基于多期构造活动背景下走滑断裂的走滑位移计算方法技术

本发明专利技术公开了一种基于多期构造活动背景下走滑断裂的走滑位移计算方法，其中，方法包括：确定主构造轴线；测量走滑断裂第i组断层左右两盘基底卷入逆冲构造上、下盘的变形量Lupi、Lupi′、Ldowni及Ldowni′；测量走滑断裂第i组断层左右两盘滑脱断层的变形量Mi及Mi′；计算走滑断裂第i组断层左右两盘基底构造上、下盘构造线与主滑移带的夹角Φsi、Φsi、Φxi及Φsi′，上覆走滑断裂第i组断层左右两盘上覆滑脱层构造线与主滑移带的夹角ΦMi以及ΦMi′，分别计算Lupi、Lupi′、Ldowni、Ldowni′、Mi、以及Mi′在主滑移带的分量；根据上述分量计算走滑断裂的走滑位移量。采用本方案，可实现多期构造活动背景下走滑断层走滑位移量的计算，为后续规模开发井钻探及储量规模评价提供参考。

【技术实现步骤摘要】
基于多期构造活动背景下走滑断裂的走滑位移计算方法
本申请实施例涉及地质勘探
，具体涉及一种基于多期构造活动背景下走滑断裂的走滑位移计算方法。
技术介绍
近年来，随着塔里木盆地内沿着走滑断裂带钻探成果的不断提升，尤其盆地内顺北地区沿北东向走滑断裂钻探的顺北系列井位的不断突破，以及不同强度级别上钻井的产能差异，进一步证实了区域内走滑断裂对深层岩溶缝洞型储层形成改造及油气运聚具有重要控制作用，从而加大对走滑断裂的识别及强度划分显得更加重要，而盆地内走滑断层走滑位移量是衡量走滑断裂活动强度及影响范围的一条重要指标。目前，走滑断层平面位移计算的方法主要为以下几种：计算方法一：通过测量盖层扭动构造的压缩或拉伸量，估算出基底走滑断层的平移距离；计算方法二：在走滑拉分盆地中盆地沉降(或抬升)速率与边界断层走滑速率之间的数值关系，间接求取走滑位移；计算方法三：将走滑断层两侧同一地质体(或同时代地层)的位错距离，作为走滑运动指标来计算走滑断层平面位移大小；计算方法四，当沿着断层两侧沉积单元具有显著差异时，说明该断层可能经历了走滑运动，则可将不同沉积单元重叠的宽度作为走滑断层最小的平面走滑位移；计算方法五：在滑脱层与撕裂断层发育区域，利用剖面上逆冲双重构造的几何学形态恢复，来计算撕裂断层平面上走滑距离(挤压的缩短距离)，忽略构造变形横向扩展性，根据构造变形前后剖面面积守恒原理，推算出撕裂断层最终平面走滑位移大小受控于逆冲断片的数量、双重构造面积以及双重构造的高度；计算方法六：撕裂断层和逆冲推覆构造共同发育的区域，推覆体或大型逆掩断层的上盘岩席，在侵蚀作用下蚀穿断面，使下盘岩石局部出露地表，形成“构造窗”，“构造窗”边缘到逆冲断层最大距离即为平面上撕裂断层的最小走滑距离(平面推覆的最小距离)。然而，专利技术人在实现本专利技术的过程中发现，现有技术中的上述方式至少存在下述缺陷：1、基于测量盖层扭动构造的压缩或拉伸量，计算基底走滑断层的平移距离的方法，一般假设断面直立无旋转，未考虑不同旋转角度下的走滑位移计算方法，旋转情况下走滑断裂断面复杂，在地震剖面较难找准同一条断裂分量，计算选点与拉伸收缩量数值读取难度大，并且未考虑旋转同时对计算精度的影响。2、走滑拉分盆地中根据盆地沉降(或抬升)速率与边界断层走滑速率之间的数值关系，间接求取走滑位移的方法，主要适用于计算走滑拉分盆地中主动边界断层，并不不适用于盆地内部规模较小的对储层及油气运聚具有重要控制作用的走滑断裂位移量计算。3、利用“构造窗”边缘到逆冲断层边界距离推算走滑位移的方法一般仅适用平面上露头发育区域，且推算出仅为最小的平面走滑位移。此外，根据剖面上逆冲双重构造的面积守恒原理，推算撕裂断层平面上走滑距离(挤压的缩短距离)的方法，不仅忽略了构造变形横向扩展性，同时也未考虑盖层滑脱量、剥蚀情况及对盘逆冲分量的影响。4、利用特殊地质体(地震异常反射体、被走滑切割断层等)在走滑断裂两盘位移的变化来计算走滑量，但走滑断裂内标志性特殊地质体发现概率低，常规地震剖面上很难寻找到能作为走滑断裂位移量识别标志的特殊地质体，并且即使存在特殊地质体，也仅能对某一盖层内部走滑量进行表征，无法对走滑断裂纵横向整体活动性进行表征，并且选取不同的地质体对比参考往往导致不同的结果，达不到精细刻画的要求。
技术实现思路
鉴于上述问题，本专利技术提供了一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的基于多期构造活动背景下走滑断裂的走滑位移计算方法。