照射量管理装置以及照射量管理方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种用于合适地管理检查对象物上的每个部件的照射量的技术。本发明专利技术的照射量管理装置，根据X射线检查中的射线源和检查对象物之间的位置关系以及从射线源照射的X射线的强度，计算出作为检查对象物射线源侧的面的第一面的照射量的分布和作为检查对象物的射线源的相反一侧的面的第二面的照射量的分布，并根据第一面和第二面各自的照射量分布和多个部件各自的配置，计算出每个部件的照射量。

【技术实现步骤摘要】
照射量管理装置以及照射量管理方法
本专利技术涉及一种工业用X射线检查装置，特别地，涉及管理进行X射线检查的电子部件的照射量的技术。
技术介绍
已知具有如下工业用X射线检查装置，其向检查对象物照射X射线，并使用其透射图像或CT图像检测工业制品的不良或缺陷。这样的X射线检查装置具有能够以非破坏的方式检查从外观难以识别的部位、对象物内部的状态的优点，例如，被应用于表面安装基板的接合不良的检查、部件内部裂纹或模具不良的检查、电子设备的全数检查等各种检查。即使是电子设备等工业制品，当照射量超过容许限度时也有性能劣化或发生故障的可能性。因此，对于制造商来说，希望合适地使用X射线检查的剂量、方法、次数等，以使照射量不超过容许限度。在工业制品之中，需要特别注意电气/电子部件(以下简称“部件”)。这是因为，大多数情况下部件会经过部件制造商的检查、设备制造商的检查、最终产品制造商的检查等多个X射线检查工序，即使某一个制造商或工序中的照射量低于容许限度，但是，若直到最终产品的累计照射量越多，就会有引起缺陷的可能性。另外，在检查对象物是包括多个部件的物体(例如，表面安装基板、电子设备及其模块、搭载在部件托盘本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种照射量管理装置，具有：照射量计算部，计算检查对象物通过X射线检查所受到的照射量，信息输出部，输出与所述检查对象物的照射量相关的信息，所述照射量管理装置的特征在于，所述检查对象物包含多个部件，所述照射量计算部基于所述X射线检查中的射线源和所述检查对象物之间的位置关系以及由所述射线源照射的X射线的强度，计算出作为所述检查对象物的所述射线源侧的面的第一面的照射量的分布和作为所述检查对象物的所述射线源的相反一侧的面的第二面的照射量的分布，所述照射量计算部基于所述第一面和所述第二面各自的所述照射量的分布和所述多个部件各自的配置，计算出每个部件的照射量。

【技术特征摘要】
2016.10.13 JP 2016-2018381.一种照射量管理装置，具有：照射量计算部，计算检查对象物通过X射线检查所受到的照射量，信息输出部，输出与所述检查对象物的照射量相关的信息，所述照射量管理装置的特征在于，所述检查对象物包含多个部件，所述照射量计算部基于所述X射线检查中的射线源和所述检查对象物之间的位置关系以及由所述射线源照射的X射线的强度，计算出作为所述检查对象物的所述射线源侧的面的第一面的照射量的分布和作为所述检查对象物的所述射线源的相反一侧的面的第二面的照射量的分布，所述照射量计算部基于所述第一面和所述第二面各自的所述照射量的分布和所述多个部件各自的配置，计算出每个部件的照射量。2.根据权利要求1所述的照射量管理装置，其特征在于，所述检查对象物包括双面安装基板，该双面安装基板具有印刷基板、配置于该印刷基板的所述第一面的部件、配置于所述印刷基板的所述第二面的部件。3.根据权利要求2所述的照射量管理装置，其特征在于，所述照射量计算部考虑所述印刷基板对X射线的吸收，来计算出所述第二面的照射量的分布。4.根据权利要求2或3所述的照射量管理装置，其特征在于，所述照射量计算部考虑配置于所述第一面的部件对X射线的吸收，来计算出所述第二面的照射量的分布。5.根据权利要求1～4中任一项所述的照射量管理装置，其特征在于在一次X射线检查中进行多次X射线照射的情况下，所述照射量计算部计算出每次X射线照射的照射量并进行累计相加，从而计算出一次X射线检查的照射量的分布。6.根据权利要求1～5中任一项所述的照射量管理装置，其特征在于，还具有判定部，该判定部基于由所述照射量计算部计算出的每个部件的照射量，针对每个部件判定照射量是否在容许量内。7.根据权利要求1...

【专利技术属性】
技术研发人员：大西贵子，杉田信治，
申请(专利权)人：欧姆龙株式会社，
类型：发明
国别省市：日本,JP