一种晶体振荡器频率监测系统及方法技术方案

本申请公开了一种晶体振荡器频率监测系统及方法。本发明专利技术包括主控单元，所述主控单元连接有频率计数单元、变温单元、供电单元，所述频率计数单元连接有测试单元，所述主控单元用于向各连接设备输出控制参数，所述变温单元用于在主控单元输出的测试温度循环参数控制下给待监测振荡器提供变温条件；所述供电单元用于给测试单元提供测试电压；所述测试单元用于对待监测振荡器变温条件下频率进行监测；所述频率计数单元用于检测所述测试单元中待监测振荡器的实时频率参数并反馈至主控单元，主控单元计算频率突跳量，当突跳量达到限定值时，触发频率计数单元对频率进行计数，实现了在变温条件下对晶体振荡器的连续频率监测。

A frequency monitoring system and method for crystal oscillator

The invention discloses a crystal oscillator frequency monitoring system and method. The main control unit is connected with a frequency counting unit, a temperature variable unit and a power supply unit. The frequency counting unit is connected with a test unit, the main control unit is used to output control parameters to each connection device, and the temperature variable unit is used to control the test temperature cycle parameter in the main control single output. The power supply unit is used to provide test voltage to the test unit; the test unit is used to monitor the frequency of the monitoring oscillator under the variable temperature condition; the frequency counting unit is used to detect the real time frequency parameters of the oscillators in the test unit and feed back to the master. The control unit, the main control unit calculates the frequency sudden jump, when the jump quantity reaches the limit value, the trigger frequency counting unit counts the frequency to realize the continuous frequency monitoring of the crystal oscillator under the condition of variable temperature.

