母线电压泄放电路制造技术

技术编号:18052340 阅读:47 留言:0更新日期:2018-05-26 09:29
本实用新型专利技术提供了一种母线电压泄放电路,它解决了现有技术无法在掉电后泄放母线电压等技术问题。本母线电压泄放电路,与MCU模块相连,所述的MCU模块与掉电检测电路相连,所述的掉电检测电路与外部电源相连,所述的外部电源与整流电路相连,所述的整流电路与母线相连,所述的母线上跨接有与泄放电路相连,所述的泄放电路与MCU模块相连。优点在于:通过掉电检测电路对外部电源进行检测,掉电后将掉电信号传给MCU模块,MCU接收到MCU模块后打开泄放电路从而对残留的母线电压进行泄放,实现了在掉电后对电压的泄放,提高了伺服的安全可靠性。

【技术实现步骤摘要】
母线电压泄放电路
本技术属于电路
,尤其是涉及一种母线电压泄放电路。
技术介绍
泄放电路是一种能够将电容上存储的电荷释放并使电容上的电压迅速降低的电路。伺服控制器包括控制电路和功率电路,其中,功率电路一般包括通过母线相连的整流电路和逆变电路。通用的伺服控制器内部都有数个大电容给电机运行储存能量,伺服控制器掉电后电容上储存的电能释放较为缓慢,等待释放到安全电压的时间较长,容易对电路造成伤害,同时操作人员在电压没有降低到安全值之前进行操作容易受到电击伤害。
技术实现思路
本技术的目的是针对上述问题,提供一种设计合理、结构简单,能够在掉电后泄放母线电压的母线电压泄放电路。为达到上述目的,本技术采用了下列技术方案:本母线电压泄放电路,与MCU模块相连,所述的MCU模块与掉电检测电路相连,所述的掉电检测电路与外部电源相连,所述的外部电源与整流电路相连,所述的整流电路与母线相连,所述的母线上跨接有与泄放电路相连,所述的泄放电路与MCU模块相连。通过掉电检测电路对外部电源进行检测,掉电后将掉电信号传给MCU模块,MCU接收到MCU模块后打开泄放电路从而对残留的母线电压进行泄放,实现了在掉电后对电压的泄放,提高了伺服的安全可靠性。在上述的母线电压泄放电路中,所述的掉电检测电路包括相互串联的限流电阻,所述的限流电阻一端与外部电源相连且另一端与整流二极管正极相连,所述的整流二极管负极与发光二极管正极相连,所述的发光二极管负极与外部电源相连,所述的发光二极管与光敏三极管对应设置,所述的光敏三极管的发射极或者集电极与MCU模块相连,且所述的光敏三极管的发射极与地端相连,所述的光敏三极管的集电极与内部电源相连。在上述的母线电压泄放电路中,所述的光敏三极管的发射极与MCU模块相连,所述的光敏三极管的发射极通过第一电阻与地端相连;或者,所述的光敏三极管的集电极与MCU模块相连,所述的光敏三极管的集电极通过第二电阻与内部电源相连。在上述的母线电压泄放电路中,所述的第一电阻与接地电容并联连接。在上述的母线电压泄放电路中,所述的发光二极管两端并联有滤波电路,所述的滤波电路包括并联连接的滤波电阻和滤波电容。在上述的母线电压泄放电路中,所述的泄放电路包括跨接在母线上的泄放电容,所述的泄放电容与相互串联的泄放电阻和泄放三级管并联连接,所述的泄放三级管的集电极与泄放电阻相连,所述的泄放三级管的发射极与母线相连,所述的泄放三级管的基极与MCU模块相连。与现有的技术相比,本母线电压泄放电路的优点在于:通过掉电检测电路对外部电源进行检测,掉电后将掉电信号传给MCU模块,MCU接收到MCU模块后打开泄放电路从而对残留的母线电压进行泄放,实现了在掉电后对电压的泄放,提高了伺服的安全可靠性。附图说明图1提供了本技术实施例一的结构示意图。图2提供了本技术实施例一掉电检测电路的结构示意图。图3提供了本技术实施例二掉电检测电路的结构示意图。图中,MCU模块1、掉电检测电路2、限流电阻21、整流二极管22、发光二极管23、光敏三极管24、第一电阻25、第二电阻26、接地电容27、滤波电阻28、滤波电容29、外部电源31、地端32、内部电源33、整流电路4、母线5、泄放电路6、泄放电容61、泄放电阻62、泄放三级管63。具体实施方式为了使本技术所解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白,下面结合附图和具体实施例对本技术做进一步的说明,但本技术不限于所描述的实施例,相反,本技术包括落入所附权利要求的范围内的全部修改、变型以及等同物。实施例一如图1所示,本母线5电压泄放电路6,与MCU模块1相连,MCU模块1与掉电检测电路2相连,掉电检测电路2与外部电源31相连,外部电源31与整流电路4相连,整流电路4与母线5相连,母线5上跨接有与泄放电路6相连,泄放电路6与MCU模块1相连;泄放电路6包括跨接在母线5上的泄放电容61,泄放电容61与相互串联的泄放电阻62和泄放三级管63并联连接,泄放三级管63的集电极与泄放电阻62相连,泄放三级管63的发射极与母线5相连,泄放三级管63的基极与MCU模块1相连。通过掉电检测电路2对外部电源31进行检测,掉电后将掉电信号传给MCU模块1,MCU接收到MCU模块1后打开泄放电路6从而对残留的母线5电压进行泄放,实现了在掉电后对电压的泄放,提高了伺服的安全可靠性。如图2所示,掉电检测电路2包括相互串联的限流电阻21,限流电阻21一端与外部电源31相连且另一端与整流二极管22正极相连,整流二极管22负极与发光二极管23正极相连,发光二极管23负极与外部电源31相连,发光二极管23与光敏三极管24对应设置,光敏三极管24的发射极或者集电极与MCU模块1相连,且光敏三极管24的发射极与地端32相连,光敏三极管24的集电极与内部电源33相连;优选地,光敏三极管24的发射极与MCU模块1相连,光敏三极管24的发射极通过第一电阻25与地端32相连,第一电阻25与接地电容27并联连接,发光二极管23两端并联有滤波电路,滤波电路包括并联连接的滤波电阻28和滤波电容29。实施例二本实施例的结构、原理以及实施步骤与实施例一类似,不同的地方在于:如图3所示,光敏三极管24的集电极与MCU模块1相连,光敏三极管24的集电极通过第二电阻26与内部电源33相连。本文中所描述的具体实施例仅仅是对本技术精神作举例说明。本技术所属
的技术人员可以对所描述的具体实施例做各种各样的修改或补充或采用类似的方式替代,但并不会偏离本技术的精神或者超越所附权利要求书所定义的范围。尽管本文较多地使用了MCU模块1、掉电检测电路2、限流电阻21、整流二极管22、发光二极管23、光敏三极管24、第一电阻25、第二电阻26、接地电容27、滤波电阻28、滤波电容29、外部电源31、地端32、内部电源33、整流电路4、母线5、泄放电路6、泄放电容61、泄放电阻62、泄放三级管63等术语,但并不排除使用其它术语的可能性。使用这些术语仅仅是为了更方便地描述和解释本技术的本质;把它们解释成任何一种附加的限制都是与本技术精神相违背的。本文档来自技高网
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母线电压泄放电路

