用于探测信号脉冲的方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种用于探测在粒子计数器的模拟的测量信号(1)中的信号脉冲(2)的装置。该装置具有模数转换器(6)和评估单元(10)，其中，该评估单元(10)具有斜率评估单元(16)，该斜率评估单元通过评估在模数转换器(6)的数字的数据流(7)中相邻的采样(8)之间的斜率来实时确定信号脉冲(2)。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于探测信号脉冲的方法和装置
本专利技术涉及一种用于探测粒子计数器的模拟的测量信号中的信号脉冲的装置，其中，该装置具有模数转换器和评估单元。此外，本专利技术还涉及该装置的应用和一种用于用该装置探测模拟的测量信号中的信号脉冲的方法。
技术介绍
粒子计数器通常具有光毯(Lichtteppich)，多半分散的粒子流被引导通过该光毯，其中，每一个粒子在经过光毯时产生散射光，所述散射光由光传感器探测到。为了改善可测性，粒子通常事先穿过一个冷凝单元，在该冷凝单元中冷凝微滴长在粒子上。基于冷凝微滴的较大的尺寸和一致性，相比直接测量粒子能实现可计数性。由于光毯的高斯形的光强度分布，经过的粒子产生了同样高斯形的信号脉冲。在优化情况下，每个单个粒子提供单个的散射光脉冲，这对应零星出现的信号脉冲的时间变化走向。在此可以通过泊松分布确定离散事件的统计学概率分布。若粒子之间的在时间上的间隔过小，则出现重合。在此，由几乎前后相继的粒子产生的信号脉冲在信号技术上重叠成一个唯一的信号脉冲并且不再能作为两个单独事件加以分离。光传感器产生一个模拟的测量信号，评估该模拟的测量信号以用于对信号脉冲进行探测和计数。在此通常限本文档来自技高网...

【技术保护点】
用于探测在粒子计数器的模拟的测量信号(1)中的信号脉冲(2)的装置，其中，该装置具有模数转换器(6)和评估单元(10)，其特征在于，该评估单元(10)具有斜率评估单元(16)，该斜率评估单元通过评估在模数转换器(6)的数字的数据流(7)中相邻的采样(8)之间的斜率来实时确定信号脉冲(2)。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2015.08.12 AT A50716/20151.用于探测在粒子计数器的模拟的测量信号(1)中的信号脉冲(2)的装置，其中，该装置具有模数转换器(6)和评估单元(10)，其特征在于，该评估单元(10)具有斜率评估单元(16)，该斜率评估单元通过评估在模数转换器(6)的数字的数据流(7)中相邻的采样(8)之间的斜率来实时确定信号脉冲(2)。2.按照权利要求1所述的装置，其特征在于，所述模数转换器(6)以超过50MSPS，优选在50和105MSPS之间的范围内的采样率(fs)产生所述数字的数据流(7)。3.按照权利要求1或2所述的装置，其特征在于，在集成电路中，优选在现场可编程门阵列(11)中实施对所述信号脉冲(2)的探测。4.按照权利要求1至3任一项所述的装置，其特征在于，评估单元(10)具有探测单元(17)，该探测单元在一系列采样(8)满足参数组的条件时探测信号脉冲(2)，其中，所述参数组包括从最小边沿上升(min_incr)、最小上升持续时间(peak_valid)和/或最小边沿下降(min_decr)中选出的至少一个参数。5.按照权利要求1至4任一项所述的装置，其特征在于，评估单元(10)具有阈单元(18)，该阈单元将低于限定的探测阈(thrhld)时的采样(8)从评估中剔除。6.按照权利要求1至5任一项所述的装置，其特征在于，评估单元(10)具有漂移探测单元，该漂移探测单元确定并评估用于探测和/或评估测量信号(1)的漂移行为的标准。7.按照权利要求6所述的装置，其特征在于，用于探测和/或评估漂移行为的标准包括背景光(Vcomp)的变化、平均信号脉冲幅值(Apeak)和/或平均信号脉冲持续...

【专利技术属性】
技术研发人员：G·布伦霍费尔，
申请(专利权)人：AVL里斯脱有限公司，
类型：发明
国别省市：奥地利,AT