一种双路低本底α、β测量仪制造技术

本发明专利技术涉及辐射测量技术领域，具体公开了一种双路低本底α、β测量仪，包括铅室，设于铅室内的主探测器一、主探测器二和反符合探测器，设于铅室下方的样品盘推拉装置，以及设于铅室外的电源电路和信号处理电路。本发明专利技术双路低本底α、β测量仪从结构、硬件和软件上实现了各路探测器互相独立，达到了既能同时测量又能分路测量的目的。

【技术实现步骤摘要】
一种双路低本底α、β测量仪
本专利技术属于辐射测量
，具体涉及一种双路低本底α、β测量仪。
技术介绍
现阶段，我国正在大力发展核能，随着核电站、核反应堆的建立，以及放射性同位素的广泛应用，核辐射对生存环境及个人健康的影响的关注程度也在逐步地提高。微弱放射性同位素的测量，越来越多的被应用于饮用水、辐射防护、环境监测、商品检验、食品卫生等各个领域。目前，微弱放射性测量已成为核辐射测量的一个重要的独立学科。低本底α、β测量仪是微弱放射性测量的重要仪器。低本底α、β测量仪根据其测量样品的样品盘数不同，分为单路、双路、四路、六路和八路等低本底α、β测量仪。当前多路低本底α、β测量仪的样品盘都共用一个抽屉，即对于任意一种多路低本底α、β测量仪，在测量多个样品时，必须同时测量，且只要有一路样品正在测量，则不允许对其他样品盘进行操作。因此待测样品较多且为同类样品时一般选择多路低本底α、β测量仪；但是如果待测样品种类不同则不能使用多路低本底α、β测量仪同时进行测量。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种双路低本底α、β测量仪，既能单路测量又能多路同时测量。本专利技术的技术方案如下：一种双路低本底α、β测量仪，包括主探测器一、主探测器二、反符合探测器、铅室和样品盘推拉装置；所述的铅室为扁圆柱体，主探测器一、主探测器二和反符合探测器均设于铅室内部，其中主探测器一和主探测器二分别设于反符合探测器的两侧；所述的样品盘推拉装置设于铅室的下方，在样品盘推拉装置的侧面并列设有两个独立的抽屉，抽屉的位置分别与主探测器一和主探测器二对应；在抽屉内设有样品盘，用于盛装样品；在铅室外设置箱体，箱体内设有电源电路以及主探测器一、主探测器二和反符合探测器的信号处理电路。所述主探测器一、主探测器二、反符合探测器和铅室的轴线互相平行。所述的主探测器一和主探测器二对应的信号处理电路为模块化设计。所述的主探测器一和主探测器二分别对应独立的信号处理电路，两者工作互不影响。所述的模块化的信号处理电路通过RS485串口与上位机软件通信，所述的上位机软件为低本底αβ测量仪软件。若在主探测器一或主探测器二探测到信号的同时，反符合探测器没有探测到信号，则主探测器一或主探测器二探测到的为实际的α或β信号；若在主探测器一或主探测器二探测到信号的同时，反符合探测器探测到信号，则主探测器一或主探测器二探测到的为实际的本底信号。本专利技术的显著效果在于：(1)本专利技术双路低本底α、β测量仪从结构、硬件和软件上实现了各路探测器互相独立，达到了既能同时测量又能分路测量的目的。(2)市场上的双路低本底α、β测量仪总重约500Kg，而本专利技术双路低本底α、β测量仪的总重约400Kg，达到了控制铅室总重量的目的。附图说明图1为双路低本底α、β测量仪示意图。图中：1.主探测器一；2.主探测器二；3.反符合探测器；4.铅室；5.样品盘推拉装置。具体实施方式下面结合附图及具体实施例对本专利技术作进一步详细说明。如图1所示的一种双路低本底α、β测量仪，包括主探测器一1、主探测器二2、反符合探测器3、铅室4和样品盘推拉装置5。