The embodiment of the invention provides a method and device for testing the safety of objects. The method includes: guiding the stimulated luminescence to the sample and collecting the first light signal from the sample to be measured and generating the first spectrum by the first light signal; after the predetermined time interval, the stimulated luminescence is guided again to the sample to be measured and the second light signal from the sample to be measured is collected and the second light signal is obtained. The number generates a second spectrum, and compares the first spectrum and the second spectrum to determine whether the sample to be tested is damaged.
【技术实现步骤摘要】
测试对象安全性检测方法和测试对象安全性检测设备
本专利技术的实施例涉及光谱检测领域,尤其涉及一种测试对象安全性检测方法和测试对象安全性检测设备。
技术介绍
光谱分析技术,例如,拉曼光谱分析技术、荧光光谱分析技术等等广泛应用于物质检测和分析。其中拉曼光谱分析技术是一种以拉曼散射效应为基础的非接触式光谱分析技术,它能对物质的成分进行定性、定量分析。拉曼光谱是一种分子振动光谱,它可以反映分子的指纹特征,可用于对物质的检测。拉曼光谱检测通过检测待测物对于激发光的拉曼散射效应所产生的拉曼光谱来检测和识别物质。拉曼光谱检测方法已经广泛应用于液体安检、珠宝检测、爆炸物检测、毒品检测、药品检测等领域。近年来,拉曼光谱分析技术在危险品检查和物质识别等领域得到了广泛的应用。在物质识别领域,由于各种物质的颜色、形状各异,人们通常无法准确判断物质的属性,而拉曼光谱由被检物的分子能级结构决定,因而拉曼光谱可作为物质的“指纹”信息,用于物质识别。因此拉曼光谱分析技术在海关、公共安全、食品药品、环境等领域有广泛应用。在实际的光谱分析中,往往需要使用具有一定能量的激发光,而由于待测样品的成分往往 ...
【技术保护点】
一种测试对象安全性检测方法,包括:将激发光引导至待测样品并收集来自所述待测样品的第一光信号并由所述第一光信号生成第一光谱;在预定时间间隔后再次将激发光引导至所述待测样品并收集来自所述待测样品的第二光信号并由所述第二光信号生成第二光谱;以及将所述第一光谱和所述第二光谱进行比较来确定所述待测样品是否损坏。
【技术特征摘要】
1.一种测试对象安全性检测方法,包括:将激发光引导至待测样品并收集来自所述待测样品的第一光信号并由所述第一光信号生成第一光谱;在预定时间间隔后再次将激发光引导至所述待测样品并收集来自所述待测样品的第二光信号并由所述第二光信号生成第二光谱;以及将所述第一光谱和所述第二光谱进行比较来确定所述待测样品是否损坏。2.根据权利要求1所述的方法,其中,所述将所述第一光谱和所述第二光谱进行比较来确定所述待测样品是否损坏包括:比较所述第一光谱的总体积分强度和所述第二光谱的总体积分强度的差异,在所述第一光谱的总体积分强度和所述第二光谱的总体积分强度的差异超出第一阈值的情况下,则确定待测样品已损坏;反之,则确定待测样品未损坏。3.根据权利要求1所述的方法,其中,所述将所述第一光谱和所述第二光谱进行比较来确定所述待测样品是否损坏包括:分别提取所述第一光谱的荧光包络和所述第二光谱的荧光包络;以及将所述第一光谱的荧光包络和所述第二光谱的荧光包络进行比较来确定所述待测样品是否损坏。4.根据权利要求3所述的方法,其中,所述将所述第一光谱的荧光包络和所述第二光谱的荧光包络进行比较来确定所述待测样品是否损坏包括:检测所述第一光谱的荧光包络中的一个或更多个峰的位置和强度以获得一个或更多个第一考察荧光强度;检测所述第二光谱的荧光包络中与所述一个或更多个峰的位置对应的位置处的强度以获得一个或更多个第二考察荧光强度;在所述第一考察荧光强度和所述第二考察荧光强度的差异超出第二阈值的情况下,则确定待测样品已损坏;反之,则确定待测样品未损坏。5.根据权利要求1至4中任一项所述的方法,其中,所述将所述第一光谱和所述第二光谱进行比较来确定所述待测样品是否损坏包括:分别提取所述第一光谱中的拉曼光谱特征峰和所述第二光谱中的拉曼光谱特征峰;以及将所述第一光谱中的拉曼光谱特征峰的位置和所述第二光谱中的拉曼光谱特征峰的位置进行比较,在所述第一光谱中的拉曼光谱特征峰的位置与所述第二光谱中的拉曼光谱特征峰的位置的差异大于第三阈值的情况下,则确定待测样品已损坏。6.根据权利要求1至4中任一项所述的方法,其中,所述将所述第一光谱和所述第二光谱进行比较来确定所述待测样品是否损坏包括:分别提取所述第一光谱中的拉曼光谱特征峰和所述第二光谱中的拉曼光谱特征峰;以及将所述第一光谱中的拉曼光谱特征峰的强度和所述第二光谱中的拉曼光谱特征峰的强度进行比较,在所述第一光谱中的拉曼光谱特征峰的强度与所述第二光谱中的拉曼光谱特征峰的强度的差异大于第四阈值的情况下,则确定待测样品已损坏。7.根据权利要求1至4中任一项所述的方法,其中,所述将所述第一光谱和所述第二光谱进行比较来确定所述待测样品是否损坏包括:计算第一光谱和第二光谱的相似度,在所述第一光谱和所述第二光谱的相似度小于第五阈值的情况下,则确定待测样品已损坏;反之,则确定待测样品未损坏。8.根据权利要求1所述的方法,其中,所述将所述第一光谱和所述第二光谱进行比较来确定所述待测样品是否损坏包括:比较所述第一光谱的总体积分强度和所述第二光谱的总体积分强度的差异,在所述第一光谱的总体积分强度和所述第二光谱的总体积分强度的差异超出第一阈值的情况下,则确定待测样品已损坏;反之,则执行如下步骤:分别提取所述第一光谱的荧光包络和所述第二光谱的荧光包络;检测所述第一光谱的荧光包络中的一个或更多个峰的位置和强度以获得一个或更多个第一考察荧光强度;检测所述第二光谱的荧光包络中与所述一个或更多个峰的位置对应的位置处的强度以获得一个或更多个第二考察荧光强度;在所述第一考察荧光强度和所述第二考察荧光强度的差异超出第二阈值的情况下,则确定待测样品已损坏;反之,则执行以下步骤:分别提取所述第一光谱中的拉曼光谱特征峰和所述第二光谱中的拉曼光谱特征峰;将所述第一光谱中的拉曼光谱特征峰的位置和所述第二光谱中的拉曼光谱特征峰的位置进行比较,在所述第一光谱中的拉曼光谱特征峰的位置与所述第二光谱中的拉曼光谱特征峰的位置的差异大于第三阈值的情况下,则确定待测样品已损坏...
【专利技术属性】
技术研发人员:张建红,王红球,左佳倩,刘海辉,
申请(专利权)人:同方威视技术股份有限公司,
类型:发明
国别省市:北京,11
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