【技术实现步骤摘要】
一种晶体振荡器频率监测系统及方法
本专利技术涉及晶体振荡器频率监测
，具体涉及一种用于在变温条件下对晶体振荡器进行连续频率监测的监测系统和监测方法。
技术介绍
由于晶体振荡器的内部应力与外界温度有很大关系，在特定的温度条件下，晶体振荡器的内部应力可能发生突变，从而引起频率的突跳。对于频率稳定度要求较高的环路，这样的突跳很可能会导致环路的失锁，进而导致系统故障。因此，对于频率稳定度要求较高的器件，有必要在其工作温度范围内连续测量其频率的变化，这就要求对器件的频率进行连续且快速的测量。目前的频率测量设备只能在特定温度点上对晶体振荡器的频率进行不连续的测量，很难满足型号设备在变温条件下对晶体振荡器的频率连续测量的需求。因此，需要提供一种晶体振荡器变温频率跳变监测系统及方法。
技术实现思路
本专利技术目的是提供一种用于在变温条件下对晶体振荡器进行连续频率监测的监测系统和监测方法。为实现上述专利技术目的，本专利技术所采用的技术方案是：一种晶体振荡器频率监测系统，包括主控单元，所述主控单元连接有频率计数单元、变温单元、供电单元，所述频率计数单元连接有测试单元，所述主控单元，用于向各连接设备输出控制参数，所述主控单元输出的控制参数包括初始化控制参数、复位控制参数、测试温度循环参数，各连接设备在所述主控单元的初始化控制参数和复位控制参数控制下实现初始化和复位；所述变温单元，用于在主控单元输出的测试温度循环参数控制下给待监测振荡器提供变温条件；所述供电单元，用于给测试单元提供测试电压；所述测试单元，用于对待监测振荡器变温条件下频率进行监测；所述频率计数单元，用于检测所述测试单元中待监测振荡器的实时频率参数并反馈至主控单元，主控单元计算频率突跳量，当突跳量达到限定值时，触发频率计数单元对频率进行计数。优选地，所述主控单元内包含有控制模块、存储模块、人机交互模块、数据采集模块和数据处理模块，所述数据采集模块分别和所述控制模块、存储模块、数据处理模块连接，所述人机交互模块和所述数据处理模块连接，所述存储模块用于实现数据的存储；所述控制模块用于控制各连接设备的工作参数；所述数据采集模块用于采集检测到的测试数据；所述数据处理模块用于将采集到的测试数据处理后以图表的形式输出到人机交互模块；所述人机交互模块用于实现图表形式测试数据的人机交互。优选地，所述主控单元还包括驱动模块。优选地，所述变温单元采用温度试验箱。优选地，所述频率计数单元采用频率计数器。优选地，所述测试单元包括多路测试通道，用于实现多个待监测振荡器的检测。优选地，所述测试单元和所述主控单元之间连接有选择单元，用于对多路测试通道的选择进行设置。优选地，所述选择单元包括单片机和逻辑电路芯片。一种监测方法，用于上述晶体振荡器频率监测系统，包括以下步骤：系统进行自检，主控单元向各连接设备发出初始化命令，开始初始化；系统确认初始化正确后，主控单元给变温单元输出测试温度循环参数，变温单元提供变温条件，同时，启动待监测振荡器；测试单元开始测试，主控单元检测测试实时状态参数，并计算频率突跳量，当突跳量达到限定值时，触发频率计数单元对频率进行计数，频率突跳量和测试实时状态参数存储至主控单元；循环测试结束后，测试结果反馈至主控单元，仪器复位。本申请实施例采用的上述至少一个技术方案能够达到以下有益效果：本专利技术可以在变温条件下对晶体振荡器的频率进行连续测量，剔出工作状态中存在的频率异常突跳的晶体振荡器，可以提高整机可靠性；另外，本专利技术能够对产品进行批量的变温多路频率连续测试，可以对出现频率突跳的晶体振荡器进行有效的筛选和检测，提高晶体振荡器产品的性能指标。附图说明此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解，构成本申请的一部分，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：图1为本专利技术的结构示意图；图2为本专利技术主控单元的结构示意图；图3为本专利技术的流程示意图。具体实施方式为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请具体实施例及相应的附图对本申请技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。根据GJB1648《晶体振荡器通用规范》的规定，变温测试频率稳定度是指“振荡器应稳定在最低规定温度下，稳定后，记录第一次频率和温度。然后，按规定逐步提高温度，每提高一次温度应在达到稳定后再记录数据，直至达到最高温度。”因此，测试的频率值为特定温度点上，对晶体振荡器的频率进行不连续的测量。但实际的工程应用中，需要在变温条件下对晶体振荡器的频率进行连续测量，而目前国内外的变温频率测试设备均无法实现此功能。因此，需要设计一种晶体振荡器变温频率跳变监测装置及方法，通过该装置及方法，可以在变温条件下对晶体振荡器的频率进行连续测量，剔出工作状态中存在的频率异常突跳的晶体振荡器，可以提高整机可靠性。以下结合附图，详细说明本申请各实施例提供的技术方案。图1为本专利技术的结构示意图。如图1所示的，一种晶体振荡器频率监测系统，包括主控单元1，主控单元1连接有频率计数单元2、变温单元3、供电单元4、选择单元5，主控单元1向与主控单元1连接的频率计数单元2、变温单元3、供电单元4和选择单元5提供控制参数，控制其工作状态，包括初始化控制参数、复位控制参数、测试温度循环参数、逻辑控制参数等，其中，主控单元1采用计算机，与主控单元1连接的设备均通过计算机IO接口连接，实现数据传输通信；供电单元4主要用于在主控单元1的控制下给测试单元6提供测试电压，同时可用于满足其他设备的电源供应需求；变温单元3和测试单元6连接，用于在主控单元1输出的测试温度循环参数控制下给晶体振荡器提供变温条件；频率计数单元2和测试单元6连接，用于获取测试单元6中晶体振荡器的频率参数，同时将获取到的频率数据反馈至主控单元1，主控单元1计算频率突跳量，当突跳量达到限定值时，触发频率计数单元2对频率进行计数；测试单元6用于实现晶体振荡器的测试回路，实现测试，对待监测晶体振荡器变温条件下频率进行监测；选择单元5和测试单元6连接，用于在主控单元1的控制下对测试单元6中的多个测试通道进行选择和设定，实现多路多品种的测试。图2为本专利技术主控单元的结构示意图。如图2所示，主控单元1内包含有控制模块101、存储模块102、人机交互模块103、数据采集模块104和数据处理模块105，数据采集模块104分别和控制模块101、存储模块102、数据处理模块105连接，人机交互模块103和数据处理模块105连接，存储模块102用于实现数据的存储，包括各个设备的配置参数、测试参数、检测数据等；控制模块101用于控制各连接设备的工作参数，实现统筹控制；数据采集模块104用于采集检测到的测试数据，如实时频率参数、瞬时温度等；数据处理模块105用于将采集到的测试数据处理后以图表的形式输出到人机交互模块103；人机交互模块103用于实现图表形式测试数据的人机交互。优选地，变温单元3采用温度试验箱。优选地，频率计数单元2采用频率计数器。优选地，测试单元6包括多路测试通道，用于实现多个待监测振荡器的检测。优本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种晶体振荡器频率监测系统，其特征在于，包括主控单元，所述主控单元连接有频率计数单元、变温单元、供电单元，所述频率计数单元连接有测试单元，所述主控单元，用于向各连接设备输出控制参数，所述主控单元输出的控制参数包括初始化控制参数、复位控制参数、测试温度循环参数，各连接设备在所述主控单元的初始化控制参数和复位控制参数控制下实现初始化和复位；所述变温单元，用于在主控单元输出的测试温度循环参数控制下给待监测振荡器提供变温条件；所述供电单元，用于给测试单元提供测试电压；所述测试单元，用于对待监测振荡器变温条件下频率进行监测；所述频率计数单元，用于检测所述测试单元中待监测振荡器的实时频率参数并反馈至主控单元，主控单元计算频率突跳量，当突跳量达到限定值时，触发频率计数单元对频率进行计数。