所述的铅室4为扁圆柱体，主探测器一1、主探测器二2和反符合探测器3均设于铅室4内部，其中主探测器一1和主探测器二2分别设于反符合探测器3的两侧。主探测器一1、主探测器二2、反符合探测器3和铅室4的轴线互相平行。主探测器一1和主探测器二2用于探测α、β和宇宙射线产生的本底信号，反符合探测器3用于探测宇宙射线产生的本底信号。所述的样品盘推拉装置5设于铅室4的下方，在样品盘推拉装置5的侧面并列设有两个独立的抽屉，抽屉的位置分别与主探测器一1和主探测器二2对应。在抽屉内设有样品盘，用于盛装样品。在测量前抽出抽屉，将样品放置在样品盘上，再推放好抽屉后开始进行测量。样品发出的α、β射线信号和宇宙射线产生的本底信号被主探测器探测到，同时宇宙射线产生的本底信号被反符合探测器探测到。每个主探测器电路分为α和β两个通路，若在主探测器探测到信号的同时，反符合探测器没有探测到信号，则主探测器探测到的为实际的α或β信号；相反，若在主探测器探测到信号的同时，反符合探测器探测到信号，则主探测器探测到的为实际的本底信号。所述的主探测器一1、主探测器二2工作完全独立，互不影响。在铅室4外设置箱体，箱体内设有电源电路、主探测器一1、主探测器二2和反符合探测器3的信号处理电路。主探测器一1和主探测器二2对应的信号处理电路为模块化设计，主探测器一1和主探测器二2分别对应独立的信号处理电路，在接收其相应的探测器信号的同时为探测器提供高压和低压。所述模块化的信号处理电路通过RS485串口与上位机软件通信，所述的上位机软件为低本底αβ测量仪软件。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种双路低本底α、β测量仪，其特征在于：包括主探测器一(1)、主探测器二(2)、反符合探测器(3)、铅室(4)和样品盘推拉装置(5)；所述的铅室(4)为扁圆柱体，主探测器一(1)、主探测器二(2)和反符合探测器(3)均设于铅室(4)内部，其中主探测器一(1)和主探测器二(2)分别设于反符合探测器(3)的两侧；所述的样品盘推拉装置(5)设于铅室(4)的下方，在样品盘推拉装置(5)的侧面并列设有两个独立的抽屉，抽屉的位置分别与主探测器一(1)和主探测器二(2)对应；在抽屉内设有样品盘，用于盛装样品；在铅室(4)外设置箱体，箱体内设有电源电路以及主探测器一(1)、主探测器二(2)和反符合探测器(3)的信号处理电路。

【技术特征摘要】
1.一种双路低本底α、β测量仪，其特征在于：包括主探测器一(1)、主探测器二(2)、反符合探测器(3)、铅室(4)和样品盘推拉装置(5)；所述的铅室(4)为扁圆柱体，主探测器一(1)、主探测器二(2)和反符合探测器(3)均设于铅室(4)内部，其中主探测器一(1)和主探测器二(2)分别设于反符合探测器(3)的两侧；所述的样品盘推拉装置(5)设于铅室(4)的下方，在样品盘推拉装置(5)的侧面并列设有两个独立的抽屉，抽屉的位置分别与主探测器一(1)和主探测器二(2)对应；在抽屉内设有样品盘，用于盛装样品；在铅室(4)外设置箱体，箱体内设有电源电路以及主探测器一(1)、主探测器二(2)和反符合探测器(3)的信号处理电路。2.如权利要求1所述的一种双路低本底α、β测量仪，其特征在于：所述主探测器一(1)、主探测器二(2)、反符合探测器(3)和铅室(4)的轴线互相平行。3.如权利要求2所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐静，兴雁，刘福至，何鹏武，边华东，龙成志，周洲，张那，
申请(专利权)人：中核控制系统工程有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11