内联错误检测和校正技术制造技术

本发明专利技术公开了内联错误检测和校正技术。根据本技术的实施例，基于区域的选择性错误检测和校正技术提供了错误检测和错误校正(EDEC)保护的安全性以及用于不同用途的非EDEC保护的更高带宽和容量之间的权衡。

【技术实现步骤摘要】
内联错误检测和校正技术
技术介绍
随机存取存储器通常用于快速访问指令和数据。然而，诸如动态随机存取存储器(dynamicrandom-accessmemory，DRAM)的存储器容易受到存储器单元的状态(例如，软错误)的一次性更改(one-offchange)。因此，使用存储器错误检测和错误校正(errordetectionanderrorcorrection，EDEC)技术来防止这种软错误。EDEC还可以检测硬错误和永久性故障。EDEC通常用于多用户服务器、最大可用性系统、一些科学和金融计算应用、深空应用(由于辐射增加)以及车辆中的驾驶员辅助应用。然而，EDEC技术在大多数其他计算机系统中都不被利用，以降低成本。此外，EDEC技术由于存储EDEC代码所需的额外内存以及生成EDEC代码以及使用EDEC代码检测和校正错误所需的额外时间，从而降低性能。
技术实现思路
通过参考以下描述和附图可以最好地理解本技术。描述和附图用于说明本技术的实施例，其针对内联(inline)错误检测和校正(EDEC)技术。内联错误检测和校正技术包括存储器的一个或更多EDEC启用部分和一个或更多EDEC禁用部分。可以是存储器地址的函数的控制位可以指示对于存储器的相应部分是否启用或禁用EDEC。分配用于存储EDEC代码的存储器可以分配在每个相应的EDEC启用和EDEC禁用部分中、每个相应的EDEC启用和EDEC禁用部分内的多个子部分中的每一个中，或在存储器的单独的EDEC代码部分中。在写入操作期间，可以为存储器的EDEC启用部分生成并存储EDEC代码。然而，如果存储器的一部分是EDEC禁用部分，则不生成以及存储EDEC代码。在读取操作期间，可以从EDEC启用部分读取EDEC代码，并用于检测和校正其中的错误。这种技术，这里称为基于区域的选择性EDEC检查技术，减少了计算工作负载和存储器总线利用率，因为EDEC代码不被生成并存储用于存储器的EDEC禁用部分。同样地，由于EDEC代码不从存储器的EDEC禁用部分读取，所以计算工作负载和存储器总线利用率降低。在另一个实施例中，用于存储EDEC代码的存储器可以被分配给EDEC启用部分，而不分配给EDEC禁用部分。分配用于存储EDEC代码的存储器可以被分配在每个相应的EDEC启用部分中、每个相应的EDEC启用部分内的多个子部分中的每一个中，或在存储器的单独的EDEC代码部分中。在写入操作期间，可以为存储器的EDEC启用部分生成和存储EDEC代码。然而，如果存储器的一部分是EDEC禁用部分，则不生成以及存储EDEC代码。在读取操作期间，可以从EDEC启用部分读取EDEC代码，并用于检测和校正其中的错误。这种技术，这里称为基于区域的选择性EDEC映射技术，减少了计算工作负载和存储器总线利用率，因为EDEC代码不被生成并存储用于存储器的EDEC禁用部分。同样地，由于EDEC代码不从存储器的EDEC禁用部分读取，所以计算工作负载和存储器总线利用率降低。该技术允许增加存储空间利用率，因为用于存储EDEC代码的存储器不分配给EDEC禁用部分。在另一个实施例中，周期性EDEC技术可以应用于包括一个或更多EDEC启用部分和一个或更多EDEC禁用部分的存储器。特别地，周期性地选择存储器的多个EDEC启用部分中的每一个用于错误检测和错误校正。然后，将包含该字的任何校正的字或EDEC启用部分存储回存储器中。可以有利地在低系统利用期间执行周期性EDEC技术，同时在数据存储较长时间时减少多比特错误的机会。提供本
技术实现思路
以简化的形式介绍一些概念，这些概念将在下面的具体实施方式中进一步描述。本
技术实现思路
并不旨在标识所要求保护的主题的关键特征或基本特征。本
技术实现思路
也不旨在用于限制所要求保护的主题的范围。附图说明在附图中以示例而非限制的方式示出了本技术的实施例。图1示出了根据本技术的一个实施例的向存储器写入和读取数据的方法的流程图。图2示出了用于实现本技术实施例的存储器子系统的框图。图3A至图3C示出了根据本技术的另一实施例的由存储器子系统写入和读取数据的方法的流程图。图4A至4C示出了根据本技术的实施例的存储器空间的框图。图5A至5D示出了根据本技术的另一实施例的由存储器子系统写入和读取数据的方法的流程图。图6A至6C示出了根据本技术的其他实施例的存储器空间的框图。图7示出了根据本技术的另一个实施例的存储器子系统的错误检测和错误校正的方法的流程图。在附图中，相似的参考标号指代相似的元件。具体实施方式现在将详细参考本技术的实施例，其示例在附图中示出。虽然将结合这些实施例描述本技术，但是应当理解的是，它们并不旨在将本专利技术限制于这些实施例。相反，本专利技术旨在涵盖可以包括在由所附权利要求所限定的本专利技术的替代例、修改例和等同例的范围内。此外，在本技术的以下详细描述中，阐述了许多具体细节，以便提供对本技术的透彻理解。然而，应当理解的是，本技术可以在没有这些具体细节的情况下实施。在其他情况下，没有详细描述公知的方法、过程、组件和电路，以免不必要地模糊本技术的方面。根据一个或多个电子设备内的数据的例程、模块、逻辑块和操作的其它符号表示来呈现本技术的一些实施例。描述和表示是本领域技术人员用来最有效地将其工作的实质传达给本领域技术人员的手段。在这里程序、模块、逻辑块和/或类似物通常被认为是导致期望结果的过程或指令的自相一致的序列。这些过程是包括对物理量的物理操纵的过程。尽管不是必须地，通常，这些物理操纵采用能够在电子设备中存储、传送、比较和以其它方式操纵的电或磁信号的形式。为了方便起见，并且参考常用的用法，参考本技术的实施例，这些信号被称为数据、比特、值、元素、符号、字符、术语、数字、字符串和/或类似信息。但是，应该记住的是，所有这些术语都将被解释为引用物理操纵和数量。除非另有说明，或者从以下讨论诸如“接收”和/或类似的术语中可见，是指电子设备(诸如操纵和转换数据的电子计算设备)的动作和过程。数据被表示为电子设备的逻辑电路、寄存器、存储器等内的物理(例如，电子)量，并被转换成类似地表示为电子设备内的物理量的其他数据。在本申请中，反意连接词(disjunctive)的使用意图包括连接词(conjunctive)。使用定或不定冠词不是要表示基数。特别地，对“该(the)”或“一个(a)”对象的引用意图也表示可能的多个这样的对象之一。还应当理解的是，本文使用的措辞和术语是为了描述的目的，而不应被认为是限制性的。参考图1，根据本技术的一个实施例的将数据写入和读取到存储器的方法。写入和读取数据到存储器的方法提供了选择性内联错误检测和错误校正(EDEC)。将参考图2进一步说明内联错误检测和校正技术，其示出了用于实现本技术实施例的存储器子系统。该方法包括在110中接收存储器事务(transaction)。存储器事务包括给定地址A。存储器事务可以由存储器控制器210接收。存储器事务可以是对存储器阵列220的一部分的读取或写入。在120中确定存储器的分配。存储器控制器210确定作为地址A的函数的EDEC控制位的状态。EDEC控制位指示EDEC是启用还是禁用。存储器控制器210还有条件地确定作为给定地址A的函数的调整地址A调整(Aadjusted)。所调整的项包括本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种方法，包括：接收带有给定地址的存储器事务；确定EDEC控制状态；基于所述给定地址确定调整地址；基于所述给定地址确定EDEC地址；如果所述EDEC控制状态是启用并且所述存储器事务是写入，则计算EDEC代码；如果所述存储器事务是写入，则将数据存储在存储器的所述调整地址中；以及如果所述EDEC控制状态是启用并且所述存储器事务是写入，则将所述EDEC代码存储在所述存储器的所述EDEC地址中。

