颗粒检测设备辅助装置和颗粒检测系统制造方法及图纸

本公开涉及一种颗粒检测设备辅助装置和颗粒检测系统，所述颗粒检测设备辅助装置包括形成有凹槽的外壳(1)和安装在所述外壳(1)中的吸光体(2)，所述凹槽的开口朝向玻璃基板平面，所述外壳(1)包括多个相互可拆卸地连接的安装组件。通过上述技术方案，本公开提供的颗粒检测设备辅助装置为可拆卸的组装结构，结合检测设备需求可自行设计各组件尺寸及大小并进行加工，最后再将其组装在一起，这样，通过设计兼容，当玻璃基板换型时，无需更换辅助装置，有效避免辅助装置的更换变形，提高其使用寿命。

【技术实现步骤摘要】
颗粒检测设备辅助装置和颗粒检测系统
本公开涉及玻璃基板生产检测
，具体地，涉及一种颗粒检测设备辅助装置和颗粒检测系统。
技术介绍
玻璃基板深加工时，需要进行颗粒检测，颗粒检测大多为光源透射原理，其检测设备通常由光源和光源处理装置构成，具体工作原理为：光源透射玻璃基板时，如玻璃基板上有颗粒异物，光源会产生反射进入颗粒检测摄像头；如玻璃基板上无颗粒异物，光源会直接透射过玻璃基板照射到光源处理装置中，使光不会反射，与有颗粒异物反射进入摄像头进行区别，以便检测设备能够正确区分玻璃基板表面颗粒异物的大小及位置。光源处理装置也称为颗粒检测辅助装置，俗称光陷阱。在成品玻璃基板的正常加工生产中，产线需要加工不同尺寸及厚度的玻璃基板，由于玻璃基板厚度及尺寸不同，需要光陷阱的长度也有所不同，原有的光陷阱设计已不能满足正常生产需求，另外，光陷阱要求尺寸精度较高，若是在产线对其进行频繁更换，容易发生变形，从而影响玻璃基板颗粒的正常检测，因此换型较多及拆卸较多时均会导致光陷阱变形而失效。
技术实现思路
本公开的目的是提供一种颗粒检测设备辅助装置和使用该颗粒检测设备辅助装置的颗粒检测系统，该颗粒检测设备辅助装置结构简单，可以根据实际需求设计并组装，能够满足不同尺寸及厚度的玻璃基板颗粒检测。为了实现上述目的，本公开提供一种颗粒检测设备辅助装置，包括形成有凹槽的外壳和安装在所述外壳中的吸光体，所述凹槽的开口朝向玻璃基板平面，所述外壳包括多个相互可拆卸地连接的安装组件。可选地，所述外壳为箱形结构，所述安装组件包括形成后壁的第一壳体、形成前壁的第二壳体以及连接在所述第一壳体和所述第二壳体的两侧以形成侧壁的连接块，所述第一壳体和所述第二壳体中的至少一者的底部弯折以形成底壁。可选地，所述吸光体为平板状，两个所述连接块的内侧分别形成有能够容纳所述吸光体的滑槽。可选地，所述滑槽从所述连接块的前方顶部倾斜地朝向后方底部延伸。可选地，所述连接块的后端面形成有用于与所述第一壳体固定连接的第一紧固孔，所述连接块的前端面形成有用于与所述第二壳体固定连接的第二紧固孔。可选地，所述连接块的外侧面上开设有第三紧固孔。可选地，所述第一壳体包括第一平板和与所述第一平板互成角度的第二平板，所述第二壳体包括第三平板和与所述第三平板互成角度的第四平板，所述第一平板形成为所述后壁，所述第三平板形成为所述前壁，所述第二平板与所述第四平板相互搭接并形成为所述底壁。可选地，所述第二平板和所述第四平板分别设置有用于使二者紧固的第四紧固孔。可选地，所述吸光体为哑光材料。本公开还提供一种颗粒检测系统，包括能够朝向玻璃基板发射光线的摄像头，和位于所述玻璃基板对侧的能够吸光的颗粒检测设备辅助装置，所述颗粒检测设备辅助装置为上述的颗粒检测设备辅助装置。通过上述技术方案，本公开提供的颗粒检测设备辅助装置为可拆卸的组装结构，结合检测设备需求可自行设计各组件尺寸及大小并进行加工，最后再将其组装在一起。这样，通过设计兼容，当玻璃基板换型时，无需更换辅助装置，有效避免辅助装置的更换变形，提高其使用寿命。本公开的其他特征和优点将在随后的具体实施方式部分予以详细说明。附图说明附图是用来提供对本公开的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与下面的具体实施方式一起用于解释本公开，但并不构成对本公开的限制。在附图中：图1是本公开一种示例性实施方式提供的颗粒检测设备辅助装置的结构示意图；图2是本公开一种示例性实施方式提供的颗粒检测设备辅助装置的连接块的结构示意图；图3是本公开一种示例性实施方式提供的颗粒检测设备辅助装置的第一壳体的结构示意图；图4是本公开一种示例性实施方式提供的颗粒检测设备辅助装置的第二壳体的结构示意图；图5是本公开一种示例性实施方式提供的颗粒检测系统的结构示意图。附图标记说明1外壳2吸光体11连接块12第一壳体13第二壳体14第四紧固孔111滑槽112第一紧固孔113第二紧固孔114第三紧固孔121第一平板122第二平板131第三平板132第四平板10颗粒检测设备辅助装置20玻璃基板30摄像头具体实施方式以下结合附图对本公开的具体实施方式进行详细说明。应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本公开，并不用于限制本公开。在本公开中，在未作相反说明的情况下，使用的方位词如“上、下”通常是基于附图所示的方位或位置关系进行定义的，具体地可参考图1至图5所示的图面方向，“前、后”是为了描述方便而对相应部件的定义，而“内、外”是指相应部件轮廓的内和外。此外，本公开中使用的术语“第一”、“第二”等是为了区别一个要素和另一个要素，不具有顺序性和重要性。如图1所示，本公开提供一种颗粒检测设备辅助装置，包括形成有凹槽的外壳1和安装在外壳1中的吸光体2，凹槽的开口朝向玻璃基板平面，外壳1包括多个相互可拆卸地连接的安装组件。颗粒检测设备辅助装置通常具有面向玻璃基板的开口，而装置内部放置有吸光体，以吸收透过玻璃基板从开口照射进来的光线，本公开提供的颗粒检测设备辅助装置为可拆卸连接的组装结构，即，外壳1由多个相互可拆卸连接的安装组件构成，当待检测玻璃基板的厚度及尺寸不同时，可结合检测设备需求设计各个安装组件的大小及尺寸并进行加工，最后再将其组装到一起，相对之前从商家进行采购对应不同玻璃基板尺寸的辅助装置而言，玻璃基板制造厂家能够自行设计并生产相应的颗粒检测设备辅助装置，既节约成本，又方便快捷。此外，通过设计该辅助装置的兼容性，使其同样适用于其他尺寸的玻璃基板，从而有效避免辅助装置的更换变形，提高其使用寿命。具体地，如图1所示，上述外壳1可以为箱形结构，安装组件包括形成后壁的第一壳体12、形成前壁的第二壳体13以及连接在第一壳体12和第二壳体13的两侧以形成侧壁的连接块11，为了适应总体为箱形结构的外壳1，相应形成侧壁的连接块11、形成后壁的第一壳体12以及形成前壁的第二壳体13也具有规整的长方形外轮廓，在本实施方式中，连接块11的数量为两个，以分别形成壳体1的左右侧壁，为制造方便，壳体1的底壁由第一壳体12和第二壳体13中的至少一者的底部弯折形成。根据本公开提供的具体实施方式，如图1和图2所示，上述吸光体2为平板状，两个连接块11的内侧分别形成有能够容纳吸光体2的滑槽111。为了与壳体1的结构相匹配，占据其凹槽中的大部分空间，吸光体2的宽度和厚度依据滑槽111的尺寸进行设计，长度依据该辅助装置的总长度设计，并且通过两个连接块11内侧的滑槽111固定安装在壳体1中。进一步地，如图2所示，滑槽111从连接块11的前方顶部倾斜地朝向后方底部延伸。滑槽111的这种布置方式能够使得吸光体2占据壳体1中的最大空间，并且用于吸收玻璃基板透射过来的光线的面积达到最大，此外，吸光体2倾斜放置可以使照射进来的光线始终与其有一个既不为零也不为90度的入射角，避免光线平行入射时达不到吸收效果，或者光线垂直入射后按原路线反射，从而使吸光体2更好地吸收光线，因此可以提高该颗粒检测设备辅助装置的检测精度，同时能有效增加其检测的范围。另一方面，由于滑槽111从顶部朝向底部延伸，即在连接块11的顶部形成有开口，这样，可以在连接块11、第一壳体12以及第二壳体13组装完成后再将吸光体2从上至下放置在滑槽111中。更进一步地，本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种颗粒检测设备辅助装置，其特征在于，包括形成有凹槽的外壳(1)和安装在所述外壳(1)中的吸光体(2)，所述凹槽的开口朝向玻璃基板平面，所述外壳(1)包括多个相互可拆卸地连接的安装组件。

