压信号传输时间和所述受试设备的开关响应时间，对所述开关控制指令进行延时输出；其中，所述电压信号传输时间是所述测试电压信号从电压输入端口传输到受试设备的时间；根据延迟输出的开关控制指令控制所述受试设备的开关。上述开关控制方法通过采集受试设备的电压输入端口的测试电压信号，对测试电压信号的相位值进行检测，在检测到测试电压的相位值为目标相位值时，触发开关指令，并根据电压信号传输时间以及受试设备的开关响应时间对该开关控制指令进行延迟输出，利用延迟输出的开关控制指令控制受试设备的开关。该方案使得受试设备的开关受到延迟输出的开关控制指令的准确控制，克服了传统技术需要多次接收外部指令导致开关控制效率低的问题，提高了受试设备的开关控制效率，进而为提高受试设备的测试效率提供保证。针对传统技术开关控制的效率偏低的问题，还提供一种开关控制系统，该系统包括：采集模块，用于采集受试设备的电压输入端口的测试电压信号；触发模块，用于检测所述测试电压信号的相位值，当所述测试电压信号的相位值为目标相位值时，触发开关控制指令；延时模块，用于根据电压信号传输时间和所述受试设备的开关响应时间，对所述开关控制指令进行延时输出；其中，所述电压信号传输时间是所述测试电压信号从电压输入端口传输到受试设备的时间；控制模块，用于根据延迟输出的开关控制指令控制所述受试设备的开关。上述开关控制系统，通过采集模块采集受试设备的电压输入端口的测试电压信号，利用触发模块对测试电压信号的相位值进行检测，在检测到测试电压的相位值为目标相位值时，触发开关指令，并通过延时模块根据电压信号传输时间以及受试设备的开关响应时间对该开关控制指令进行延迟输出，通过控制模块利用延迟输出的开关控制指令控制受试设备的开关。该方案使得受试设备的开关受到延迟输出的开关控制指令的准确控制，克服了传统技术需要多次接收外部指令导致开关控制效率低的问题，提高了受试设备的开关控制效率，进而为提高受试设备的测试效率提供保证。在一个实施例中，所述检测所述测试电压信号的相位值的步骤包括：检测所述测试电压信号的幅值大小和边沿位置；根据所述测试电压信号的幅值大小和边沿位置，确定所述测试电压信号的相位值。在一个实施例中，所述目标相位值为零相位；所述根据所述测试电压信号的幅值大小和边沿位置，确定所述测试电压信号的相位值的步骤包括：若所述测试电压信号的幅值大小为测试电压信号的过零电压值，且所述测试电压信号处于上升沿位置，则确定所述测试电压信号的相位值为零。在一个实施例中，在对所述开关控制指令进行延时输出的步骤之前，还包括：获取所述测试电压信号从电压输入端口传输到受试设备的传输相位值；根据所述传输相位值和测试电压信号的频率值确定所述电压信号传输时间。在一个实施例中，在对所述开关控制指令进行延时输出的步骤之前，还包括：获取所述受试设备的配置参数；根据所述配置参数确定所述受试设备的所述开关响应时间。在一个实施例中，根据电压信号传输时间和所述受试设备的开关响应时间，对所述开关控制指令进行延时输出的步骤包括：对所述电压信号传输时间和受试设备的开关响应时间进行求和，得到第一延迟时间；根据第一延迟时间对所述开关控制指令延迟输出。在一个实施例中，所述根据第一延迟时间对所述开关控制指令延迟输出的步骤包括：根据所述测试电压信号的周期设置第二延迟时间；根据第一延迟时间和第二延迟时间对所述开关控制指令延迟输出。在一个实施例中，提供一种开关控制设备，该设备包括电压采集单元，开关控制单元和开关执行单元；所述电压采集单元用于采集受试设备的电压输入端口的测试电压信号并发送至开关控制单元；所述开关控制单元被配置为执行如上所述的开关控制方法输出控制指令至开关执行单元；所述开关执行单元接收控制指令控制所述受试设备的开关。在一个实施例中，提供一种测试装置，该装置包括如上所述的开关控制设备、测试电压源、线路阻抗稳定网络、示波器以及连接所述线路阻抗稳定网络的负载；所述测试电压源通过线路阻抗稳定网络连接受试设备的电压输入端口，向受试设备输入测试电压信号；所述示波器连接受试设备的电压输入端口，检测受试设备对测试电压信号的响应；所述开关控制设备连接受试设备的电压输入端口和受试设备的开关，采集受试设备的测试电压信号并控制受试设备的开关。