一种防激光测量中样品局部过热和挥发恒温池制造技术

技术编号:17915799 阅读:53 留言:0更新日期:2018-05-10 20:17
本实用新型专利技术提供一种防激光测量中样品局部过热和挥发恒温池,其中恒温池的池体上设置有防挥发活动盖(16),防挥发活动盖(16)上开设有激光入射/出射口(1),恒温池的池体壁一侧开设有恒温液出口(3),恒温池的池体壁另一侧开设有恒温液防溢口(14)、恒温液入口(12)。本实用新型专利技术通过步进电机控制旋转样品盘(15)带动样品池旋转,使激光光着点位置的液面随时变化,从而避免了因激光持续照射同一位置导致局部过热使温度升高或/且产生气泡进而影响实验精度。

【技术实现步骤摘要】
一种防激光测量中样品局部过热和挥发恒温池
本技术属于激光测量领域,尤其涉及一种防激光测量中样品局部过热和挥发恒温池。
技术介绍
由于激光测量实验中所用激光能量很高,如果长时间持续照射在样品上,会使样品局部过热,产生气泡,从而影响测量的准确性。另一方面,随着实验进行,易挥发的样品会很快挥发,从而测量液面高度发生变化,而导致激光出射位置偏移,从而影响实验结果准确性,甚至需要重新优化样品盘高度,增加了工作量与操作难度。目前开展相关激光测量防样品被破坏技术还在研发相关装置。有关装置还未见相关报道。
技术实现思路
本技术的目的在于解决上述现有技术存在的缺陷,提供一种防激光测量中样品局部过热和挥发恒温池,能够通过步进电机控制旋转样品盘,使激光光着点位置的液面随时变化,从而避免了局部一直照射激光而过热使测量温度不准确,以及避免产生气泡影响实验准确性的问题。本技术采用如下技术方案:一种防激光测量中样品局部过热和挥发恒温池,包括激光入射/出射口1、防滑刻线2、恒温液出口3、可拆卸螺栓4、恒温浴槽5、步进电机6、支架7、升降台8、步进电机转轴9、升降台机械旋钮10、步进电机控制旋钮11、恒温液入口12、防水轴承13、恒温液防溢口14、样品盘15、防挥发活动盖16;所述的恒温池的池体上设置有防挥发活动盖16,防挥发活动盖16上开设有激光入射/出射口1,恒温池的池体壁一侧开设有恒温液出口3,恒温池的池体壁另一侧开设有恒温液防溢口14、恒温液入口12;恒温池池体内设置有样品盘15,样品盘15中样品池内设置有防滑刻线2,样品盘15通过可拆卸螺栓4安装在步进电机6的步进电机转轴9上;所述的恒温池的池体通过支架7安装升降台8上,支架7上安装有控制步进电机4旋转速率的步进电机控制旋钮11,升降台8上安装有控制升降台8上下移动的升降台机械旋钮10。恒温池池壁上安装有防水轴承13,步进电机转轴9穿过防水轴承13与可拆卸螺栓4相连。所述的恒温池池体内,样品盘15内部为样品池,样品盘外部为恒温浴槽5。所述的样品盘、恒温池采用聚四氟乙烯材料制成。本技术的有益效果:通过步进电机随时控制样品盘旋转速度,保证样品池液面连续且稳定。通过升降台机械旋钮可调节样品池高度,从而使激光焦点恰好在液面处,以及有利于优化照射到样品的激光能量。在样品池中加了防滑刻线,可使粘度低的样品快速的达到预定转速,不和样品池壁发生位移和摩擦导致温度上升。通过恒温液槽可使样品实时稳定在实验设定温度,且装置易于拆洗。设置步进电机,可以防止激光测量样品中,激光长时间照射在某一区域,而使这一区域温度过高、产生气泡,而影响测量数据的可靠性。设置防挥发活动盖,可防止挥发的样品在样品池里挥发,而改变液面高度,从而影响激光光着点,使其测量数据不准确。附图说明图1为本技术的结构示意图;图中:1-激光入射/出射口、2-防滑刻线、3-恒温液出口、4-可拆卸螺栓、5-恒温浴槽、6-步进电机、7-支架、8-升降台、9-步进电机转轴、10-升降台机械旋钮、11-步进电机控制旋钮、12-恒温液入口、13-防水轴承、14-恒温液防溢口、15-样品盘、16-防挥发活动盖。具体实施方式为使本技术的目的、技术方案和优点更加清楚,下面本技术中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本技术保护的范围。如图1所示,本技术的一种防激光测量中样品局部过热和挥发恒温池,包括激光入射/出射口1、防滑刻线2、恒温液出口3、可拆卸螺栓4、恒温浴槽5、步进电机6、支架7、升降台8、步进电机转轴9、升降台机械旋钮10、步进电机控制旋钮11、恒温液入口12、防水轴承13、恒温液防溢口14、样品盘15、防挥发活动盖16。所述的恒温池的池体上设置有防挥发活动盖16,防挥发活动盖16上开设有激光入射/出射口1,恒温池的池体壁一侧开设有恒温液出口3,恒温池的池体壁另一侧开设有恒温液防溢口14、恒温液入口12。设置防挥发活动盖16,可防止挥发的样品在样品盘15里挥发,而改变的液面高度,从而影响激光光着点,使其测量数据不准确。恒温池池体内设置有样品盘15,样品盘15中样品池内设置有防滑刻线2,样品盘15通过可拆卸螺栓4安装在步进电机6的步进电机转轴9上。在样品池中加了防滑刻线2,可使粘度低的样品快速的达到预定转速,不和样品池壁发生位移和摩擦导致的温度上升。通过步进电机6随时控制样品池旋转速度,可以防止激光测量样品中,激光长时间照射在某一区域,而使这一区域温度过高、产生气泡,而影响测量数据的可靠性,保证样品池液面连续且稳定。所述的恒温池的池体通过支架7安装升降台8上,支架7上安装有控制步进电机4旋转速率的步进电机控制旋钮11,升降台8上安装有控制升降台8上下移动的升降台机械旋钮10。通过升降台机械旋钮10可调节样品盘15高度,从而使激光更容易聚焦。恒温池池壁上安装有防水轴承13,步进电机转轴9穿过防水轴承13与可拆卸螺栓4相连。所述的恒温池池体内,样品盘15内部为样品池,样品盘15外部为恒温浴槽5。所述的样品盘、恒温池采用聚四氟乙烯材料制成。设置恒温液槽12可使样品实时稳定在实验设定温度,且易于拆洗。本技术的工作过程:待测样品放入样品盘15内,形成盛装样品的样品池,液面刚好到达防挥发活动盖16底部,进行样品测量,从而有效抑制样品挥发。恒温液从恒温液入口12送入恒温池体内,液位逐渐升高,当恒温液加入的量达到一定高度后,恒温液防溢口14可防止恒温液渗入样品池中,恒温液从恒温液出口3流出。激光从激光入射/出射口1照射进入样品池内,通过步进电机控制旋钮11控制步进电机4的转速,从而使样品盘15带动样品池获得一定的转速,从而避免了激光长时间照射在某一区域,而使这一区域温度过高、产生气泡的情况,同时可通过升降台机械旋钮10调节升降台8的高度,从而使激光更容易聚焦,测量完成后,揭开防挥发活动盖16,取出样品池。最后应说明的是:以上实施例仅用以说明本技术的技术方案,而非对其限制;尽管参照前述实施例对本技术进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本技术各实施例技术方案的精神和范围。本文档来自技高网...
一种防激光测量中样品局部过热和挥发恒温池

