一种集中测试装置、方法及系统制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种集中测试装置、方法及系统，其中装置包括：射频开关阵列单元，用于从基站的至少一路射频通路中选出至少一路目标测试通路，将选出的至少一路目标测试通路中的每一路目标测试通路连接至频谱测试仪和/或信号源；控制单元，用于获取到指令信息，以及基于所述指令信息控制所述射频开关阵列单元选取目标测试通路。

A centralized test device, method and system

The present invention discloses a centralized test device, method and system in which a radio frequency switch array unit is used to select at least one target test path from at least one radio frequency path of the base station, and to connect each of the selected test paths in at least one of the selected target test paths to the spectrum tester and / The control unit is used to obtain instruction information and to select the target test path based on the radio frequency switch array unit based on the instruction information control.

【技术实现步骤摘要】
一种集中测试装置、方法及系统
本专利技术涉及通信领域中的测试技术，尤其涉及一种集中测试装置、方法及系统。
技术介绍
为了适应5G多样的场景需求，随着近几年4G网络大规模的部署，移动网络性能得到了跨越式的提升，客观上培养了移动用户的使用习惯，同步提升了对网络更高速率、更低延迟需求。在5G移动通信系统中引入的更大规模的MIMO技术，通信设备的天线数由LTE时代最大8天线增大到64天线，乃至128以及更大规模的天线阵。能巨大提升无线速率流量，但由于5G移动基站的天线规模数巨大，并且一般采用一体化天线技术，由此给基站的测试造成了严峻的挑战。在基站系统测试中，一般要包含衰减器、线缆以及一些其他必要的射频测试器件及转接头，由于5G的端口及天线规模巨大，造成测试环境极为复杂，频繁的手动连接及切换测试通道造成了人工工作量极大，以及必然随之而来的不可靠性，都给5G基站测试带来了困难。目前在基站通信测试领域，有部分开关系统产品可以实现多通道的切换，但功能及集成度较低，未能集成必要的射频器件，需要另外搭建复杂的附加的测试环境，同时不支持多台级联，当通道数在目前的基础上再提升时需要升级测试系统。5G基站系统具有64路或者以上的通道数，且普遍采用天线一体化的设计，进行射频等指标测试时需要将天线断开，逐个连接射频收发通道，工作量巨大且稳定性较低。由于采用天线断开后转接的方式，设备无法或者不能可靠的进行振动、温湿等环境测试。除此之外，目前的产品操作方式人性化较差，不能很好的解决目前5G基站测试带来的上述挑战。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术的目的在于提供一种集中测试装置、方法及系统，能至少解决现有技术中存在的上述问题。为达到上述目的，本专利技术的技术方案是这样实现的：一种集中测试装置，所述装置包括：射频开关阵列单元，用于从基站的至少一路射频通路中选出至少一路目标测试通路，将选出的至少一路目标测试通路中的每一路目标测试通路连接至频谱测试仪和/或信号源；控制单元，用于获取到指令信息，以及基于所述指令信息控制所述射频开关阵列单元选取目标测试通路。一种集中测试方法，所述方法包括：射频开关阵列单元获取到指令信息，基于所述指令信息从与基站的至少一路射频通路中选取目标测试通路；所述射频开关阵列单元从所述至少一路射频通路中选出至少一路目标测试通路，将选出的至少一路目标测试通路中的每一路目标测试通路连接至频谱测试仪和/或信号源。一种集中测试系统，所述系统包括：集中测试装置以及转换罩；其中，所述集中测试装置，用于通过转换罩与基站的至少一路射频通路建立连接；获取到指令信息，以及基于所述指令信息控制所述射频开关阵列单元选取目标测试通路；从所述至少一路射频通路中选出至少一路目标测试通路，将选出的至少一路目标测试通路中的每一路目标测试通路连接至频谱测试仪和/或信号源；所述转换罩，用于与所述基站的至少一路射频通路建立连接。本专利技术实施例提供了一种集中测试装置、方法及系统，根据控制指令信息，从基站的至少一路射频通路中选出至少一路目标测试通路，将选出的至少一路目标测试通路中的每一路目标测试通路连接至频谱测试仪和/或信号源。如此，就能够使得装置具有更多的输入通道，集成度高，并且支持大规模MIMO基站的测试，还能够根据用户的指令信息进行控制，使得操作方便，并且效率较高。附图说明图1为本专利技术实施例集中测试装置结构示意图一；图2为本专利技术实施例集中测试装置结构示意图二；图3为集中测试装置的前面板示意图；图4为本专利技术实施例射频开关阵列单元示意图一；图5为本专利技术实施例集中测试装置结构示意图三；图6为本专利技术实施例集中测试装置使用在测试中的测试系统架构示意图；图7为集中测试装置的后面板示意图；图8为本专利技术实施例射频开关阵列单元示意图二；图9为本专利技术实施例集中测试方法流程示意图；图10为本专利技术实施例系统组成结构示意图；图11为本专利技术实施例转换罩前后面板示意图。具体实施方式下面结合附图及具体实施例对本专利技术再作进一步详细的说明。实施例一、本专利技术实施例提供了一种集中测试装置，如图1所示，包括：射频开关阵列单元11，用于从基站的至少一路射频通路中选出至少一路目标测试通路，将选出的至少一路目标测试通路中的每一路目标测试通路连接至频谱测试仪和/或信号源；控制单元12，用于获取到指令信息，以及基于所述指令信息控制所述射频开关阵列单元选取目标测试通路。集中测试装置的功能是输入端连接5G基站设备的64路天线口，经过内部开关交换后，将指定的某一路天线口与信号源和频谱仪连接。本专利技术中5G移基站设备与集中测试装置之间采用集束射频接口连接，采用集束射频接口后，5G基站设备的64路输出可简化为4路，大幅降低测试复杂度，提高测试效率及测试可靠性。本实施例中所述选取至少一个目标测试通路，可以为从所述64路射频通路中选取一个或四个。相应的，当选取一个目标测试通路时，可以连接一个频谱测试仪以及一个信号源；当选取四个目标测试通路时，可以连接四个频谱测试仪以及四个信号源。参见图2以及图3，所述集中测试装置具备前面板以及背板；所述装置还包括：显示单元13，用于提供交互操作界面，以及通过所述交互操作界面获取到操作信息；其中，所述交互操作界面能够显示在所述集中测试装置的所述前面板、且至少能够显示针对至少一个射频通路的选取操作界面；比如参见图3，在图3中可以看出显示单元的交互操作界面显示在前面板；相应的，所述控制单元12，具体用于解析所述操作信息，基于针对操作信息的解析结果获取到指令信息。其中，所述操作信息可以为显示单元获取到的触控操作信息。控制单元12，也就是主板(MCU)，用于接收用户输入的控制信息，将控制信息转化为开关动作信号，并将信号传递给从板。支持的用户输入方式包括：触摸控制、远程控制以及级联控制。进一步地，所述集中测试装置的前面板中至少设置有N个仪表连接头；其中，N为2的整数倍；相应的，所述射频开关阵列单元，用于通过N个仪表连接头中的至少两个射频接头分别将选出的至少一路目标测试通路中的每一路目标测试通路连接至频谱测试仪和/或信号源。图3所示为集中测试装置的前面板示图，前面板包括可触摸交互的高清显示屏，与信号源以及频谱仪连接的仪表连接头；由于本装置可以支持64选1、或者4个16选1，前面板的仪表连接头数量为8个，两两一组分别连接信号源及频谱仪。进一步地，参见图4，所述射频开关阵列单元，至少包括：第一开关子模块41，用于将选出的至少一路目标测试通路中的每一路目标测试通路连接至环形器；环形器43，用于提供N个测试连接口，以及通过所述N个测试连接口将从所述至少一路射频通路中选出的至少一路目标测试通路连接至所述N个仪表连接头。具体来说，射频开关阵列为本专利技术的核心部分，用于将用户指定的通道连接至测试仪表。第一开关子模块41支持最大64路输入。阵列中输入部分使用SP8T同轴射频开关，每八路输入信号连接至一个SP8T开关中。将每两个SP8T使用DPDT开关连接，组成四个模块，每个模块即支持通过环形器连接至仪表，也支持四个模块合一后通过环形器连接至仪表，提高了设备的通用性。设备即支持64选1(单独测试某一个通道)，也支持四个16选1(同时测试4个通道)。环形器的作用是实现射频信号的方向性导通，收发信号的隔离。进一步地，如图5所示，所述装本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种集中测试装置，其特征在于，所述装置包括：射频开关阵列单元，用于从基站的至少一路射频通路中选出至少一路目标测试通路，将选出的至少一路目标测试通路中的每一路目标测试通路连接至频谱测试仪和/或信号源；控制单元，用于获取到指令信息，以及基于所述指令信息控制所述射频开关阵列单元选取目标测试通路。

