双入射狭缝高分辨率成像光谱系统技术方案

本专利公开了一种双入射狭缝高分辨率成像光谱系统，它由双入射缝、分光子系统以及探测子系统构成，其中分光子系统包含主反射镜、凸面光栅、次反射镜以及校正透镜，探测子系统包含滤光片以及面阵探测器。系统具有高分辨率、快速重访时间、较低成本以及空间系统高集成化。双缝结构使系统实现一次观测同时获得两个目标区域的光谱信息，缩短重访时间；通过主反射镜、凸面光栅、次反射镜同心的设计方法，可以减小系统像差，提高系统分辨率。

High resolution imaging system with double incidence slit

A dual incidence slit high-resolution imaging system is presented in this patent. It consists of a double incident, a photon separation system and a detection subsystem. The sub photon system consists of a main reflector, a convex grating, a sub reflector and a correction lens. The detection subsystem includes a filter and a surface array detector. The system has high resolution, fast revisit time, low cost and high integration of space system. The double slit structure enables the system to realize one time observation and obtain the spectral information of two target regions at the same time and shorten revisit time. The system can reduce the system aberration and improve the system resolution by the design method of the concentric concentric of the main reflector, the convex grating and the sub reflector.

【技术实现步骤摘要】
双入射狭缝高分辨率成像光谱系统
本专利涉及一种双缝入射成像光谱系统，特别涉及一种可以用于地面望远镜系统、星载、机载的光谱成像仪的高分辨率、高像质、长狭缝、快速重访时间的光学系统设计。
技术介绍
光谱成像仪于20世纪80年代在多光谱遥感成像技术基础上发展起来，能够以高光谱分辨率获取景物和目标的超多谱段图像，在大气、海洋和陆地观测中有着广泛的应用。光谱成像仪是成像技术和光谱技术的有机结合，通过在连续成像空间上进行连续光谱测量对目标进行“定性、定量、定时、定位”分析和动态过程检测，实现了获得物体空间信息的同时可以得到目标的光谱信息。光谱成像系统中的分光模式有色散型和干涉型，色散型所使用的色散元件主要有：色散棱镜、干涉滤光片、平面闪耀光栅等。棱镜分光光谱成像仪会形成谱线弯曲；干涉分光光谱成像仪的力学、热学稳定性对干涉谱的准确性影响较大，而且在轨光谱定标难度大。因此光栅色散成像光谱仪比棱镜、滤波器、干涉型等其他类型成像光谱仪具有显著优点。传统光栅色散型成像光谱仪的主要限制因素是当系统孔径大时，会产生较大的光学畸变、高衍射级次的杂散光等，严重影响了光谱纯度并限制了后期数据处理算法的精确度。凹面光本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种双入射狭缝高分辨率成像光谱系统，包括双入射狭缝(1)、凹面反射主镜(2)、凸面反射光栅(3)、凹面反射次镜(4)、校正透镜(5)、滤光片(6)、面阵探测器(7)，其中凹面反射主镜(2)、凸面反射光栅(3)、凹面反射次镜(4)、校正透镜(5)构成分光子系统；滤光片(6)、面阵探测器(7)构成探测子系统，其特征在于：系统光阑位于凸面反射光栅(3)上，来自目标的双条带型辐射信号经过前端望远镜系统后分别成像于双入射狭缝(1)上，透过双狭缝的辐射能量经由凹面反射主镜(2)，反射到凸面反射光栅(3)上，把不同波长的光分开，不同波长的光线在凸面反射光栅(3)反射出后，沿着不同的角度反射至凹面反射次镜(4...

【技术特征摘要】
2017.01.19 CN 20171003734431.一种双入射狭缝高分辨率成像光谱系统，包括双入射狭缝(1)、凹面反射主镜(2)、凸面反射光栅(3)、凹面反射次镜(4)、校正透镜(5)、滤光片(6)、面阵探测器(7)，其中凹面反射主镜(2)、凸面反射光栅(3)、凹面反射次镜(4)、校正透镜(5)构成分光子系统；滤光片(6)、面阵探测器(7)构成探测子系统，其特征在于：系统光阑位于凸面反射光栅(3)上，来自目标的双条带型辐射信号经过前端望远镜系统后分别成像于双入射狭缝(1)上，透过双狭缝的辐射能量经由凹面反射主镜(2)，反射到凸面反射光栅(3)上，把不同波长的光...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱雨霁，尹达一，魏传新，
申请(专利权)人：中国科学院上海技术物理研究所，
类型：新型
国别省市：上海,31