【技术保护点】
一种防激光测量中样品局部过热和挥发恒温池,其特征在于,包括激光入射/出射口(1)、防滑刻线(2)、恒温液出口(3)、可拆卸螺栓(4)、恒温浴槽(5)、步进电机(6)、支架(7)、升降台(8)、步进电机转轴(9)、升降台机械旋钮(10)、步进电机控制旋钮(11)、恒温液入口(12)、防水轴承(13)、恒温液防溢口(14)、样品盘(15)、防挥发活动盖(16);所述的恒温池的池体上设置有防挥发活动盖(16),防挥发活动盖(16)上开设有激光入射/出射口(1),恒温池的池体壁一侧开设有恒温液出口(3),恒温池的池体壁另一侧开设有恒温液防溢口(14)、恒温液入口(12);恒温池池体内设置有样品盘(15),样品盘(15)内的样品池中设置有防滑刻线(2),样品盘(15)通过可拆卸螺栓(4)安装在步进电机(6)的步进电机转轴(9)上;所述的恒温池的池体通过支架(7)安装升降台(8)上,支架(7)上安装有控制步进电机(4)旋转速率的步进电机控制旋钮(11),升降台(8)上安装有控制升降台(8)上下移动的升降台机械旋钮(10)。

【技术特征摘要】
1.一种防激光测量中样品局部过热和挥发恒温池,其特征在于,包括激光入射/出射口(1)、防滑刻线(2)、恒温液出口(3)、可拆卸螺栓(4)、恒温浴槽(5)、步进电机(6)、支架(7)、升降台(8)、步进电机转轴(9)、升降台机械旋钮(10)、步进电机控制旋钮(11)、恒温液入口(12)、防水轴承(13)、恒温液防溢口(14)、样品盘(15)、防挥发活动盖(16);所述的恒温池的池体上设置有防挥发活动盖(16),防挥发活动盖(16)上开设有激光入射/出射口(1),恒温池的池体壁一侧开设有恒温液出口(3),恒温池的池体壁另一侧开设有恒温液防溢口(14)、恒温液入口(12);恒温池池体内设置有样品盘(15),样品盘(15)内的样品池中设置有防滑刻线(2),样品盘(15)通过可拆卸螺栓(4)安装...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘建川孟令炜陆洲
申请(专利权)人:中国科学院化学研究所
类型:新型
国别省市:北京,11

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