平整度检测设备制造技术

本公开是关于一种平整度检测设备，包括：导电结构，导电结构上表面与承载部正面的形状相同且面积相等，且导电结构的高度值小于承载部相对于边框的深度值，在设置框架时，若承载部凸起，导电结构与承载部相接触；供电单元，电连接于导电结构，用于向导电结构传输电信号；检测单元，用于在框架设置在设备中时，电连接于承载部的背面，用于检测电信号；连接单元，用于电连接导电结构和检测单元；提示单元，电连接于检测单元，用于在检测单元检测到电信号时，生成提示信息。根据本公开的实施例，检测平整度的过程中人工参与的步骤较少，并且无需人眼观察框架是否平整，因此一方面可以提高检测效率，另一方面可以提高检测结果的准确度。

Flatness testing equipment

The present disclosure is about a kind of flatness detection equipment, including: conductive structure, the surface of the conductive structure is the same as the front of the bearing section, and the area is equal, and the height value of the conductive structure is less than the depth value of the bearing section relative to the border. An electrical unit, connected to a conductive structure, used in a guide electrical structure to transmit electrical signals; a detection unit, used to connect electrical connections to the back of the bearing section and to detect electrical signals when the frame is set up in a device; a connection unit is used to electrically connect a conductive structure and a detection unit; a prompt unit is connected to a detection unit, and used for a detection unit. When the detection unit detects the electrical signal, the prompt information is generated. According to the embodiment of the present disclosure, the steps of manual participation in the detection of flatness are less, and the human eye observation frame is not required to be smooth, so the detection efficiency can be improved on the one hand and the accuracy of the detection results can be improved on the other.

