显示面板不良的解析方法技术

提供了一种显示面板不良的解析方法，所述解析方法包括：观察显示面板上是否存在显示异常的压面线，如果存在显示异常的压面线，则通过对显示面板上的压面线进行镭射来对造成压面线的异物进行初步定位。所述解析方法能够减少解析过程中所花费的时间，降低解析失败概率，同时提高解析准确度。

【技术实现步骤摘要】
显示面板不良的解析方法
本专利技术涉及对显示异常的显示面板进行解析的领域，更具体地说，涉及一种显示面板不良的解析方法。
技术介绍
随着光电与半导体技术的演进，也带动了平板显示器(FPD)的蓬勃发展，而在诸多平板显示器中，液晶显示器(LCD)因具有高空间利用效率、低消耗功率、无辐射以及低电磁干扰等诸多优越特性，已成为市场的主流。现有市场上的液晶显示器大部分为背光型液晶显示器，其主要包括液晶显示面板和背光源。液晶显示面板包括具有彩色滤光片基板(CF)、薄膜晶体管阵列基板以及设置在所述两个基板之间的液晶层。通常，在彩色滤光片基板上会涂布有黑色矩阵、RGB彩色滤光片和导电氧化物电极(通常为氧化铟锡(ITO))，在薄膜晶体管阵列基板上会形成提供扫描信号的扫描线、提供数据信号的数据线以及像素电极。液晶显示器通过对导电氧化物电极和像素电极施加电压而在液晶层中产生电场，通过产生的电场确定液晶层的液晶分子的取向，并且控制入射光的偏振以显示图像。在现有的生产制备中，在彩色滤光片基板上形成彩色滤光片的CF制程以及液晶成盒的cell制程期间会有一些金属等的异物掉落。当异物掉落到液晶显示器的显示区中时，会导致本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种显示面板不良的解析方法，其特征在于，所述解析方法包括：观察显示面板上是否存在显示异常的压面线，如果存在显示异常的压面线，则通过对显示面板上的压面线进行镭射来对造成压面线的异物进行初步定位。

【技术特征摘要】
1.一种显示面板不良的解析方法，其特征在于，所述解析方法包括：观察显示面板上是否存在显示异常的压面线，如果存在显示异常的压面线，则通过对显示面板上的压面线进行镭射来对造成压面线的异物进行初步定位。2.如权利要求1所述的解析方法，其特征在于，对显示面板上的压面线进行镭射的步骤包括：从显示面板的顶端由上至下进行分段镭射，直至压面线中的下部的异常显示消失，从而根据最后一个镭射点与上一个镭射点确定出异物的位置。3.如权利要求1所述的解析方法，其特征在于，观察到存在的显示异常的压面线上具有显示亮度不同于压面线上的其他点的亮度的异常点之后，对显示面板上的压面线进行镭射的步骤包括：对异常点的前端和末端镭射，从而根据镭射在所述前端和所述末端的镭射点确定出异物的位置。4.如权利要求1所述的解析方法，其特征在于，观察到压面线的亮度显示一致之后，对显示面板上的压面线进行镭射的步骤包括：从显示面...

【专利技术属性】
技术研发人员：薛永涛，蔡荣茂，庄益壮，
申请(专利权)人：深圳市华星光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44