在一个实施例中，提供一种计算机设备，该计算机设备包括存储器、处理器以及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上述开关控制方法。上述计算机设备，通过所述处理器上运行的计算机程序，提高了受试设备的开关控制效率，进而为提高受试设备的测试效率提供保证。在一个实施例中，提供一种计算机存储介质，该计算机存储介质其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现如上述开关控制方法。上述计算机存储介质，通过其存储的计算机程序，提高了受试设备的开关控制效率，进而为提高受试设备的测试效率提供保证。附图说明图1为一个实施例中的开关控制方法的流程图；图2为一个实施例中的开关控制系统的结构示意图；图3为一个实施例中的开关控制设备的结构示意图；图4为一个实施例中的测试装置的结构示意图；图5为一个实施例中的开关执行单元的结构示意图。具体实施方式下面结合附图对本专利技术的开关控制方法的具体实施方式进行详细说明。在一个实施例中，提供一种开关控制方法，参考图1所述，图1为一个实施例中的开关控制方法的流程图，包括如下步骤：步骤S101，采集受试设备的电压输入端口的测试电压信号；其中，测试电压信号是指在受试设备被测试时，测试电压源向受试设备的电压输入端口输入的测试电压信号，测试电压信号可以包括正弦波、方波或三角波等波形的电压信号。本步骤主要是在受试设备的电压输入端口采集测试电压信号，进而可以获取测试电压信号的电压幅值、相位值、频率或周期等信息。步骤S102，检测所述测试电压信号的相位值，当所述测试电压信号的相位值为目标相位值时，触发开关控制指令。测试电压信号的相位值的取值范围一般是本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种开关控制方法，其特征在于，包括步骤：采集受试设备的电压输入端口的测试电压信号；检测所述测试电压信号的相位值，当所述测试电压信号的相位值为目标相位值时，触发开关控制指令；根据电压信号传输时间和所述受试设备的开关响应时间，对所述开关控制指令进行延时输出；其中，所述电压信号传输时间是所述测试电压信号从电压输入端口传输到受试设备的时间；根据延迟输出的开关控制指令控制所述受试设备的开关。

【技术特征摘要】
1.一种开关控制方法，其特征在于，包括步骤：采集受试设备的电压输入端口的测试电压信号；检测所述测试电压信号的相位值，当所述测试电压信号的相位值为目标相位值时，触发开关控制指令；根据电压信号传输时间和所述受试设备的开关响应时间，对所述开关控制指令进行延时输出；其中，所述电压信号传输时间是所述测试电压信号从电压输入端口传输到受试设备的时间；根据延迟输出的开关控制指令控制所述受试设备的开关。2.根据要求1所述的开关控制方法，其特征在于，所述检测所述测试电压信号的相位值的步骤包括：检测所述测试电压信号的幅值大小和边沿位置；根据所述测试电压信号的幅值大小和边沿位置，确定所述测试电压信号的相位值。3.根据权利要求2所述的开关控制方法，其特征在于，所述目标相位值为零相位；所述根据所述测试电压信号的幅值大小和边沿位置，确定所述测试电压信号的相位值的步骤包括：若所述测试电压信号的幅值大小为测试电压信号的过零电压值，且所述测试电压信号处于上升沿位置，则确定所述测试电压信号的相位值为零。4.根据权利要求1所述的开关控制方法，其特征在于，在对所述开关控制指令进行延时输出的步骤之前，还包括：获取所述测试电压信号从电压输入端口传输到受试设备的传输相位值；根据所述传输相位值和测试电压信号的频率值确定所述电压信号传输时间。5.根据权利要求1所述的开关控制方法，其特征在于，在对所述开关控制指令进行延时输出的步骤之前，还包括：获取所述受试设备的配置参数；根据所述配置参数确定所述受试设备的所述开关响应时间。6.根据权利要求1所述的开关控制方法，其特征在于，根据电压信号传输时间和所述受试设备的开关响应时间，对所述开关控制指令进行延时输出的步骤包括：对所述电压信号传输时间和受试...

【专利技术属性】
技术研发人员：代勇，
申请(专利权)人：广州广电计量检测股份有限公司，广州广电计量检测上海有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44