【技术特征摘要】
2016.11.01 US 15/340,9191.一种方法，包括：接收带有给定地址的存储器事务；确定EDEC控制状态；基于所述给定地址确定调整地址；基于所述给定地址确定EDEC地址；如果所述EDEC控制状态是启用并且所述存储器事务是写入，则计算EDEC代码；如果所述存储器事务是写入，则将数据存储在存储器的所述调整地址中；以及如果所述EDEC控制状态是启用并且所述存储器事务是写入，则将所述EDEC代码存储在所述存储器的所述EDEC地址中。2.根据权利要求1所述的方法，还包括：如果所述存储器事务是读取，则从所述存储器的所述调整地址中读取数据；如果所述EDEC控制状态是启用并且所述存储器事务是读取，则从所述存储器的所述EDEC地址读取对应于所述数据的EDEC代码；利用所述EDEC代码，应用EDEC算法来检测从所述存储器读取的所述数据中是否存在一个或更多可检测到的错误；如果所述EDEC控制状态是禁用并且所述存储器事务是读取，则输出从所述存储器读取的所述数据；如果在对应的字中没有检测到错误并且所述存储器事务是读取，则输出每个数据字；以及如果所述EDEC控制状态是启用并且所述存储器事务是读取，则调用操作以处理由所述EDEC算法检测到的每个错误。3.根据权利要求2所述的方法，其中根据所述给定地址确定所述EDEC控制状态。4.根据权利要求3所述的方法，其中根据存储器空间的多个区域和一个或更多EDEC保护区域以及一个或更多非EDEC保护区域中的每一个之间的映射确定所述EDEC控制状态。5.根据权利要求2所述的方法，其中用于存储所述EDEC代码的所述EDEC地址位于与所述给定地址的存储器空间相同区域内的段。6.根据权利要求5所述的方法，其中用于存储所述EDEC代码的所述EDEC地址进一步交错在与所述给定地址的所述存储器空间相同的子区域内。7.根据权利要求2所述的方法，其中用于存储所述EDEC代码的所述EDEC地址位于预定的EDEC代码区域中，其中所述预定的EDEC代码区域的多个段中的每一个对应于存储器空间的相应数据区域。8.根据权利要求1所述的方法，还包括：周期性地选择所述存储器的多个EDEC启用区域中的每一个；从所述存储器的所选择的EDEC启用区域读取数据；从所述存储器读取对应于所述所选择的EDEC启用区域的所述数据的EDEC代码；利用所述EDEC代码，应用EDEC算法以检测从所述存储器读取的、在所述所选择的EDEC启用区域中的所述数据是否存在一个或更多可检测到的错误；以及调用操作以处理由所述EDEC算法检测到的每...

【专利技术属性】
技术研发人员：迈克尔·沃瑟曼，玛纳斯·曼达尔，史蒂文·莫尔纳，杰伊·古谱塔，詹姆斯·M·范·戴克，约翰·韦尔斯福德·布鲁克斯，
申请(专利权)人：辉达公司，
类型：发明
国别省市：美国,US