【技术保护点】
一种母线电压泄放电路,与MCU模块(1)相连,其特征在于,所述的MCU模块(1)与掉电检测电路(2)相连,所述的掉电检测电路(2)与外部电源(31)相连,所述的外部电源(31)与整流电路(4)相连,所述的整流电路(4)与母线(5)相连,所述的母线(5)上跨接有与泄放电路(6)相连,所述的泄放电路(6)与MCU模块(1)相连。

【技术特征摘要】
1.一种母线电压泄放电路,与MCU模块(1)相连,其特征在于,所述的MCU模块(1)与掉电检测电路(2)相连,所述的掉电检测电路(2)与外部电源(31)相连,所述的外部电源(31)与整流电路(4)相连,所述的整流电路(4)与母线(5)相连,所述的母线(5)上跨接有与泄放电路(6)相连,所述的泄放电路(6)与MCU模块(1)相连。2.根据权利要求1所述的母线电压泄放电路,其特征在于,所述的掉电检测电路(2)包括相互串联的限流电阻(21),所述的限流电阻(21)一端与外部电源(31)相连且另一端与整流二极管(22)正极相连,所述的整流二极管(22)负极与发光二极管(23)正极相连,所述的发光二极管(23)负极与外部电源(31)相连,所述的发光二极管(23)与光敏三极管(24)对应设置,所述的光敏三极管(24)的发射极或者集电极与MCU模块(1)相连,且所述的光敏三极管(24)的发射极与地端(32)相连,所述的光敏三极管(24)的集电极与内部电源(33)相连。3.根据权利要求2所述的母线电压泄放电路,其...

【专利技术属性】
技术研发人员:王刚志陈凯强
申请(专利权)人:杭州之山智控技术有限公司
类型:新型
国别省市:浙江,33

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