【技术特征摘要】
1.一种颗粒检测设备辅助装置，其特征在于，包括形成有凹槽的外壳(1)和安装在所述外壳(1)中的吸光体(2)，所述凹槽的开口朝向玻璃基板平面，所述外壳(1)包括多个相互可拆卸地连接的安装组件。2.根据权利要求1所述的颗粒检测设备辅助装置，其特征在于，所述外壳(1)为箱形结构，所述安装组件包括形成后壁的第一壳体(12)、形成前壁的第二壳体(13)以及连接在所述第一壳体(12)和所述第二壳体(13)的两侧以形成侧壁的连接块(11)，所述第一壳体(12)和所述第二壳体(13)中的至少一者的底部弯折以形成底壁。3.根据权利要求2所述的颗粒检测设备辅助装置，其特征在于，所述吸光体(2)为平板状，两个所述连接块(11)的内侧分别形成有能够容纳所述吸光体(2)的滑槽(111)。4.根据权利要求3所述的颗粒检测设备辅助装置，其特征在于，所述滑槽(111)从所述连接块(11)的前方顶部倾斜地朝向后方底部延伸。5.根据权利要求3所述的颗粒检测设备辅助装置，其特征在于，所述连接块(11)的后端面形成有用于与所述第一壳体(12)固定连接的第一紧固孔(112)，所述连接块(11)的前端面形成有用于与所述第二壳体(13)固定连接的第二...

【专利技术属性】
技术研发人员：丁小磊，李兆廷，张云晓，孟伟华，魏军立，陈志锋，赵佳春，吴歌，
申请(专利权)人：郑州旭飞光电科技有限公司，东旭光电科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：河南,41