【技术实现步骤摘要】
平整度检测设备
本公开涉及终端
，尤其涉及平整度检测设备。
技术介绍
目前检测框体的平整度，主要是通过滑块结合人工检测。例如图1所示，可以将一表面平整的滑块放在框体中，然后滑动滑块，并在滑动滑块的过程中，通过人眼观察滑块是否被框架顶起，据此确定框架是否平整。由于检测过程完全由人工执行，检测效率较低，并且需要人眼判定，检测误差较大。
技术实现思路
本公开提供平整度检测设备，以解决相关技术中的不足。根据本公开实施例的第一方面，提供一种平整度检测设备，用于检测框架的平整度，所述框架包括边框和设置在所述边框内的承载部，所述设备包括：导电结构，所述导电结构上表面与所述承载部正面的形状相同且面积相等，且所述导电结构的高度值小于所述承载部相对于所述边框的深度值，在设置所述框架时，若所述承载部凸起，所述导电结构与所述承载部相接触；供电单元，电连接于所述导电结构，用于向所述导电结构传输电信号；检测单元，用于在所述框架设置在所述设备中时，电连接于所述承载部的背面，用于检测电信号；连接单元，用于电连接所述导电结构和所述检测单元；提示单元，电连接于所述检测单元，用于在所述检测单元检测到电信号时，生成提示信息。可选地，所述平整度检测设备还包括：检测平台，其中，所述导电结构设置在所述检测平台上。可选地，所述平整度检测设备还包括：定位单元，设置在所述检测平台上异于所述导电结构的位置，与所述边框中的过孔相对应，在所述框架设置在所述设备中时，穿过所述过孔。可选地，所述平整度检测设备还包括：盖板，可转动地连接于所述检测平台，其中，所述连接单元设置在所述盖板上，所述检测单元设置在所述盖板靠近所述检测平台的一侧，且在所述盖板盖于所述检测平台时，电连接于所述承载部的背面。可选地，所述提示单元设置在所述盖板远离所述检测平台的一侧。可选地，所述平整度检测设备还包括：紧固单元，设置在所述盖板靠近所述检测平台的一侧，与所述边框的骨位相对应。可选地，所述检测单元在垂直于所述导电结构的方向为可伸缩的。可选地，所述平整度检测设备还包括：绝缘区域，设置在所述导电结构的边缘。可选地，所述提示信息包括光信息、声音信息和/或文字信息。本公开的实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果：根据上述实施例可知，由于导电结构的上表面与承载部正面的形状相同且面积相等，在框架设置在设备中时，在承载部凸起的情况下导电结构的上表面与承载部相接触。因此在承载部凸起的情况下，当将检测单元电连接于承载部的背面，即可通过承载部将导电结构和检测单元导通，从而形成导电回路，进而可以使得提示单元在检测单元上检测到电信号，并生成提示信息，用户根据提示信息即可确定框架是否平整。检测平整度的过程中人工参与的步骤较少，并且无需人眼观察框架是否平整，因此一方面可以提高检测效率，另一方面可以提高检测结果的准确度。应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本公开。附图说明此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本公开的实施例，并与说明书一起用于解释本公开的原理。图1是相关技术中一种检测平整度的方法的示意图。图2是根据一示例性实施例示出的一种平整度检测设备的示意结构图。图3是根据一示例性实施例示出的一种框架的示意结构图。图4是根据一示例性实施例示出的通过图2所示的平整度检测设备检测图3所示的框架的平整度的示意图。图5是根据一示例性实施例示出的另一种平整度检测设备的示意结构图。图6是根据一示例性实施例示出的另一种框架的示意结构图。图7是根据一示例性实施例示出的通过图5所示的平整度检测设备检测图6所示的框架的平整度的示意图。图8是根据一示例性实施例示出的又一种平整度检测设备的示意结构图。图9是根据一示例性实施例示出的又一种平整度检测设备的示意结构图。图10是根据一示例性实施例示出的盖板的示意结构图。图11是根据一示例性实施例示出的又一种平整度检测设备的示意结构图。具体实施方式这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本公开相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本公开的一些方面相一致的装置和方法的例子。图2是根据一示例性实施例示出的一种平整度检测设备的示意结构图。图3是根据一示例性实施例示出的一种框架的示意结构图。图4是根据一示例性实施例示出的通过图2所示的平整度检测设备检测图3所示的框架的平整度的示意图。图2所示实施例中的设备可以用于检测框架的平整度。所述框架包括边框和设置在所述边框内的承载部。如图2所示，所述平整度检测设备包括：导电结构21，所述导电结构21上表面与所述承载部正面的形状相同且面积相等，且所述导电结构21的高度值小于所述承载部相对于所述边框的深度值，在设置所述框架时，若所述承载部凸起，所述导电结构与所述承载部相接触。在一个实施例中，如图3所示，所述框架3包括边框31和设置在所述边框内的承载部32，其中，框架可以是手机中的框架、平板电脑中的框架、电视中的框架等，框架中的承载部可以由金属材料制成，可以用于承载显示面板，例如液晶面板，有机发光二极管面板。以下主要在框架为手机中的框架的情况下，对本公开的技术方案进行示例性说明。在一个实施例中，导电结构上表面的形状与承载部的形状相同，且面积相等，保证在按照图4所示的方式将承载部正面朝向导电结构将框体设置在导电结构上时，导电结构能够完全嵌入承载部正面，并且框体被导电结构固定。进一步地，导电结构的高度值可以小于承载部相对于边框的深度值，以保证承载部未凸起的情况下，包括承载部平整和承载部凹陷(也即承载部朝承载部背面凸起)两种情况，导电结构与承载部相距预设距离(也即上述深度和高度的差值，该差值可以根据需要进行设置，例如设置为0.03毫米)不相接触，从而保证仅在承载部凸起(也即承载部超承载部正面凸起)的情况下，导电结构才与承载部相接触。供电单元(图中未示出)，电连接于所述导电结构21，用于向所述导电结构21传输电信号。在一个实施例中，供电单元可以向导电结构传输电压信号，也可以传输电流信号。检测单元22，用于在所述框架设置在所述设备中时，电连接于所述承载部32的背面，用于检测电信号。在一个实施例中，检测单元可以是金属探针。连接单元23，用于电连接所述导电结构21和所述检测单元22。在一个实施例中，连接单元可以是导线。提示单元24，电连接于所述检测单元22，用于在所述检测单元22检测到电信号时，生成提示信息。在一个实施例中，提示单元可以如图2所示设置在检测单元上，也可以根据需要设置其位置。在一个实施例中，由于导电结构的上表面与承载部正面的形状相同且面积相等，在框架设置在设备中时，在承载部凸起的情况下导电结构的上表面与承载部相接触。因此在承载部凸起的情况下，当将检测单元电连接于承载部的背面，即可通过承载部将导电结构和检测单元导通，从而形成导电回路，进而可以使得检测单元检测到电信号，并使得提示单元生成提示信息，用户根据提示信息即可确定框架是否平整。由于本实施例根据导电结构、框体的承载部、连接单元和检测单元是否形成导电回路来判断框架是否平整，检测过程中本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种平整度检测设备，用于检测框架的平整度，所述框架包括边框和设置在所述边框内的承载部，其特征在于，包括：导电结构，所述导电结构上表面与所述承载部正面的形状相同且面积相等，且所述导电结构的高度值小于所述承载部相对于所述边框的深度值，在设置所述框架时，若所述承载部凸起，所述导电结构与所述承载部相接触；供电单元，电连接于所述导电结构，用于向所述导电结构传输电信号；检测单元，用于在所述框架设置在所述设备中时，电连接于所述承载部的背面，用于检测电信号；连接单元，用于电连接所述导电结构和所述检测单元；提示单元，电连接于所述检测单元，用于在所述检测单元检测到电信号时生成提示信息。

【技术特征摘要】
1.一种平整度检测设备，用于检测框架的平整度，所述框架包括边框和设置在所述边框内的承载部，其特征在于，包括：导电结构，所述导电结构上表面与所述承载部正面的形状相同且面积相等，且所述导电结构的高度值小于所述承载部相对于所述边框的深度值，在设置所述框架时，若所述承载部凸起，所述导电结构与所述承载部相接触；供电单元，电连接于所述导电结构，用于向所述导电结构传输电信号；检测单元，用于在所述框架设置在所述设备中时，电连接于所述承载部的背面，用于检测电信号；连接单元，用于电连接所述导电结构和所述检测单元；提示单元，电连接于所述检测单元，用于在所述检测单元检测到电信号时生成提示信息。2.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，还包括：检测平台，其中，所述导电结构设置在所述检测平台上。3.根据权利要求2所述的设备，其特征在于，还包括：定位单元，设置在所述检测平台上异于所述导电结构的位置，与所述边框中...

【专利技术属性】
技术研发人员：姜红光，
申请(专利权)人：北京小米移动软件有限公司，
类型：新型
国别省市：北京,11