【技术特征摘要】
1.一种集中测试装置，其特征在于，所述装置包括：射频开关阵列单元，用于从基站的至少一路射频通路中选出至少一路目标测试通路，将选出的至少一路目标测试通路中的每一路目标测试通路连接至频谱测试仪和/或信号源；控制单元，用于获取到指令信息，以及基于所述指令信息控制所述射频开关阵列单元选取目标测试通路。2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述集中测试装置具备前面板；所述装置还包括：显示单元，用于提供交互操作界面，以及通过所述交互操作界面获取到操作信息；其中，所述交互操作界面能够显示在所述集中测试装置的所述前面板、且至少能够显示针对至少一个射频通路的内部逻辑通道的逻辑连接关系以及统段情况；相应的，所述控制单元，具体用于解析所述操作信息，基于针对操作信息的解析结果获取到指令信息。3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述集中测试装置的前面板中至少设置有N个仪表连接头；其中，N为2的整数倍；相应的，所述射频开关阵列单元，用于通过N个仪表连接头中的至少两个射频接头分别将选出的至少一路目标测试通路中的每一路目标测试通路连接至频谱测试仪和/或信号源。4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，所述射频开关阵列单元，至少包括：第一开关子模块，用于将选出的至少一路目标测试通路中的每一路目标测试通路连接至环形器；环形器，用于提供N个测试连接口，以及通过所述N个测试连接口将从所述至少一路射频通路中选出的至少一路目标测试通路连接至所述N个仪表连接头。5.根据权利要求1-4任一项所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：从控制单元，用于接收到所述控制单元的指令信息，将所述指令信息转换为控制电平，并发送所述控制电平至所述射频开关阵列单元；相应的，所述射频开关阵列单元，具体用于根据所述从控制单元发来的控制电平从第一开关子模块的所述至少一路射频通路中选出至少一路目标测试通路。6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述第一开关子模块，具体用于根据所述从控制单元控制针对所述至少一路目标测试通路进行下行测试时，将基站发来的射频下行测试信号输入至所述至少一路目标测试通路，将至少一路目标测试通路的下行输出信号通过与所述环形器的N个测试连接口连接的所述N个仪表连接头传输至频谱测试仪；和/或，所述第一开关子模块，具体用于根据所述从控制单元控制针对所述至少一路目标测试通路进行上行行测试时，通过与所述集中测试装置的前面板的N个...

【专利技术属性】
技术研发人员：付吉祥，张瑞艳，王大鹏，
申请(专利权)人：中国移动通信有限公司研究院，中国移动通信集团公司，
类型：发明
国别省市：北京,11