根据本专利技术的一个方面提供了一种基于多期构造活动背景下走滑断裂的走滑位移计算方法，包括：确定主构造轴线；垂直于主构造轴线分别测量走滑断裂第i组断层左盘基底卷入逆冲构造上盘的变形量Lupi、走滑断裂第i组断层右盘基底卷入逆冲构造上盘的变形量Lupi′、走滑断裂第i组断层左盘基底卷入逆冲构造下盘的变形量Ldowni、以及走滑断裂第i组断层右盘基底卷入逆冲构造下盘的变形量Ldowni′；垂直于主构造轴线分别测量出走滑断裂第i组断层左盘滑脱断层的变形量Mi、以及走滑断裂第i组断层右盘滑脱断层的变形量Mi′；计算走滑断裂第i组断层左盘基底构造上盘构造线与主滑移带的夹角Φsi，走滑断裂第i组断层右盘基底构造上盘构造线与主滑移带的夹角Φsi′，走滑断裂第i组断层左盘基底构造下盘构造线与主滑移带的夹角Φxi，走滑断裂第i组断层右盘滑脱层主滑移带下盘构造线与主滑移带的夹角Φsi′，上覆走滑断裂第i组断层左盘上覆滑脱层构造线与主滑移带的夹角ΦMi，以及上覆走滑断裂第i组断层右盘上覆滑脱层构造线与主滑移带的夹角ΦMi，分别计算Lupi、Lupi′、Ldowni、Ldowni′、Mi、以及Mi′在所述主滑移带的分量以及根据所述以及计算走滑断裂的走滑位移量。根据本专利技术提供的基于多期构造活动背景下走滑断裂的走滑位移计算方法，首先确定主构造轴线；并测量走滑断裂第i组断层左右两盘基底卷入逆冲构造上、下盘的变形量Lupi、Lupi′、Ldowni及Ldowni′；以及测量走滑断裂第i组断层左右两盘滑脱断层的变形量Mi及Mi′；计算走滑断裂第i组断层左右两盘基底构造上、下盘构造线与主滑移带的夹角Φsi、Φsi、Φxi及Φsi′，上覆走滑断裂第i组断层左右两盘上覆滑脱层构造线与主滑移带的夹角ΦMi以及ΦMi′，分别计算Lupi、Lupi′、Ldowni、Ldowni′、Mi、以及Mi′在主滑移带的分量；根据上述分量计算走滑断裂的走滑位移量。采用本方案，可实现多期构造活动背景下走滑断层走滑位移量的计算，为后续开发井钻探及储量规模评价提供参考，并可进一步为走滑断层相关的缝洞型储层新区块的经济效益评价提供评价基础，从而提高钻井成功率，提升勘探开发经济效益。上述说明仅是本申请实施例技术方案的概述，为了能够更清楚了解本申请实施例的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本申请实施例的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本申请的具体实施方式。附图说明通过阅读下文优选实施方式的详细描述，各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。附图仅用于示出优选实施方式的目的，而并不认为是对本专利技术的限制。而且在整个附图中，用相同的参考符号表示相同的部件。在附图中：图1示出了根据本专利技术一个实施例提供的基于多期构造活动背景下走滑断裂的走滑位移计算方法的流程示意图；图2示出了多期构造活动背景下走滑断裂构造的示意图；图3示出了根据本专利技术另一个实施例提供的基于多期构造活动背景下走滑断裂的走滑位移计算方法的流程示意图；图4示出了一种采样点选取方式。具体实施方式下面将参照附图更详细地描述本公开的示例性实施例。虽然附图中显示了本公开的示例性实施例，然而应当理解，可以以各种形式实现本公开而不应被这里阐述的实施例所限制。相反，提供这些实施例是为了能够更透彻地理解本公开，并且能够将本公开的范围完整的传达给本领域的技术人员。图1示出了根据本专利技术一个实施例提供的基于多期构造活动背景下走滑断裂的走滑位移量计算方法。如图1所示，该方法包括：步骤S110，确定主构造轴线。其中，多期构造活动背景下走滑断裂构造可如图2所示。图2所示的多期构造活动背景下走滑断裂构造中包括基底构造21、第一滑脱层22、第二滑脱层23、逆冲构造24以及走本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基于多期构造活动背景下走滑断裂的走滑位移量计算方法，其包括：确定主构造轴线；垂直于主构造轴线分别测量走滑断裂第i组断层左盘基底卷入逆冲构造上盘的变形量Lupi、走滑断裂第i组断层右盘基底卷入逆冲构造上盘的变形量Lupi′、走滑断裂第i组断层左盘基底卷入逆冲构造下盘的变形量Ldowni、以及走滑断裂第i组断层右盘基底卷入逆冲构造下盘的变形量Ldowni′；垂直于主构造轴线分别测量出走滑断裂第i组断层左盘滑脱断层的变形量Mi、以及走滑断裂第i组断层右盘滑脱断层的变形量Mi′；计算走滑断裂第i组断层左盘基底构造上盘构造线与主滑移带的夹角Φsi，走滑断裂第i组断层右盘基底构造上盘构造线与主滑移带的夹角Φsi′，走滑断裂第i组断层左盘基底构造下盘构造线与主滑移带的夹角Φxi，走滑断裂第i组断层右盘滑脱层主滑移带下盘构造线与主滑移带的夹角Φsi′，上覆走滑断裂第i组断层左盘上覆滑脱层构造线与主滑移带的夹角ΦMi，以及上覆走滑断裂第i组断层右盘上覆滑脱层构造线与主滑移带的夹角ΦMi；分别计算Lupi、Lupi′、Ldowni、Ldowni′、Mi、以及Mi′在所述主滑移带的分量LupΦsi、LupΦsi′、LdownΦxi、LdownΦxi′、MΦMi及MΦMi′；根据LupΦsi、LupΦsi′、LdownΦxi、LdownΦxi′、MΦMi及MΦMi′计算走滑断裂的走滑位移量。...

