A plasma enhanced substrate processing system using pulsed RF (RF) power is provided in this paper. In some embodiments, the method of using a pulsed radio frequency (RF) power operating plasma enhanced substrate processing system includes the following steps: the first pulse RF power waveform is supplied to the processing chamber at the first power level during the first time period, and the second pulse RF power wave is at the first power level between the first time period period. The shape is provided to the processing chamber to obtain the first reflection power established by the first and second pulse RF power waveforms provided during the first time period, and to perform the first load balance processing to adjust the first power level of the first pulse RF power waveform to compensate for the reflected power obtained during the first inter period period. The transmission power of the preset power level is generated.
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于处理基板的射频功率传输调节
本公开的实施例一般涉及用于处理基板的RF功率传输方法。
技术介绍
在常规射频(RF)等离子体处理中,诸如用于许多半导体器件制造阶段期间;可经由多个RF能量源将可以以连续或脉冲波模式产生的RF能量提供至基板处理腔室。由于RF能量源的阻抗与处理腔室内形成的等离子体的阻抗之间的不匹配,故RF能量将反射回RF能量源,导致RF能量的低效利用和浪费能量、对处理腔室或RF能量源的潜在损坏以及相对于基板处理的潜在不一致性/不可重复性问题。在使用双电平脉冲的处理腔室中,可执行负载均衡,以补偿反射功率,以使得由RF能量源提供的正向功率增加,以补偿所测量/估计的反射功率,从而产生所期望传输功率(即传输功率=正向功率-反射功率)。然而,在具有产生至少一个连续波与至少一个脉冲波的两个或更多个RF能量源的半导体处理腔室中,传输功率并不一致。具体而言,由于脉冲的“接通(on)”周期与“断开(off)”周期之间的阻抗变化,连续波功率由其他能量源的脉冲所影响。因此,专利技术人已提供一种用于RF功率传输的改良方法与设备,以在使用至少一个连续波与至少一个脉冲波二者的系统中提供更一致的传输功率。
技术实现思路
本文提供一种使用脉冲射频(RF)功率操作等离子体增强基板处理系统的方法。在一些实施例中,使用脉冲射频(RF)功率操作等离子体增强基板处理系统的方法包括以下步骤:在第一时间周期期间以第一功率水平将第一脉冲RF功率波形提供到处理腔室,在第一时间周期期间以第一功率水平将第二脉冲RF功率波形提供到处理腔室,取得在第一时间周期期间提供的第一与第二脉冲RF功率波形所建立的第 ...
【技术保护点】
一种使用脉冲射频(RF)功率操作等离子体增强基板处理系统的方法,包含以下步骤:在第一时间周期期间以第一功率水平将第一脉冲RF功率波形提供到处理腔室;在所述第一时间周期期间以第一功率水平将第二脉冲RF功率波形提供到所述处理腔室;取得由在所述第一时间周期期间提供的所述第一与第二脉冲RF功率波形建立的第一反射功率;以及执行第一负载均衡处理来调整所述第一脉冲RF功率波形的所述第一功率水平,以补偿在所述第一时间周期期间所取得的反射功率,从而产生预设功率水平的传输功率。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2015.10.05 US 62/237,367;2015.10.19 US 14/886,8911.一种使用脉冲射频(RF)功率操作等离子体增强基板处理系统的方法,包含以下步骤:在第一时间周期期间以第一功率水平将第一脉冲RF功率波形提供到处理腔室;在所述第一时间周期期间以第一功率水平将第二脉冲RF功率波形提供到所述处理腔室;取得由在所述第一时间周期期间提供的所述第一与第二脉冲RF功率波形建立的第一反射功率;以及执行第一负载均衡处理来调整所述第一脉冲RF功率波形的所述第一功率水平,以补偿在所述第一时间周期期间所取得的反射功率,从而产生预设功率水平的传输功率。2.如权利要求1所述的方法,进一步包含以下步骤:在第二时间周期期间以第二功率水平提供所述第一脉冲RF功率波形,其中所述第二功率水平基本上等同于所述第一功率水平;在所述第二时间周期期间以第二功率水平提供第二脉冲RF功率波形;取得由在所述第二时间周期期间提供的所述第一与第二脉冲RF功率波形建立的第二反射功率;以及执行第二负载均衡处理来调整所述第一脉冲RF功率波形的所述第一功率水平,以补偿在所述第一时间周期期间所取得的反射功率,从而产生所述预设功率水平的传输功率。3.如权利要求2所述的方法,其中所述第一脉冲RF功率波形为RF源信号。4.如权利要求2所述的方法,其中所述第二脉冲RF功率波形为RF偏压信号。5.如权利要求2所述的方法,其中所述第二脉冲RF功率的所述第二功率水平为零功率水平。6.如权利要求2所述的方法,其中所执行的所述第一与第二负载均衡处理针对所述第一脉冲RF功率波形分别调整所述第一与第二功率水平,以提供实质上恒定的传输功率。7.如权利要求2-6中任一项所述的方法,其中所取得的所述第一与第二反射功率为测量值。8.如权利要求2-6...
【专利技术属性】
技术研发人员:川崎胜正,J·斐,S·秀吉,
申请(专利权)人:应用材料公司,
类型:发明
国别省市:美国,US
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