【技术特征摘要】
1.一种晶体振荡器频率监测系统，其特征在于，包括主控单元，所述主控单元连接有频率计数单元、变温单元、供电单元，所述频率计数单元连接有测试单元，所述主控单元，用于向各连接设备输出控制参数，所述主控单元输出的控制参数包括初始化控制参数、复位控制参数、测试温度循环参数，各连接设备在所述主控单元的初始化控制参数和复位控制参数控制下实现初始化和复位；所述变温单元，用于在主控单元输出的测试温度循环参数控制下给待监测振荡器提供变温条件；所述供电单元，用于给测试单元提供测试电压；所述测试单元，用于对待监测振荡器变温条件下频率进行监测；所述频率计数单元，用于检测所述测试单元中待监测振荡器的实时频率参数并反馈至主控单元，主控单元计算频率突跳量，当突跳量达到限定值时，触发频率计数单元对频率进行计数。2.根据权利要求1所述的晶体振荡器频率监测系统，其特征在于，所述主控单元内包含有控制模块、存储模块、人机交互模块、数据采集模块和数据处理模块；所述数据采集模块分别和所述控制模块、存储模块、数据处理模块连接，所述人机交互模块和所述数据处理模块连接，所述存储模块用于实现数据的存储；所述控制模块，用于控制各连接设备的工作参数；所述数据采集模块，用于采集检测到的测试数据；所述数据处理模块，用于将采集到的测试数据处理后以图表的形式输出到人机交互模块；所述人机交互模块...

【专利技术属性】
技术研发人员：睢建平，李国强，潘立虎，郑文强，叶林，崔巍，段友峰，张磊，哈斯图亚，刘小光，王作雨，
申请(专利权)人：北京无线电计量测试研究所，
类型：发明
国别省市：北京,11