【技术特征摘要】
1.一种基于多期构造活动背景下走滑断裂的走滑位移量计算方法，其包括：确定主构造轴线；垂直于主构造轴线分别测量走滑断裂第i组断层左盘基底卷入逆冲构造上盘的变形量Lupi、走滑断裂第i组断层右盘基底卷入逆冲构造上盘的变形量Lupi′、走滑断裂第i组断层左盘基底卷入逆冲构造下盘的变形量Ldowni、以及走滑断裂第i组断层右盘基底卷入逆冲构造下盘的变形量Ldowni′；垂直于主构造轴线分别测量出走滑断裂第i组断层左盘滑脱断层的变形量Mi、以及走滑断裂第i组断层右盘滑脱断层的变形量Mi′；计算走滑断裂第i组断层左盘基底构造上盘构造线与主滑移带的夹角Φsi，走滑断裂第i组断层右盘基底构造上盘构造线与主滑移带的夹角Φsi′，走滑断裂第i组断层左盘基底构造下盘构造线与主滑移带的夹角Φxi，走滑断裂第i组断层右盘滑脱层主滑移带下盘构造线与主滑移带的夹角Φsi′，上覆走滑断裂第i组断层左盘上覆滑脱层构造线与主滑移带的夹角ΦMi，以及上覆走滑断裂第i组断层右盘上覆滑脱层构造线与主滑移带的夹角ΦMi；分别计算Lupi、Lupi′、Ldowni、Ldowni′、Mi、以及Mi′在所述主滑移带的分量LupΦsi、LupΦsi′、LdownΦxi、LdownΦxi′、MΦMi及MΦMi′；根据LupΦsi、LupΦsi′、LdownΦxi、LdownΦxi′、MΦMi及MΦMi′计算走滑断裂的走滑位移量。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据LupΦsi、LupΦsi′、LdownΦxi、LdownΦxi′、MΦMi及MΦMi′计算走滑断裂的走滑位移量具体包括：根据以下公式计算走滑断裂的走滑位移量：其中，w为走滑断裂的走滑位移量，i为走滑断裂第i组断层，i为大于或等于1的整数，n为大于或等于1的整数，且n为走滑断裂断层组数。3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述确定主构造轴线进一步包括：对走滑断裂上盘主要标志层以及走滑断裂下盘主要标志层进行追踪；根据追踪的所述走滑断裂上盘主要标志层以及走滑断裂下盘主要标志层的层位以及走滑断裂的断层构造特征确定主构造轴线。4.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述垂直于主构造轴线分别测量走滑断裂第i组断层左盘基底卷入逆冲构造的变形量Lupi、走滑断裂第i组断层右盘基底卷入逆冲构造的变形量Lupi′、走滑断裂第i组断层左盘基底卷入逆冲构造下盘的变形量Ldowni、以及走滑断裂第i组断层右盘基底卷入逆冲构造下盘的变形量Ldowni′进一步包括：根据公式：计算走滑断裂第i组断层左盘基底卷入逆冲构造上盘的变形量Lupi，其中，(xk，yk，zk)为沿着走滑断裂第i组断层左盘基底构造上盘构造线的第k个取样点的三维坐标值，(xk+1，yk+1，zk+1)为沿着滑断裂第i组断层左...

【专利技术属性】
技术研发人员：李宗杰，魏华动，杨威，侯海龙，韩晓莹，沈向存，林新，李玉兰，房晓璐，胡小菊，
申请(专利权)人：中国石油化工股份有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11